納米藥物與制劑-第9章(編輯修改稿)
2025-06-24 01:54 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 較細(xì)。 (2)受輻射熱影響較小，對(duì)樣品的損傷小。 (3)消耗金屬少。 (4)所需真空度低，節(jié)省時(shí)間。 ? (二 ) 組織導(dǎo)電法 用金屬鍍膜法使樣品表面導(dǎo)電，需要特殊的設(shè)備，操作比較復(fù)雜，同時(shí)對(duì)樣品有一定程度的損傷。為了克服這些不足，有人采用組織導(dǎo)電法 (又稱導(dǎo)電染色法 )，即利用某些金屬 溶液對(duì)生物樣品中的蛋白質(zhì)、脂類和醣類等成分的結(jié)合作用，使樣品表面離子化或產(chǎn)生導(dǎo)電性能好的金屬鹽類化合物，從而提高樣品耐受電子束轟擊的能力和導(dǎo)電率。 ? 四、掃描電鏡觀察 1 181。 m圖 92 掃描電子顯微鏡 (SEM) （ 2）透射電子顯微鏡 TEM ? 成像與原理光學(xué)顯微鏡一樣，只是光學(xué)顯微鏡用可見光作照明束，而透射電子顯微鏡則以電子作為照明束 ? 分辨率約為 1nm左右 ? 用于 研究納米材料的結(jié)晶情況，觀察納米粒子的形貌、分散情況， 測(cè)量和評(píng)估納米粒子的粒徑。 ? 樣品制作要求： ? 必須對(duì)電子束是透明的，通常樣品觀察區(qū)域厚度控制在 100200nm ? 支持膜分散粉末法：采用對(duì)電子束是透明的支持膜；常用的支持膜有火棉膠膜和碳膜，將支持膜放在銅網(wǎng)上，再把粉末放在支持膜上送入電鏡分析。 圖 91 納米微球透射電鏡圖 (TEM) 1 181。 m 圖 92 納米微球透射電鏡圖 (TEM) (3) 掃描探針顯微技術(shù) SPM ? 包 括： ? 掃描隧道電子顯微鏡 ? 原子力顯微鏡 ? 掃描力顯微鏡 ? 彈道電子發(fā)射顯微鏡 ? 掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 ? 掃描熱顯微鏡 ? 磁力顯微鏡 ? 光子掃描隧道顯微鏡等 原子力顯微鏡 AFM 原理：通過測(cè)量掃描探針和樣品表面間的相互作用力 ， 獲得表面點(diǎn)力的圖 。 圖 93 原子力顯微鏡圖 圖 93 原子力顯微鏡圖 (4) X射線衍射 XRD ? 用于測(cè)定粒子內(nèi)部晶態(tài)及非晶態(tài)結(jié)構(gòu) 根據(jù)晶體對(duì) X射線的衍射特征－衍射線的位置 、強(qiáng)度及數(shù)量來鑒定結(jié)晶物質(zhì)之物相的方法 ， 就是 X射線物相分析法 。 每一種結(jié)晶物質(zhì)都有各自獨(dú)特的化學(xué)組成和晶體結(jié)構(gòu)。沒有任何兩種物質(zhì)，它們的晶胞大小、質(zhì)點(diǎn)種類及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。因此，當(dāng) X射線被晶體衍射時(shí)，每一種結(jié)晶物質(zhì)都有自己獨(dú)特的衍射花樣，它們的特征可以用各個(gè)衍射晶面間距 d和衍射線的相對(duì)強(qiáng)度 I／ I0來表征。其中晶面間距 d與晶胞的形狀和大小有關(guān)，相對(duì)強(qiáng)度則與質(zhì)點(diǎn)的種類及其在晶胞中的位置有關(guān)。所以任何一種結(jié)晶物質(zhì)的衍射數(shù)據(jù) d和 I／ I0是其晶體結(jié)構(gòu)的必然反映，因而可以根據(jù)它們來鑒別結(jié)晶物質(zhì)的物相。 10 20 30 40 50 602 th e t a (d e gre e )P E GDA GNP 貯存 3 個(gè)月
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