spc統(tǒng)計制程管制培訓課件(編輯修改稿)
2024-10-24 22:19 本頁面
【文章內容簡介】 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混 淆）。 注：如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。 32 識別并標注所有特殊原因（極差圖） a 對于極差數據內每一個特殊原因進行標注，作一個過程操作 分析，從而確定該原因并改進，防止再發(fā)生。 b 應及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。,?,33 重新計算控制限（極差圖）,a 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，失控的原因已 被識別和消除或制度化，然后應重新計算控制限，以排除失控 時期的影響，排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計算新的平均極差R和控制限，并畫下來， 使所有點均處于受控狀態(tài)。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從R 圖中去掉的子組，也應從X圖中去掉。 修改后的 R 和 X 可用于重新計算均值的試驗控制限，X 177。 A2R 。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數據”。而是排除受已知的特殊原因影響的點。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。,?,34 分析均值圖上的數據點,341 超出控制限的點： a 一點超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a1 控制限或描點時描錯 a2 過程已更改，或是在當時的那一點（可能是一件獨立的 事件）或是一種趨勢的一部分。 a3 測量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或QC）,?,不受控制的過程的均值（有一點超過控制限）,受控制的過程的均值,UCL,LCL,X,LCL,UCL,X,?,342 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： 連續(xù) 7點在平均值一側或7點連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸到 鏈的開始點，分析時應考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。,?,不受控制的過程的均值（長的上升鏈）,不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈）,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,,?,343 明顯的非隨機圖形,a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數據點的分布在整個 控制限內，或子組內數據間有規(guī)律的關系等。 b 一般情況，各點與 X的距離：大約2/3的描點應落在控制限的 中間1/3的區(qū)域內，大約1/3的點落在其外的2/3的區(qū)域；1/20的 點應落在控制限較近之處（位于外1/3的區(qū)域）。 c 如果顯著多余2/3以上的描點落在離R很近之處（對于25子組， 如果超過90%的點落在控制限的1/3區(qū)域），則應對下列情況的 一種或更多進行調查： c1 控制限或描點計算錯描錯 c2 過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或 多個具有完全不 同的過程均值的過程流的測量值（如：從 幾組軸中，每組抽一根來測取數據。,?,c3 數據已經過編輯(極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除） d 如果顯著少余2/3以上的描點落在離R很近之處（對于25子組， 如 果有40%的點落在控制限的1/3區(qū)域），則應對下列情況的一 種或更多進行調查： d1 控制限或描點計算錯描錯 。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或
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