spc知識(編輯修改稿)
2025-03-09 23:03 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 R圖分析 a)超出控制限的點 ?超出上控制限說明 : 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 分布寬度增大 。 測量系統(tǒng)變化或沒有適當?shù)姆直媪?。 ?超出下控制限說明 : 控制限或描點錯誤 。 分布寬度變小 。 ?測量系統(tǒng)已改變 。 2 計量型數(shù)據(jù)控制圖 b)鏈 連續(xù) 7點位于平均值的一側 。 連續(xù) 7點上升或下降 。 ? 高于平均極差的鏈或上升鏈說明 : 輸出值的分布寬度增加 ,需要糾正 。 測量系統(tǒng)改變 。 ? 低于平均極差的鏈或下降鏈說明 : 輸出值分布寬度減小 。 測量系統(tǒng)改變 ,掩蓋過程的真實性 。 2 計量型數(shù)據(jù)控制圖 c)明顯的非隨機圖形 各點與 R的距離 : 大約 2/3的描點應落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi) ,大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域 。 如果超過 90%的點落在控制限 1/3的區(qū)域內(nèi) ,則應調(diào)查 : 控制限或描點已計算錯誤或描錯 。 過程或取樣方法被分層 。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 。 如果少于 40%的點落在中間 1/3的區(qū)域 ,則應調(diào)查 : 控制限或描點已計算錯誤或描錯 。 子組數(shù)據(jù)包含了多個不同過程流的測量值 。 2 計量型數(shù)據(jù)控制圖 識別并標注特殊原因 (極差圖 ) 識別 — 標注 — 分析 — 對策 — 改進 重新計算控制限 (極差圖 ) 排除所有受已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組 ,重新計算新的平均極差和控制限并畫圖 。 2 計量型數(shù)據(jù)控制圖 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 a)超出控制限的點 : 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 過程已改變 ,一點或趨勢 。 測量系統(tǒng)變化 。 b)鏈 連續(xù) 7點位于平均值的一側 。 連續(xù) 7點上升或下降 。 表明 : 過程均值已改變 。 測量系統(tǒng)改變 。 2 計量型數(shù)據(jù)控制圖 c)明顯的非隨機圖形 各點與 X的距離 : 大約 2/3的描點應落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi) ,大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域 。1/20的點應落在控制限較近之處 .大約 1/150的點落在控制限之外 ,可認為系統(tǒng)受控 ,就是說 %的點位于控制限內(nèi) 。 如果超過 90%的點落在控制限 1/3的區(qū)域內(nèi) ,則應調(diào)查 : 控制限或描點已計算錯誤或描錯或重新計算錯 。 過程或取樣方法被分層 。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 。 如果少于 40%的點落在中間 1/3的區(qū)域 ,則應調(diào)查 : 控制限或描點已計算錯誤或描錯 。 子組數(shù)據(jù)包含了多個不同過程流的測量值 。 2 計量型數(shù)據(jù)控制圖 識別并標注特殊原因 (均值圖 ) 識別 — 標注 — 分析 — 對策 — 改進 重新計算控制限 (均值圖 ) 排除所有受已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組 ,重新計算新的過程均值和控制限并畫圖 。 2 計量型數(shù)據(jù)控制圖 D. 過程能力解釋 過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài) 。 過程的各測量值服從正態(tài)分布 。 工程及其它規(guī)范準確地代表顧客的需求 。 設計目標值位于規(guī)范的中心 。 測量變差相對較小 。 過程能力評定 :將過程輸出的分布與過程規(guī)范相比 。當分布圖形為正態(tài)時 ,可作簡單計算
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