增層電路板技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)(編輯修改稿)
2024-08-11 22:14 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 2)加熱時之測定將樣品裝于夾具后放入高溫設(shè)備中，到所定溫度后依上述方法測定之。試驗溫度以85177。3℃為標(biāo)準(zhǔn)，可能的話在105℃，125℃，150℃177。3℃時測定之。壓基板用具圖66 拉力試驗將所得結(jié)果數(shù)值化，換算拉力值為N/m2?？顾簭?qiáng)度為端子被拉離之測定值。(5)備注，以JIS C0010之標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)為準(zhǔn)。 C0010（環(huán)境試驗方法－電氣、電子－通則）。(1)目的敘述衡量增層電路板在裝配時之耐熱性(含吸溫時)之試驗方法，此試驗，亦可做依賴性試驗之前處理。(2)樣品：使用制品板(3)試驗設(shè)備：：在85℃,85%RH，85℃,60%RH，30℃,60%RH時溫度公差177。2℃，濕度公差177。3%RH。：在125℃時溫度公差+5/0℃。(TCT)。，能滿足下列試驗法之加熱處理條件。，變相器、IR烤箱，可滿足下述試驗方法之加熱處理條件者。，可滿足下述試驗方法之加熱條件者。，做目視檢查用(40倍左右)。(4)試驗方法。℃ ~ 60 ℃溫度循環(huán)，每小時二次，共做10次。℃ 在恒溫試驗裝置中干燥24小時。5. 依上述烘烤后2小時內(nèi)，將樣品置于恒溫恒溫試驗裝置中加溫之。加溫條件溫度：30℃177。2℃ 濕度：60177。5%處理時間：192177。2小時，四小時內(nèi)實(shí)施下述加熱處理，加熱條件，依制品用途而定。裝有PTH/SMT/裸晶之空基板時：以加熱條件A、B或A與B之組合做二次以上，及條件(一次以上)。模塊基板的情況：A或B或A、B組合做四次以上。A、IR烤箱，溫度曲線。升溫速率：max 6℃/sec到達(dá)125℃維持時間：120177。25 s到達(dá)183℃維持時間：120~180 s最高溫：220℃+5/10 ℃降溫速率：max 6℃/sec B、蒸氣機(jī)，變相器、IR烤箱、溫度曲線。最高溫保持時間：215℃到219℃min. 60sC、浸錫槽钖溫：245℃177。5 ℃, 浸泡時間：5177。1 sec電氣試驗：導(dǎo)通試驗(增加初期阻抗之20%)。外部目視檢查：無破裂、膨脹、鼓起等。(5)備注 K7100之標(biāo)準(zhǔn)溫狀態(tài)第二級為準(zhǔn)。 K7100(塑料之狀態(tài)調(diào)整及試驗場所之標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài))。(1)目的是為衡量增層電路板在高低溫間循環(huán)變化時，樹脂導(dǎo)體的耐疲勞性之試驗?？山逶O(shè)定復(fù)數(shù)試驗條件求取加速系數(shù)，以預(yù)測實(shí)際使用條件下之壽命。(2)樣品符合與實(shí)際制品板一樣構(gòu)造及基本設(shè)計規(guī)范的基板。本樣品必須事前先做裝配熱性之處理。(3)設(shè)備、溫度曲線用溫度記錄計。，在目視檢查時使用(40倍左右)。(4)試驗方法：一般而言，在Tg以上或附近時，樹脂之物性會變化，故加速試驗的應(yīng)力之直線性會失去。所以最好把試驗條件的上限溫度訂在所用材料中最低Tg溫度10℃以下。高加速艙標(biāo)準(zhǔn)艙低速艙溫度設(shè)定(177。5℃)(40~115℃)(25~115℃)(0~115℃)循環(huán)2 cycles/hour2 cycles/hour2 cycles/hour溫度轉(zhuǎn)換時間(*)300s以上300s以上300s以上*指樣品達(dá)設(shè)定之最高或最低溫之時間。1)用烤箱，溫度曲線用溫度記錄器，取得樣品的溫度曲線。2)把樣品放入烤箱中，使曝露于熱循環(huán)之環(huán)境中。3)每隔200cycle量測電阻值。4)對樣品之判定項目。電氣試驗：增加電阻值的變化率在20%以下。外部目視檢查：有無破裂、膨脹、剝離。(5)評價假定樹脂、金屬的疲勞系依式71之CoffinManson法則。CoffinManson法則C=Ni?(εI )n (71)C：常數(shù)NI ：疲勞壽命εI ：變形量為了預(yù)測實(shí)際使用條件下之壽命，求取加速系數(shù)AF，在此所述加速系數(shù)為應(yīng)力試驗的應(yīng)力與實(shí)際使用條件下的應(yīng)力比例，可以72式表示之。AF=(ΔTLab / ΔTfield) – (72)依實(shí)際使用條件設(shè)定之Cycle數(shù) (OnOff Cycle)以NField表示，相當(dāng)此Cycle數(shù)的應(yīng)力Cycle數(shù)以NLab表示。NLab = NField / AF – (73)實(shí)際使用時，考慮適當(dāng)?shù)陌踩禂?shù)3~5，以決定試驗的Cycle數(shù)。壽命預(yù)測，可以上述方法算出，但簡易的可靠度表示方式，則可以用標(biāo)準(zhǔn)艙內(nèi)的Cycle數(shù)代替之。而若要比較正確的做壽命預(yù)測時，需以同程序確認(rèn)試驗周波數(shù)與試驗最高溫度之影響，以反映于壽命預(yù)測之上。(6)注記。但若依其它理論式算出時，亦需明述之。，故不一定與實(shí)際的設(shè)備之動作一致。(7)備考 K7100標(biāo)準(zhǔn)溫濕度狀態(tài)二級為準(zhǔn)。 K7100(塑料的狀態(tài)調(diào)整及試驗場所之標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài))。(1)目的此為評價電路板暴露于高溫高濕下時，由于金屬的分子擴(kuò)散(Migration)造成絕緣劣化。所做之試驗，且為預(yù)測在實(shí)際使用條件下之壽命之性賴性試驗。(2)樣品與制品同樣設(shè)計規(guī)則，并具下列線路之基板。：梳形線路、線孔環(huán)。：全面銅全銅，全銅線：PTHPTH本樣品，必須事先做裝配耐熱性處理。(3)試驗設(shè)備、溫度之恒溫、恒濕槽。槽之材質(zhì)，用在高濕中不反應(yīng)之物。使用水為蒸餾水或去離子水，296K(23℃)pH 6~, /cm 以下之導(dǎo)電率。(4)試驗方法：1. 初期測定測樣品之絕緣性到1012以上為止，測定電壓以所加電壓之2倍以下，且30以下
黨政相關(guān)相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1