tuv-spc培訓(xùn)資料(編輯修改稿)
2025-02-07 08:38 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 nland Academy Beijing169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy BeijingCASE STUDY169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing計量型數(shù)據(jù)控制圖的繪制一、準備工作 建立適合于實施控制圖的條件 定義過程，確定需控制過程 確定需控制特性 確定測量系統(tǒng) 減少不必要的變差二、收集數(shù)據(jù)（以 XR 圖為例）步驟 1：選擇子組容量、頻率、子組數(shù)，收集數(shù)據(jù) 子組容量 n=4~5，子組數(shù) K=20~25； nk≥100169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing步驟 2：建立圖的原始記錄步驟 3：計算每組數(shù)據(jù) ， Ri （ i=1,2…… ， K） （ j=1,2…… ， n） Ri= Ximax Ximin步驟 4：選擇圖的縱坐標刻度。步驟 5：計算 及 步驟 6：計算 R控制限并作圖 CL= ， UCL=D4 ， LCL=D3步驟 7：將預(yù)備數(shù)據(jù)點繪在圖中，并對狀態(tài)判斷。 若穩(wěn)，測進行步驟 8；若不穩(wěn)，則查原因，定措施 改進，再次轉(zhuǎn)入步驟 1，收集預(yù)備數(shù)據(jù)，重新計算 控制限，作圖，判斷，一直到 R圖型穩(wěn)態(tài)。169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing步驟 8：計算 圖控制限，作圖、點圖。 判穩(wěn)：若穩(wěn)則進入步驟 9； 若不穩(wěn)，查原因，定措施，改進后，返回步驟 1， 重新循環(huán)。步驟 9：計算 Cp，檢驗過程是否滿足技術(shù)要求？ 若滿足要求，進入步驟 10； 若不滿足要求，則調(diào)整過程，直至 Cp滿足要求為止。步驟 10：延長 圖控制線，作控制用控制圖，進入日常統(tǒng) 計過程控制用。 上述步驟 1~9為分析用控制圖。 上述步驟 10為控制用控制圖。169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 兩種控制圖應(yīng)用示意說明167。初期的二十五點計算時有些超出控制界限，此時須尋找原因。167。連續(xù)二十五點在控制界限內(nèi)，表示制程基本上已穩(wěn)定，控制界限可以延用167。有點超出控制界限，表示此時狀態(tài)已被改變，此時要追查原因，必要時必須重新收集數(shù)據(jù)，重新考慮穩(wěn)定狀態(tài)解析用 穩(wěn)定 控制用 再調(diào)整169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing5. 兩種控制圖169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing八、案例 :見附件 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing七、各類控制圖不合格數(shù)C單位不合格數(shù)U不合格品率np不合格品率P計數(shù)值控制圖單值 — 移動極差XRS中位數(shù) — 極差MeR均值 — 標準差LCLUCL CL均值 — 極差計量值控制圖圖名稱圖代號類型表表 2 常規(guī)控制圖表常規(guī)控制圖表169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing表表 3 計量控制圖系數(shù)表計量控制圖系數(shù)表169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing不合格品率圖 P圖167。子組容量：用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個不合格品，但樣本數(shù)如果太大也會有不利之處。167。分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時間間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾167。子組數(shù)量：要大于等于 25組以上，才能判定其穩(wěn)定性169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing計算每個子組內(nèi)不合格品率167。記錄每個子組內(nèi)的下列值167。被檢項目的數(shù)量 ─n167。發(fā)現(xiàn)的不合格項目的數(shù)量 ─np167。通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing將不合格品率描繪在控制圖上167。描繪每個子組的 p值，將這些點聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢167。當點描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確167。記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在控制圖的 “備注 ”部份169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy BeijingP圖平均不合格率及控制限169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing控制 圖判 異準則169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing四、預(yù)控法（彩虹圖）四、預(yù)控法（彩虹圖） 預(yù)控法的基本思想、預(yù)控法的基本思想 預(yù)控法是一種簡便的過
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