【總結(jié)】在18900倍下對(duì)PVC糊樹脂近行觀測應(yīng)用實(shí)例在26000倍下觀測碳酸鈣粉末掃描電鏡ScanningElectronMicroanalyzer掃描電鏡(SEM)SEM的基本原理★焦深大,圖像富有立體感,特別適合于表面形貌的研究★放大倍數(shù)范圍廣,從十幾倍到2萬倍,幾乎覆蓋
2025-05-12 18:43
【總結(jié)】透射電鏡(TEM)王海波主要內(nèi)容?TEM發(fā)展概述?TEM的結(jié)構(gòu)和成像原理?TEM的樣品制備?TEM的應(yīng)用光學(xué)顯微鏡的極限???sinNh??德國理論光學(xué)家EAbbe于1918年指出限制光鏡分辨率的原理是光的衍射行為,并提出顯微鏡分辨率與照明波長的關(guān)系式:
2025-05-12 12:10
【總結(jié)】第二章透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理?透射電子顯微鏡是以波長極短的電子束作為照明源,用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。???????????????????????????????
2025-05-02 06:00
【總結(jié)】1第二章透射電子顯微鏡的主要結(jié)構(gòu)與成像234?真空系統(tǒng)?供電系統(tǒng)?電子光學(xué)系統(tǒng)第一節(jié)透射電子顯微鏡的主要結(jié)構(gòu)5電子光學(xué)系統(tǒng)67電子光學(xué)系統(tǒng)成像放大系統(tǒng)圖像觀察和記錄系統(tǒng)照明系統(tǒng)電子槍聚光鏡陰
2024-12-08 11:08
【總結(jié)】透射電子顯微鏡-TEMTransmissionelectronmicroscope內(nèi)容?簡介?結(jié)構(gòu)原理?樣品制備?透射電子顯微像?選區(qū)電子衍射分析TEM簡介?1898年.Thomson發(fā)現(xiàn)電子?1924年deBroglie提出物質(zhì)粒子波動(dòng)性假說和1927年實(shí)驗(yàn)的證實(shí)。?
2025-05-12 02:49
【總結(jié)】電子顯微鏡知識(shí)講座顯微鏡的歷史大約在400年前(1590年),由荷蘭科學(xué)家楊森和后來的博物學(xué)家列文虎克發(fā)明和完善的顯微鏡,向人們揭示了一個(gè)陌生的微觀世界,他們是開辟人類顯微分析的始祖。早期的顯微鏡因?yàn)樵缙诘娘@微鏡以玻璃鏡片做透鏡,使用可見光為光源,所以人們把它稱為光學(xué)顯微鏡?,F(xiàn)在,最好的光學(xué)顯微鏡可以達(dá)到1500倍的放
2025-02-21 09:59
【總結(jié)】實(shí)用電子顯微鏡技術(shù)測試中心陳義芳2021年緒論電子顯微鏡技術(shù)發(fā)展簡史第一節(jié)電子顯微鏡發(fā)展簡史第二節(jié)電子顯微鏡技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用第三節(jié)其他顯微技術(shù)的發(fā)展第一節(jié)電子顯微鏡發(fā)展簡史電子顯微鏡通常分為透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡兩種類型。利用電子顯微鏡可對(duì)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)及樣品表面形貌進(jìn)
2025-05-13 21:48
【總結(jié)】第八章透射電子顯微鏡透射電鏡的結(jié)構(gòu)原理射透電鏡的主要性能3/1/20231透射電鏡的結(jié)構(gòu)原理目前,風(fēng)行于世界的大型電鏡,分辨本領(lǐng)為2~3埃,電壓為100~500kV,放大倍數(shù)50~1202300倍。由于材料研究強(qiáng)調(diào)綜合分析,電鏡逐漸增加了一些其它專門儀器附件,如掃描電鏡、掃描透射電鏡、X射線能譜儀、
2025-02-13 18:51
【總結(jié)】透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡(Transmissionelectronmicroscopy,縮寫TEM),簡稱透射電鏡,是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像,影像將在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件)上顯示出來。由于電子的德布羅意波長非
2025-06-23 00:58
【總結(jié)】1上海水產(chǎn)大學(xué)生命學(xué)院周平凡光鏡與電鏡技術(shù)2第二部分:電子顯微鏡技術(shù)(電子顯微鏡和電子顯微術(shù)的總稱)3一、概述:第一章:電子顯微鏡的原理和結(jié)構(gòu)第一節(jié):幾個(gè)常用的基本概念第二節(jié):透射電子顯微鏡第三節(jié):掃描電子顯微鏡第四節(jié):其他類型的電子顯微鏡
2025-04-30 05:23
【總結(jié)】?掃描電鏡襯度的形成:主要利用樣品表面微區(qū)特征,如形貌、原子序數(shù)、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)或位向等的差異,在電子束作用下產(chǎn)生不同強(qiáng)度的物理信號(hào),使陰極射線管熒光屏上不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的亮度,獲得具有一定襯度的圖象。第六節(jié)掃描電鏡襯度像?形貌襯度的形成:二次電子產(chǎn)額強(qiáng)烈依賴于入射束與試樣表面法線間的夾角?。如
【總結(jié)】穿透式電子顯微鏡TEM班級(jí):光電二乙組員:劉昌明499L0001施峻富499L0096余家興499L0107指導(dǎo)老師:葉義生日期:2022/12/01目錄?什麼是TEM?TEM歷史簡介?TEM工作原理?TEM結(jié)構(gòu)系統(tǒng)介紹?TEM分析優(yōu)點(diǎn)及缺點(diǎn)?總結(jié)
2025-07-20 07:00
【總結(jié)】第10章透射電子顯微鏡第一節(jié)透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理透射電鏡的結(jié)構(gòu)與原理?透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscopy簡稱TEM)是以波長極短的電子束作為照明源,用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨本領(lǐng)、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。
2025-02-28 00:59
【總結(jié)】一、簡介二、基本物理概念三、主要參數(shù)四、工作模式與襯度原理五、主要部件六、應(yīng)用舉例七、電子探針掃描電子顯微鏡與電子探針(ScanningElectronMicroscope簡稱SEMandElectronProbeMicro-analysis簡稱EPMA)一、簡介SEM是利用
2025-05-07 18:13
【總結(jié)】電子顯微鏡光學(xué)顯微鏡分辨本領(lǐng)L:透鏡D:光闌α:透鏡對(duì)物點(diǎn)張角的一半。?愛瑞(Airy)斑:由于衍射效應(yīng),一個(gè)發(fā)光物點(diǎn)的像是一個(gè)一定尺寸的亮斑和周圍幾個(gè)亮環(huán)。一般將亮環(huán)忽略不計(jì),中央亮斑為物點(diǎn)的像,稱為愛瑞斑。光學(xué)顯微鏡分辨本領(lǐng)?瑞利(Rayleigh)判據(jù):A1和A2逐漸接近時(shí),A
2024-12-30 02:54