【文章內(nèi)容簡介】 Rheinland Academy Beijing 步驟 2：建立圖的原始記錄 步驟 3：計算每組數(shù)據(jù) ， Ri （ i=1,2…… ， K） （ j=1,2…… ， n） Ri= Ximax Ximin 步驟 4：選擇圖的縱坐標(biāo)刻度。 步驟 5：計算 及 步驟 6：計算 R控制限并作圖 CL= ， UCL=D4 ， LCL=D3 步驟 7：將預(yù)備數(shù)據(jù)點繪在圖中，并對狀態(tài)判斷。 若穩(wěn)，測進行步驟 8；若不穩(wěn)，則查原因，定措施 改進，再次轉(zhuǎn)入步驟 1，收集預(yù)備數(shù)據(jù)，重新計算 控制限，作圖，判斷，一直到 R圖型穩(wěn)態(tài)。 nxXnjiji??? 1RiX RR169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 步驟 8：計算 圖控制限，作圖、點圖。 判穩(wěn)：若穩(wěn)則進入步驟 9； 若不穩(wěn)，查原因，定措施，改進后，返回步驟 1， 重新循環(huán)。 步驟 9：計算 Cp，檢驗過程是否滿足技術(shù)要求？ 若滿足要求，進入步驟 10； 若不滿足要求，則調(diào)整過程，直至 Cp滿足要求為止。 步驟 10：延長 圖控制線，作控制用控制圖，進入日常統(tǒng) 計過程控制用。 上述步驟 1~9為分析用控制圖。 上述步驟 10為控制用控制圖。 XRX ?RAXLCLRAXUCLXCL 22 , ?????169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 兩種控制圖應(yīng)用示意說明 ?初期的二十五點 計算時有些超出 控制界限，此時 須尋找原因。 ?連續(xù)二十五點在控 制界限內(nèi)，表示制 程基本上已穩(wěn)定， 控制界限可以延用 ?有點超出控制界限，表示此時狀態(tài)已被改變，此時要追查原因，必要時必須重新收集數(shù)據(jù)，重新考慮穩(wěn)定狀態(tài) 解析用 穩(wěn)定 控制用 再調(diào)整 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 5. 兩種控制圖 分析用控制圖 控制用控制圖 應(yīng)用時機 了解過程 當(dāng)過程出現(xiàn)變化時 過程現(xiàn)場 計算控制界限 需 無 收集樣本 至少 25子組， 100個數(shù)據(jù) 每 1個子組樣本 分析時間 25子組以后 每 1個子組以后 目 的 了解狀態(tài)是否受控； 能力能否滿足 保持控制狀態(tài) 持續(xù)改進 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 八、案例 :見附件 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 七、各類控制圖 不合格數(shù) C 單位不合格數(shù) U 不合格品率 np 不合格品率 P 計 數(shù) 值 控 制 圖 單值 —移動極差 XRS 中位數(shù) —極差 MeR 均值 —標(biāo)準(zhǔn)差 LCL UCL CL 均值 —極差 計 量 值 控 制 圖 圖名稱 圖代號 類型 表 2 常規(guī)控制圖表 RX?SXRSeMRXSpducRAX 2?RD4 S3SB4 RAmeM 23?RD4 RX ?S4 nippp )1(3 ?? ???????? ? nddd 1nuu 3? cC 3? RAX 2?RD3 S3SB3 RAmeM 23?RD RX ?S nippp )1(3? ???????? ? nddd 1nuu 3? cC 3?169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing n 2 3 4 5 6 7 8 9 A2 A3 M3 D3 0 0 0 0 0 D4 B3 0 0 0 0 B4 d2 表 3 計量控制圖系數(shù)表 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 不合格品率圖 P圖 ?子組容量：用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個不合格品，但樣本數(shù)如果太大也會有不利之處。 ?分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時間間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾 ?子組數(shù)量：要大于等于 25組以上，才能判定其穩(wěn)定性 Ppn 5~1?169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 計算每個子組內(nèi)不合格品率 ?記錄每個子組內(nèi)的下列值 ?被檢項目的數(shù)量 ─n ?發(fā)現(xiàn)的不合格項目的數(shù)量 ─np ?通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率 nnpndp ??169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 將不合格品率描繪在控制圖上 ?描繪每個子組的 p值，將這些點聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢 ?當(dāng)點描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確 ?記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在控制圖的“備注”部份 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing ipippkkkkknpppLCLnpppUCLndpCLnnndddnnnpnpnpnp)1(3)1(3........ .. ........2121212211????????????????????????中心線P圖平均不合格率及控制限 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 控制 圖判 異準(zhǔn)則 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 169。 copy right reserved by T220。V