【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 新計(jì)算均值的試驗(yàn)控制限，X 177。 A2R 。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。而是排除受已知的特殊原因影響的點(diǎn)。并且一定要改變過(guò)程，以使特殊原因不會(huì)作為過(guò)程的一部分重現(xiàn)。,?,34 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn),341 超出控制限的點(diǎn)： a 一點(diǎn)超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a1 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) a2 過(guò)程已更改，或是在當(dāng)時(shí)的那一點(diǎn)（可能是一件獨(dú)立的 事件）或是一種趨勢(shì)的一部分。 a3 測(cè)量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或QC）,?,不受控制的過(guò)程的均值（有一點(diǎn)超過(guò)控制限）,受控制的過(guò)程的均值,UCL,LCL,X,LCL,UCL,X,?,342 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過(guò)程已改變或出現(xiàn)某種趨勢(shì)： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)或7點(diǎn)連續(xù)上升或下降 a 與過(guò)程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者。 a1 過(guò)程均值已改變 a2 測(cè)量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸到 鏈的開(kāi)始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開(kāi)始出現(xiàn)變化趨勢(shì)或變化的時(shí)間。,?,不受控制的過(guò)程的均值（長(zhǎng)的上升鏈）,不受控制的過(guò)程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長(zhǎng)鏈）,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,,?,343 明顯的非隨機(jī)圖形,a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè) 控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 b 一般情況，各點(diǎn)與 X的距離：大約2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的 中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點(diǎn)落在其外的2/3的區(qū)域；1/20的 點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處（位于外1/3的區(qū)域）。 c 如果顯著多余2/3以上的描點(diǎn)落在離R很近之處（對(duì)于25子組， 如果超過(guò)90%的點(diǎn)落在控制限的1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的 一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) c2 過(guò)程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或 多個(gè)具有完全不 同的過(guò)程均值的過(guò)程流的測(cè)量值（如：從 幾組軸中，每組抽一根來(lái)測(cè)取數(shù)據(jù)。,?,c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過(guò)編輯(極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除） d 如果顯著少余2/3以上的描點(diǎn)落在離R很近之處（對(duì)于25子組， 如 果有40%的點(diǎn)落在控制限的1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一 種或更多進(jìn)行調(diào)查： d1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 。 d2 過(guò)程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)不 同的過(guò)程流的測(cè)量值（這可能是由于對(duì)可調(diào)整的過(guò)程進(jìn)行 過(guò)度 控制造成的，這里過(guò)程改變是對(duì)過(guò)程數(shù)據(jù)中隨機(jī)波 動(dòng)的響應(yīng)）。 注：如果存在幾個(gè)過(guò)程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。,?,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,均值失控的過(guò)程（點(diǎn)離過(guò)程均值太近）,均值失控的過(guò)程（點(diǎn)離控制限太近）,?,35 識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（均值圖）,a 對(duì)于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過(guò) 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 b 應(yīng)及時(shí)分析問(wèn)題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開(kāi) 始分析過(guò)程原因。 36 重新計(jì)算控制限（均值圖） 在進(jìn)行首次過(guò)程研究或重新評(píng)定過(guò)程能力時(shí)，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點(diǎn)，然后重新計(jì)算并描畫(huà)過(guò)程 均值 X 和控制限，使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。,?,37 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長(zhǎng)控制限,a 當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗(yàn)控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長(zhǎng)控 制限，將其作為將來(lái)的一段時(shí)期的控制限。 b 當(dāng)子組容量變化時(shí)，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率） 應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。方法如下： b 1 估計(jì)過(guò)程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用σ? 表示），用現(xiàn)有的子組容 量計(jì)算： σ? = R/d2 式中R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2 為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表：,?,b –2 按照新的子組容量查表得到系數(shù)d2 、DD4 和 A2，計(jì)算新 的極差和控制限： R新 = σ? d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 將這些控制限畫(huà)在控制圖上。,?,4 過(guò)程能力分析,如果已經(jīng)確定一個(gè)過(guò)程已處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，還存在過(guò)程是 否有能力滿足顧客需求的問(wèn)題時(shí)； 一般講，控制狀態(tài)穩(wěn)定， 說(shuō)明不存在特殊原因引起的變差，而能力反映普通原因引起 的變差，并且?guī)缀蹩傄獙?duì)系統(tǒng)采取措施來(lái)提高能力，過(guò)程能 力通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)偏差來(lái)評(píng)價(jià)。,?,帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過(guò)程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)）,規(guī)范下限 LCL,規(guī)范上限 UCL,范圍,LCL,UCL,范圍,不能符合規(guī)范的過(guò)程（有超過(guò)一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出）,LCL,LCL,UCL,UCL,范圍,范圍,?,標(biāo)準(zhǔn)偏差與極差的關(guān)系（對(duì)于給定的樣本容量,平均極差R越大,標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ? 越大）,X,σ?,范圍,范圍,X,σ?,σ?,X,范圍,R,R,R,?,41 計(jì)算過(guò)程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ?,σ? = R/d2 R 是子組極差的平均值，d2 是隨樣本容量變化的常數(shù) 注：只有過(guò)程的極差和均值兩者都處于受控狀態(tài)，則可用估計(jì) 的過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)偏差來(lái)評(píng)價(jià)過(guò)程能力。,?,42 計(jì)算過(guò)程能力,過(guò)程能力是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來(lái)描述的過(guò)程均值和規(guī)格 界限的距離，用Z來(lái)表示。 421 對(duì)于單邊容差，計(jì)算： Z=(USLX) / σ? 或 Z=(XLSL) / σ? （選擇合適的確一個(gè)） 注：式中的SL=規(guī)范界限， X=測(cè)量的過(guò)程均值， σ? =估計(jì)的過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)偏差。,?,422 對(duì)于雙向容差，計(jì)算：,Zusl=(USLX) / σ Zlsl=(XLSL) / σ Z=Min{ Zusl。 Zlsl } Zmin 也可以轉(zhuǎn)化為能力指數(shù)Cpk: Cpk= Zmin / 3 =CPU(即 ) 或CPL(即 ) 的最小值。 式中: USL 和 LSL為工程規(guī)范上、下， σ? 為過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)偏差 注：Z 值為負(fù)值時(shí)說(shuō)明過(guò)程均值超過(guò)規(guī)范。,USL–X,3 σ,X – LSL,3 σ ?,?,?,?,?,423 估計(jì)超出規(guī)范的百分比 ：（PZ ） a 對(duì)于單邊容差，直接使用Z值查標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表，換算成 百分比。 b 對(duì)于雙邊容差，根據(jù)Zusl 和 Zlsl 的值查標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表， 分別算出Pzusl 和 Pzlsl 的百分比，再將其相加。,?,43 評(píng)價(jià)過(guò)程能力,當(dāng) Cpk1 說(shuō)明過(guò)程能力差，不可接受。 1≤Cpk≤1.33,說(shuō)明過(guò)程能力可以，但需改善。 1.33≤Cpk≤1.67,說(shuō)明過(guò)程能力正常。,?,均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（Xs圖）,一般來(lái)講，當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時(shí)用S圖代替R圖： a 數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)按設(shè)定時(shí)序記錄和/或描圖的，因s的計(jì)算程序 容易集成化。 b 使用的子組樣本容量較大，更有效的變差量度是合適的 c 由于容量大，計(jì)算比較方便時(shí)。 11 數(shù)據(jù)的收集（基本同XR圖） 111 如果原始數(shù)據(jù)量大，常將他們記錄于單獨(dú)的數(shù)據(jù)表，計(jì)算 出 X 和 s 112 計(jì)算每一子組的標(biāo)準(zhǔn)差 s =,∑ (Xi–X )178。,n – 1,?,式中：Xi，X；N 分別代表單值、均值和樣本容量。 注：s 圖的刻度尺寸應(yīng)與相應(yīng)的X圖的相同。 12 計(jì)算控制限 121 均值的上下限