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清華大學(xué)材料顯微結(jié)構(gòu)分析08-電子顯微鏡(編輯修改稿)

2025-05-27 04:32 本頁(yè)面

　

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 a FESu???BeBSeSEe法拉第罩F光導(dǎo)管LG)Eu(C a FS 2閃爍晶體Kv~ 1210)(收集柵試樣V25050 ???法拉第罩F?BSSE ee 或PM光電倍增管法拉第罩 F 作用： F為 50V偏壓： F為 +250V偏壓：避免 S上的 10KV影響 eB方向。 cmrcmDSrrD4141 22?????，的?takeoff Angle: ? =30? BSeBSeSEe( ) a. b. c. 無影燈效應(yīng) 立體感強(qiáng) 裝卸式可貼近試樣，置于試樣上方。表面有前置電極，可控入射 e 閾值，僅接收高能 eBS， 2. 固體探測(cè)器，主要用于背散射電子象。最大）（ BSe??鎳基合金－陶瓷復(fù)合鋼管界面背散射圖像 BSEBBSSEBSBSCiiiiiiii1030..????? 3. 試樣本身作為探測(cè)器在 Sample上加 +50V偏壓 0?SEi反映與類似的信號(hào) SCi BSe吸收電子象三 .反差 C 的影響因素：原子序數(shù) 反差試樣兩點(diǎn)信號(hào)強(qiáng)度 S 差 : 形貌反差 m a xm i nm a xSSSC ?? 10 ??? C(1) 原子序數(shù)反差。 ZS ??? ?影響小對(duì) Ze SE ,*212212??? ????SSSCZe BS ??,** 對(duì)應(yīng)是信號(hào)檢測(cè)器能在 CTR上的反映。 SrTiO3基 BLC的背散射圖像 :*** 兩者，則和包括了如果 SEBS eeC221122112 )()(???????????????????SEBSSEBSSEBSeeeeeeSSSC.,:, 的收集效率檢測(cè)器對(duì) SEBSSEBS eeee。反差可的，這時(shí)的加速電壓下，檢測(cè)中，如在因此，在????ZeeKVTESESE5*背散射電子圖象與吸收?qǐng)D象之關(guān)系：在 Sample上加正偏壓 : SCBSBSE iiii ??? 0SCBSB iii ??? ??BSBSSCSCiiii ????

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