【文章內(nèi)容簡介】 n=5）） ===——————————————突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制X—R 管制圖用數(shù)據(jù)表管制圖用數(shù)據(jù)表制品名稱：紫銅管 品質(zhì)特性：內(nèi)徑 測定單位： m/m 制造場所： XXX機(jī)械號碼： XXX 操 作 者 ： XXX 測 定 者 ： XXX 抽樣期限：自 年 月 日 至 年 月 日樣組 測定值 X R 樣組 測定值 X RX1 X2 X3 X4 X5 X1 X2 X3 X4 X51234567891011121350474650465047485049515049505345484849495050515050494953494950525046495149494952454849545148495146465250515049525054525153485051553844855545536141516171819202122232425535346505052505255504753484850524949474954545151474953495052505151525151525151494953535351505250515253495150525050495251657324645553120突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制X—R 繪繪 圖圖 步步 驟驟將每樣組之 X 與 R 算出記入數(shù)據(jù)表內(nèi)。求 X 與 R X = ———— = ———— = R = ———— = ———— = 查系數(shù) A2， D4， D3 A2 = ， D4 = ， D3 = 負(fù)值（以 0代表）ΣXΣRnn1202525==突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制X—R 繪繪 圖圖 步步 驟驟求管制界限、求管制界限 (1)X 管制圖 CL = X = UCL = X+A2R=+()()= LCL = XA2R=()()= (2)R 管制圖 CL = R = UCL = D4R =()()= LCL = D3R =( 0 )()= 0將管制界限繪入管制圖、將管制界限繪入管制圖點(diǎn)圖、點(diǎn)圖檢討管制界限、檢討管制界限===突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制X—R 管管 制制 圖圖UCLX()CLX()LCLX()UCLR()CLR()LCLR(0)突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制不良和缺陷的說明結(jié) 果 舉 例 控制 圖車輛 不泄漏／泄漏 P圖NP圖燈 亮／不亮孔的直 徑 尺寸太小或太大約銷 售商 發(fā) 的 貨 正 確 ／不正 確風(fēng) 窗玻璃上的 氣 泡 C圖U圖門 上油漆缺陷發(fā) 票上的 錯誤突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制P控制圖的制做流程A收集數(shù)據(jù)B計 算控制限C過 程控制解釋D過 程能力解釋突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制建立 p圖 的步驟 AＡ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇 子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A2計 算每個子組內(nèi)的不合格品率A3選擇 控制圖的坐標(biāo)刻度A4將 不合格品率描組在控制圖突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制A1子組容量、頻率、數(shù)量? 子組容量：用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個不合格品，但樣本數(shù)如果太利也會有不利之處。? 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時間隔短則反饋快，但也許與的子組容量的要求矛盾? 子組數(shù)量：要大于等于 25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制A2計 算每個子組內(nèi)的不合格品率? 記錄 每個子組內(nèi)的下列值– 被檢項 目的數(shù)量 ─ n– 發(fā)現(xiàn) 的不合格項目的數(shù)量 ─ np– 通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制A3選擇 控制圖的坐標(biāo)刻度? 描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為從坐標(biāo)，子組識別作為橫坐標(biāo)?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。劃圖區(qū)域突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制A4將 不合格品率描繪在控制圖上? 描繪每個子組的 p值，將這些點(diǎn)聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。? 當(dāng)點(diǎn)描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點(diǎn)比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確。? 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在控制圖的 “ 備注 ” 部份。突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制Ｂ計算控制限 B1計算過程平均不合格品率B2計 算上、下控制限B3書線并標(biāo) 注建立 p控制圖的步驟 B突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制計 算平均不合格率及控制限突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制Ｃ過程控制用控制圖解釋C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定證據(jù)C2尋 找并糾正特殊原因C3重新計算控制界限超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形建立 p圖 的步驟 C突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù)? 點(diǎn)? 線? 面? 以上三種方式做判定。突破創(chuàng)新