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正文內(nèi)容

可靠性技術(shù)在軍事領(lǐng)域中的應用和發(fā)展孫章鵬(編輯修改稿)

2024-12-14 20:06 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 準來進行的。 我國軍用電子元器件國家軍用標準的制定是從 20世紀 80 年代初期開始的。我國第一個軍用電子元器件國家軍用標準 GJB3385(半導體分立器件總規(guī)范)是 1985 年頒發(fā)中原工學院機電學院《可靠性工程》結(jié)課論文 6 的。到目前為止,我國已基本完成了能覆蓋主要軍用電子 元器件門類的國家軍用標準和行業(yè)軍用標準的制定,以及幾乎涉及到所有軍用電子元器件門類的企業(yè)軍用標準的制定。所以,從應用標準的角度說,我國已基本形成了由國家軍用標準、行業(yè)軍用標準和企業(yè)軍用標準為主要構(gòu)成的軍用電子元器件軍用標準體系。這一體系為我國“八五”、“九五”期間軍用電子元器件貫徹國軍標和科研試制成果的取得,起到了卓有成效的支撐保障作用。 若從軍用電子元器件質(zhì)量與可靠性軍用標準的技術(shù)內(nèi)涵來分析軍用標準體系的構(gòu)成,現(xiàn)在一般公認為軍用標準體系應由三個層次來構(gòu)成。第一層次為 質(zhì)量與可靠性的基礎標準,第二層次為質(zhì)量與可靠性的保證標準,第三層次為質(zhì)量與可靠性的技術(shù)方法標準。 ( 1)基礎標準 一般包括定義、術(shù)語;通用規(guī)則;例如: GJB 2715 國防計量通用術(shù)語、 GJB/Z 6994 軍用標準的選用和剪裁導則、 GJB/Z 3893 軍用電容器系列型譜等等。 ( 2)保證標準 保證標準包括質(zhì)量與可靠性保證大綱、統(tǒng)計過程控制( SPC)體系、計量確認體系、生產(chǎn)線認證要求、產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性保證要求等。 ( 3)技術(shù)方法標準 技術(shù)方法標準包含有質(zhì)量與可靠性評價方法與程序、失 效分析方法與程序、可靠性增長評估方法等。 (4)國外質(zhì)量與可靠性標準簡介 IEC 標準,國際電工委員會 IEC 的宗旨就是促進整個電工技術(shù)(包括電子工業(yè))的國際標準化。它在 1908 年成立,已有 42 個國家參加,設有 81 個技術(shù)專業(yè)委員會( TC)和 123 個分技術(shù)委員會( SC)。 1980 年國際關(guān)稅貿(mào)易標準規(guī)則的批準,使各國家普遍感到本國標準和技術(shù)基準必需與國際標準一致,因此各國在制定標準時,都以 IEC 標準作為基準。 ISO 標準,國際標準化組織 ISO 是由各國標準化團體( ISO 成員)組成的世界性聯(lián)合會。制定國 際標準的工作是由 ISO 的專業(yè)技術(shù)委員會( TC)來完成。各 ISO 成員(官方的或非官方的)若對某專業(yè)技術(shù)委員會已確立的標準項目感興趣,均有權(quán)參加該專業(yè)委員會的工作。在電工技術(shù)標準化方面, ISO 與 IEC 保持著密切的合作關(guān)系。 ISO9000系列標準已被我國和我軍直接引用,已作為對電子元器件質(zhì)量體系認證依據(jù)的標準,做到了與國際標準完全接軌,說明我國的質(zhì)量體系認證工作已推向了新階段。 中原工學院機電學院《可靠性工程》結(jié)課論文 7 第三章 可靠性技術(shù)在軍事領(lǐng)域中的應用案例 導彈及火箭發(fā)射任務中,對使用電 子元器件的質(zhì)量等級要求很高,溫度特性,真空特性,抗輻射特性均需滿足系統(tǒng)要求。由于采購渠道、采購周期、采購成本等條件限制所選器件只能是商用級或工業(yè)級器件。為保證任務的可靠性需要對所選擇的低等級器件進行可靠性篩選。 、艦船、裝甲車和軍用汽車的可靠性研究 人因可靠性對飛行安全的影響非常顯著 , 但是由于人的動態(tài)特性和認知規(guī)律的復雜性 ,到目前為止 ,在已有的飛行安全研究成果中 ,人因可靠性問題沒有得到充分的重視和考慮。 飛行事故原因統(tǒng)計 現(xiàn)代航空系統(tǒng)是一個人 機 環(huán)復雜系統(tǒng) ,飛 行安全是永恒的主題。影響飛行安全的原因大致可以分為人的因素、機械因素和環(huán)境因素三類。統(tǒng)計表明 ,人因 (HUMAN FACTORS,簡稱 HF)是導致飛行事故和事故征侯的最主要原因。見表 1。 將各類人員的操作錯誤和航空裝備故障所造成的飛行事故總和作為 100%的話 , 那么在每個維護年里飛行事故原因分布變化的上限和下限 ,可用圖 1 中的曲線來表示。如果在前 l~2 個維護年里 ,60%~75%的飛行事故是因裝備原因造成的話 ,那么經(jīng)過 12~14 個維護年后 ,只有15%~30%的飛行事故是技術(shù)裝備故障造成的 ,其它 70%~85%的飛行事故是由于各類人員的操作錯誤造成的。 飛行事故中各類人員操作失誤分析 由于不同人員操作錯誤造成的飛行事故的分布情況見表 2,由表中我們可以看出 ,飛行員操縱失誤是導致飛行事故的主要因素 ,占到 60%~75%。因此 ,對飛行員可靠性進行分析 ,對于減少飛行事故意義重大。 、彈藥等軍備的可靠性研究 武器裝備作戰(zhàn)損毀評估是一個復雜、龐大的系統(tǒng)課題。它牽涉到武器裝備的自然損毀、作戰(zhàn)損毀、綜合作戰(zhàn)損毀評估,以及戰(zhàn)損經(jīng)驗最小二乘法回歸評估,等等。在此,只對同類作戰(zhàn)武器裝備的自 然損毀進行數(shù)學建模和評估。 中原工學院機電學院《可靠性工程》結(jié)課論文 8 作戰(zhàn)武器裝備零部件可靠性評估問題陳述 :根據(jù)零部件的結(jié)構(gòu)鑄造及能承受的應力極限可將其物理故障分為突變和漸變。武器裝備零部件的損壞情況有兩種:一種是戰(zhàn)時使用條件下的損壞,屬自然損壞,它取決于武器裝備的使用可靠性及使用管理情況;另一種是作戰(zhàn)損毀,它取決于雙方作戰(zhàn)過程中武器裝備的損耗情況。下面,著重圍繞漸變現(xiàn)象中的自然損壞,討論根據(jù)武器裝備的可靠性指標預測零部件損壞量問題。武器裝備可靠性的定量評價指標有可靠度( R)、故障率(λ)和無故障時間( MTBF)。 可靠度指武器裝 備在規(guī)定條件下和規(guī)定時間內(nèi)無故障工作的概率,通常也可用在時間內(nèi)裝備完好數(shù)與總數(shù)之比近似求得。故障率指在某一規(guī)定時間間隔出現(xiàn)的頻率,一般通過可靠性函數(shù)來求得,實踐中可用故障次數(shù)與總的工作時數(shù)之比近似求得。平均無故障時間指可修復裝備相鄰兩次故障間隔工作時間的平均值。知道這些參數(shù)值,即可預測出武器裝備的零部件的損壞量。 后勤裝備綜合評價指標體系設置的原則 ( 1) 全面完整 ;評價指標應從后勤裝備系統(tǒng)角度進行考慮 , 包括構(gòu)成后勤裝備系統(tǒng)的各項指標 , 以便全面反映評價對象的優(yōu) 劣。 ( 2) 層次分明 ;評價指標體系的設置應能準確反映各層次之間的支配關(guān)系 , 各指標有明確內(nèi)涵 , 按照層次遞進的關(guān)系 , 組成層次分明、結(jié)構(gòu)合理、相互關(guān)聯(lián)的整體 , 排除指標間的相容性 , 保證評價的科學性。 ( 3) 簡明科學 ;指標體系的大小應適宜 , 計算含義明確 , 對評價對象影響大的重要指標應細分 , 其它指標則可適當粗分 , 以減少工作量。 綜合評價指標體系 考慮后勤裝備系統(tǒng)評價的復雜性 , 通過系統(tǒng)分析影響后勤裝備的各種因素 , 并加以合理歸納整理 , 按照綜合評價指標設置的 3 原則 , 建立了后勤裝 備的綜合評價指標體系 ,后勤裝備模糊綜合評價模型及評價方法。( 1)二級模糊綜合評價模型( 2)模糊綜合評判方法。 、嵌入式軟件的可靠性研究 中原工學院機電學院《可靠性工程》結(jié)課論文 9 軍用電子產(chǎn)品可靠性設計與技術(shù) ( 1)電子元器件及設備失效機理與故障模型 所有計算機及外設系統(tǒng)都是由基本電路單元構(gòu)成的:即由大量的集成電路與分立元件構(gòu)成 ,,因此影響該系統(tǒng)可靠性的將主要是電子元器件的可靠性以及加工工藝等環(huán)節(jié)。為此,對測試系統(tǒng)可靠性的分析要在元器件失效機理分析的基礎上,建立設備的可靠性模型,然后對計算機及外設系統(tǒng)進行可靠性 預計與分析,確定試驗方法與內(nèi)容。 ( 2)電子元器件篩選試驗 電子元器件篩選試驗,目前世界上最全面、影響最大的篩選規(guī)范是美國軍用標準MILSTD833《微電子器件試驗方法與程序》。其具體不同器件的電測試指標配合 MILM 38510《微電路總規(guī)范》使用。 MIL STD 883 標準的主要目的是作為篩選方法,決定微電路的可靠性,同時也是作為分析方法來分析產(chǎn)品的可靠性、質(zhì)量一致性。篩選試驗主要內(nèi)容:低氣壓試驗絕緣電阻、潮熱試驗、高溫試驗、溫度循環(huán)、冷熱沖擊試驗、熱性能、老化等環(huán)境試驗;恒定加 速度、機械沖擊、振動、鈍化層的完整性等機械試驗;驅(qū)動、負載、延遲、傳輸時間、電源電流、高低電平主電流、高低電平輸出電壓、輸入輸出擊穿電壓、輸出短路電流、功能試驗等電學測試 (數(shù)字電路 );輸入輸出失調(diào)電壓、共模輸入電壓范圍、共模抑制比、電源電壓抑制化、開環(huán)性能、輸出特性、功率增益和噪聲指數(shù)、自動增益控制范圍等電學測試 (模擬電路 )。測試條件要求的精度、設備校準、功率增益和噪聲指數(shù)、自動增益控制范圍等電學測試 (模擬電路 )。測試條件要求的精度、設備校準、
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