反滲透系統(tǒng)故障診斷(編輯修改稿)
2025-01-25 16:23 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 20 膜元件采樣原則 (Rule for Choosing Elements) ? 壓力容器進(jìn)水端首支膜元件 考察膜元件氧化、污染等。 ? 壓力容器末端膜元件 考察膜元件結(jié)垢等。 ? 其它性能明顯下降及外觀遭受破壞的膜元件 ? 不能肯定故障所在時(shí)，首端及末端膜元件都采樣分析 ? 進(jìn)行污染物清洗試驗(yàn)時(shí)，選取相連或并聯(lián)膜元件進(jìn)行對(duì)比觀察 21 膜元件檢測(cè)方法 (Method for Elements Test) ? 探針測(cè)試 Pressure vessel probing test ? 真空度下降測(cè)試 Vacuum decay test ? 膜元件及膜片標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試 Performance test under standard test condition for elements and coupons ? 離子分離性能測(cè)試 Rejection test for ionic charge ? 膜元件解體分析 Autopsy analysis for elements ? 染色測(cè)試 Dying test ? 吡啶顯色實(shí)驗(yàn) Color charge test for PA dip in pyridine solution ? 污染物分析及化學(xué)清洗試驗(yàn) Fouling analysis and cleaning experiment 22 現(xiàn)代分析方法在膜技術(shù)中的應(yīng)用 (Application of Modern Analytic Techniques in Membrane Technology) ? 光學(xué)顯微鏡法 light microscope technique ? 掃描電子顯微鏡法 SEM/TEM technique ? 能量色散 X射線法 EDX technique ? 紅外光譜法 FTIR technique ? ICP分析 ICP technique 23 定位泄漏點(diǎn)－探針測(cè)試 Ⅰ (ProbingⅠ ) 使用軟管插入壓力容器進(jìn)行探針技術(shù)測(cè)定產(chǎn)水電導(dǎo)率可以定位壓力容器內(nèi)膜元件的泄漏點(diǎn)。 A flexible tube is inserted through the permeate port of a vessel to measure the permeate concentration at known intervals through the vessel. ? 對(duì)高透鹽率的壓力容器進(jìn)行探針實(shí)驗(yàn)。 Performed on vessels identified by the pressure vessel profile. ? 定位膜元件或“ O”型圈等為高透鹽率源。 Locates the elements or orings which are the source of high salt passage. ? 所需工具： 1/4英寸軟管、手持式電導(dǎo)率儀、盛水容器、中心管堵頭等。 Tools:1/4 plastic tube, handy EC meter, container etc. 24 壓力容器探針測(cè)試 Ⅱ (Pressure Vessel ProbingⅡ ) 32cm 32cm Sampling points Handy EC Meter 88 Permeate Maine Line 電導(dǎo)率(conductivity) End cap/adaptor problem Interconnector problem Normal 25 壓力容器探針測(cè)試?yán)?Ⅲ (Probing Sample Ⅲ ) 050010001500202325003000350040000 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000中心管內(nèi)位置 [m m]電導(dǎo)率 [μS/cm]進(jìn)水側(cè) 濃水側(cè)電導(dǎo)率出現(xiàn)躍變 ? 當(dāng)然，我們也可以對(duì)單支膜元件進(jìn)行探針測(cè)試確定膜元件哪個(gè)部位出現(xiàn)泄漏，在很多情況下這也是非常重要及有效的方法。比如受背壓破壞的膜元件產(chǎn)水端的透鹽率一般高于進(jìn)水端的透鹽率。 Absolutely, we also can use probing to testify there is leakage for a single element or not and locate which point maybe leak, which is very important and efficient way for checking back pressure damage. ? 膜元件泄漏點(diǎn) ? 正常膜元件 26 真空度下降測(cè)試 (Vacuum Decay Test) 用于判斷膜元件發(fā)生高透鹽率，可用于單元件及壓力容器的檢查。用真空度下降速率判斷膜元件機(jī)械完整性及是否發(fā)生泄漏。未受泄漏的膜元件可以維持一定的真空度。此方法可以用于化學(xué)損傷及機(jī)械泄漏的區(qū)別。步驟如下： ? 排干膜元件內(nèi)積水，用塞子把膜元件一端中心管堵??； ? 將產(chǎn)水中心管一端連接到真空表和真空泵上； ? 將膜元件置于 100~300mbar的絕對(duì)壓力下； ? 關(guān)閉隔斷閥且觀察真空表上的讀數(shù)，當(dāng)真空度快速下降（每分鐘大于100mbar)時(shí)，說(shuō)明膜元件有泄露的嫌疑； ? 撤卸連接管路，釋放真空度； ? 多次重復(fù)測(cè)試。壓力容器真空度下降測(cè)試與膜元件真空度下降測(cè)試相同。 膜元件或壓力容器 真空泵 堵頭 27 膜元件性能標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試 (Performance Test under Standard Test Condition for Elements) ? 為了正確評(píng)估膜元件及膜片性能，在一定標(biāo)準(zhǔn)條件下（ TDS、溫度、壓力、濃度、 pH、濃水流量），膜元件及膜片運(yùn)行一定時(shí)間后，測(cè)定脫鹽率和產(chǎn)水通量； ? 不同類(lèi)型膜元件及膜片具有不同的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件； ? 將以上結(jié)果對(duì)照該類(lèi)型膜元件及膜片的標(biāo)準(zhǔn)性能參數(shù)，判斷膜元件損壞的程度。 ? 脫鹽率換算為 TDS計(jì)算 ? 原水為進(jìn)水濃度和濃水濃度的平均值，計(jì)算公式如下： PFBC1 100 %2CC???脫 鹽 率 ＝28 平板膜片性能測(cè)試 (Performance Test under Standard Test Condition for Coupons) ? 從解體后的膜元件中取下具有代表性的膜頁(yè)； ? 從選定的膜頁(yè)特定位置取樣裁剪膜片； ? 在測(cè)定膜片性能之前最好把膜片放入純水中浸泡 1030分鐘； ? 將裁剪的膜片放入膜池中，在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下穩(wěn)定運(yùn)行 12小時(shí)，然后對(duì)所測(cè)膜片運(yùn)行 3060分鐘取水樣分析脫鹽率和產(chǎn)水通量； ? 將所得的數(shù)據(jù)對(duì)比新膜標(biāo)準(zhǔn)條件下的性能參數(shù)，分析性能的變化。 產(chǎn)水中心管 3 1 9 5 8 4 進(jìn)水 濃水 29 離子分離性能測(cè)試 Ⅰ (Rejection Test for Ionic ChargeⅠ) 所謂離子分離性能，就是膜對(duì)不同價(jià)態(tài)離子的截留率。一般來(lái)說(shuō)，聚酰胺反滲透膜對(duì)二價(jià)離子的脫除率大于一價(jià)離子。在相同的測(cè)試條件下，當(dāng)膜片發(fā)生機(jī)械泄漏及化學(xué)破壞時(shí)，其對(duì)不同價(jià)態(tài)離子的截留趨勢(shì)與正常膜片是不同的，因此可以用來(lái)判斷機(jī)械泄漏及化學(xué)破壞（如余氯氧化等）。 膜片正常時(shí)： SPMgSO4SPMgCl2； SPNa2SO4SPNaCl
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