【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 （ 例如：平均值圖上 1個(gè)刻度代表 ，則在極差圖上 1個(gè)刻度代表 ） 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點(diǎn)描好后及時(shí)用直線聯(lián)接，瀏覽各點(diǎn)是否 合理，有無很高或很低的點(diǎn)，并檢查計(jì)算及畫圖是否正確。 52 確保所畫的 X 和 R點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的。 注： 對(duì)于還沒有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 2 計(jì)算控制限 3 首先計(jì)算極差的控制限，再計(jì)算均值的控制限 。 4 5 21 計(jì)算平均極差（ R）及過程均值（ X） 6 R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數(shù)量） 7 8 X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 9 22 計(jì)算控制限 10 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均 11 值和極差的變化和范圍?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 12 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 13 計(jì)算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 LCLx=X A2R LCLR=D3R 16 接上頁(yè) 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對(duì)于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對(duì)于一個(gè)樣本數(shù)為 6的子組， 6個(gè)“同樣的”測(cè)量結(jié)果是可能成立的。 23 在控制圖上作出均值和極差控制限的控制線 ? 平均極差和過程均值用畫成實(shí)線。 ? 各控制限畫成虛線。 ? 對(duì)各條線標(biāo)上記號(hào)（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應(yīng)注明試驗(yàn)控制限。 3 過程控制分析 4 分析控制圖的目的在于識(shí)別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。 5 （即其中之一或兩者均不受控）進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧? 6 7 注 1： R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進(jìn)行比較，了解影響過程 8 的特殊原因。 9 注 2： 因?yàn)樽咏M極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 10 因此，首先應(yīng)分析 R圖。 31 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 311 超出控制限的點(diǎn) a 出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何控制限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù) ， 應(yīng)分析 。 b 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ） 測(cè)量系統(tǒng)變化 （ 如：不同的檢驗(yàn)員或量具 ） c 有一點(diǎn)位于控制限之下 ， 說明存在下列情況的一種或多種 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 分布的寬度變小 （ 變好 ） 測(cè)量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 不受控制的過程的極差（有超過控制限的點(diǎn)） UCL LCL UCL LCL R R 受控制的過程的極差 312 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢(shì)： ? 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)； ? 連續(xù) 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： a1 輸出值的分布寬度增加 ， 原因可能是無規(guī)律的 （ 例如：設(shè)備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜?dòng) ） 或是由于過程中的某要素變化 （ 如使用新 的不一致的原材料 ） ， 這些問題都是常見的問題 ， 需要糾正 。 a2 測(cè)量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗(yàn)人或新的量具 )。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 b2 測(cè)量系統(tǒng)的改好。 注 1： 當(dāng)子組數(shù)（ n）變得更?。?5或更小）時(shí)，出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加，則 8點(diǎn)或更多點(diǎn)組成的鏈才能表明過程變差減小。 注 2： 標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸 到鏈的開始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢(shì)或變化的時(shí)間 。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長(zhǎng)的上升鏈） 313 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 b 一般情況，各點(diǎn)與 R 的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域。 C 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R 很近之處（對(duì)于 25子組，如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 。 c2 過程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多 個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測(cè)量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來測(cè)取數(shù)據(jù)）。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除）。 d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處（對(duì)于 25子組，如果有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： d1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有 明顯不同的變化性的過程流的測(cè)量值（如：輸入材料批次混 淆）。 注： 如果存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。 32 識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（極差圖） a 對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，作一個(gè)過程操作 分析，從而確定該原因并改進(jìn)，防止再發(fā)生。 b 應(yīng)及時(shí)分析問題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開 始分析過程原因。 33 重新計(jì)算控制限（極差圖） a 在進(jìn)行首次過程研究或重新評(píng)定過程能力時(shí)，失控的原因已 被識(shí)別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計(jì)算控制限，以排除失控 時(shí)期的影響，排除所有已被識(shí)別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計(jì)算新的平均極差 R和控制限，并畫下來， 使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從 X圖中去掉。 修改后的 R 和 X 可用于重新計(jì)算均值的試驗(yàn)控制限， X 177。 A2R 。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。而是排除受已知的特殊原因影響的點(diǎn)。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會(huì)作為過程的一部分重現(xiàn)。 34 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 341 超出控制限的點(diǎn)： a 一點(diǎn)超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a1 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) a2 過程已更改，或是在當(dāng)時(shí)的那一點(diǎn)（可能是一件獨(dú)立的 事件）或是一種趨勢(shì)的一部分。 a3 測(cè)量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或 QC） 不受控制的過程的均值（有一點(diǎn)超過控制限） 受控制的過程的均值 UCL LCL X LCL UCL X 342 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢(shì)： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)或 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者 。 a1 過程均值已改變 a2 測(cè)量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸到 鏈的開始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢(shì)或變化的時(shí)間。 不受控制的過程的均值（長(zhǎng)的上升鏈） 不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長(zhǎng)鏈） UCL X LCL UCL X LCL 343 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè) 控制限內(nèi) ， 或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等 。 b 一般情況 ， 各點(diǎn)與 X的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的 中間 1/3的區(qū)域內(nèi) ， 大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域； 1/20的 點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處 （ 位于外 1/3的區(qū)域 ） 。 c 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處 （ 對(duì)于 25子組 ， 如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域 ） ， 則應(yīng)對(duì)下列情況的 一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) c2 過程或取樣方法被分層 ， 每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或 多個(gè)具有完全不 同的過程均值的過程流的測(cè)量值 （ 如：從 幾組軸中 ， 每組抽一根來測(cè)取數(shù)據(jù) 。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處（對(duì)于 25子組， 如 果有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一 種或更多進(jìn)行調(diào)查： d1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)不 同的過程流的測(cè)量值（這可能是由于對(duì)可調(diào)整的過程進(jìn)行 過度 控制造成的，這里過程改變是對(duì)過程數(shù)據(jù)中隨機(jī)波 動(dòng)的響應(yīng)）。 注：如果存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。 UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的過程（點(diǎn)離過程均值太近） 均值失控的過程（點(diǎn)離控制限太近） 35 識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（均值圖） a 對(duì)于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 b 應(yīng)及時(shí)分析問題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開 始分析過程原因。 36 重新計(jì)算控制限（均值圖） 在進(jìn)行首次過程研究或重新評(píng)定過程能力時(shí)，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點(diǎn)，然后重新計(jì)算并描畫過程 均值 X 和控制限，使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 37 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長(zhǎng)控制限 a 當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗(yàn)控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長(zhǎng)控 制限，將其作為將來的一段時(shí)期的控制限。 b 當(dāng)子組容量變化時(shí)，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率） 應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。方法如下： b 1 估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ? 表示），用 現(xiàn)