【總結(jié)】研究生畢業(yè)去向表屆姓名去向發(fā)表論文情況02周建萍中南大學(xué)博士發(fā)光學(xué)報(bào),2022,1:51-5503趙斌中山大學(xué)博士JournalofMaterialsSciencer,2022,39,1405SCI高分子學(xué)報(bào),
2025-05-01 18:02
【總結(jié)】實(shí)驗(yàn)八-1細(xì)胞超微結(jié)構(gòu)觀察與透射電子顯微鏡的使用掌握透射電子顯微鏡的成像基本原理及其應(yīng)用實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c要求一、透射電子顯微鏡的成像基本原理在真空條件下,電子束經(jīng)高壓加速后,穿透樣品時(shí)形成散射電子和透射電子,它們在電磁透鏡的作用下在熒光屏上成像。顯微鏡分辨本領(lǐng)光源透鏡真空成像原理LM
2025-07-18 22:09
【總結(jié)】第三部分電子顯微分析1武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳第五章電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)電子顯微分析電子顯微鏡一般由電子光學(xué)系統(tǒng),信號收集及顯示系統(tǒng),真空系統(tǒng)及電源系統(tǒng)組成。2武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1電子光學(xué)系統(tǒng)(1)電子顯微分析第五章電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)電子光學(xué)系統(tǒng)由電子槍,
2024-12-29 03:34
【總結(jié)】第三章掃描電子顯微鏡LightvsElectronMicroscope?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以類似電視攝影的方式,利用細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描時(shí)激發(fā)出來
2025-04-29 06:54
【總結(jié)】2011年春季學(xué)期研究生課程考核考核科目:電子顯微分析技能訓(xùn)練學(xué)生所在院(系):材料學(xué)院學(xué)生所在學(xué)科:材料加工工程學(xué)生姓名:學(xué)號:學(xué)生類別:考核結(jié)果閱卷人
2025-06-23 03:23
【總結(jié)】在18900倍下對PVC糊樹脂近行觀測應(yīng)用實(shí)例在26000倍下觀測碳酸鈣粉末掃描電鏡ScanningElectronMicroanalyzer掃描電鏡(SEM)SEM的基本原理★焦深大,圖像富有立體感,特別適合于表面形貌的研究★放大倍數(shù)范圍廣,從十幾倍到2萬倍,幾乎覆蓋
2025-05-12 18:43
【總結(jié)】掃描電子顯微鏡第三章掃描電子顯微鏡1.掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)2.電子束與固體樣品作用時(shí)產(chǎn)生的信號3.掃描電鏡的工作原理4.掃描電鏡的構(gòu)造5.掃描電鏡襯度像二次電子像背散射電子像6.掃描電鏡的主要性能7.樣品制備8.應(yīng)用舉例1.掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)l高的分辨率。由于超高真空技術(shù)的發(fā)展,場發(fā)射
2025-01-15 04:39
【總結(jié)】透射電子顯微鏡的成像原理透射電鏡像1、復(fù)型像:反映試樣表面狀態(tài)的像,襯度取決于復(fù)型試樣的原子序數(shù)和厚度;2、衍襯像:反映試樣內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和完整性,起源于衍射光束;3、相襯像:由透射束和一束以上的衍射束相互干涉產(chǎn)生的像。2、衍射襯度像明場像暗場像晶體的衍襯像:由于晶體的取向不同,導(dǎo)
2025-01-16 05:50
【總結(jié)】材料電子顯微學(xué)ElectronMicroscopyinMaterials1本課程適用于材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)工程、機(jī)械工程等學(xué)科的本科生。本課程講述電子顯微鏡及其在材料科學(xué)中的應(yīng)用,主要包括電子顯微學(xué)的主要原理,電子衍射結(jié)構(gòu)分析,電子衍襯圖象解釋,以及電子顯微分析技術(shù)的最新進(jìn)展。課程簡介2基本
2025-01-01 15:42
【總結(jié)】電子顯微鏡知識講座顯微鏡的歷史大約在400年前(1590年),由荷蘭科學(xué)家楊森和后來的博物學(xué)家列文虎克發(fā)明和完善的顯微鏡,向人們揭示了一個(gè)陌生的微觀世界,他們是開辟人類顯微分析的始祖。早期的顯微鏡因?yàn)樵缙诘娘@微鏡以玻璃鏡片做透鏡,使用可見光為光源,所以人們把它稱為光學(xué)顯微鏡?,F(xiàn)在,最好的光學(xué)顯微鏡可以達(dá)到1500倍的放
2025-02-21 09:59
【總結(jié)】實(shí)用電子顯微鏡技術(shù)測試中心陳義芳2021年緒論電子顯微鏡技術(shù)發(fā)展簡史第一節(jié)電子顯微鏡發(fā)展簡史第二節(jié)電子顯微鏡技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用第三節(jié)其他顯微技術(shù)的發(fā)展第一節(jié)電子顯微鏡發(fā)展簡史電子顯微鏡通常分為透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡兩種類型。利用電子顯微鏡可對樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)及樣品表面形貌進(jìn)
2025-05-13 21:48
【總結(jié)】第三章掃描電子顯微鏡LightvsElectronMicroscope?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以類似電視攝影的方式,利用細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描時(shí)激發(fā)出來的各種物理
2025-01-15 04:37
【總結(jié)】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析2?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。?SEM在60’s商品化,應(yīng)用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的二次電子
2025-05-04 06:57
【總結(jié)】掃描電子顯微鏡基礎(chǔ)黃銳.ScanningElectronMicroscopeOutline?掃描電鏡?光學(xué)顯微鏡與掃描電鏡—OM&SEM?掃描電鏡的特點(diǎn)—FeaturesofSEM?掃描電鏡的原理—MechanismofSEM
2025-05-01 18:11
【總結(jié)】?掃描電鏡襯度的形成:主要利用樣品表面微區(qū)特征,如形貌、原子序數(shù)、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)或位向等的差異,在電子束作用下產(chǎn)生不同強(qiáng)度的物理信號,使陰極射線管熒光屏上不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的亮度,獲得具有一定襯度的圖象。第六節(jié)掃描電鏡襯度像?形貌襯度的形成:二次電子產(chǎn)額強(qiáng)烈依賴于入射束與試樣表面法線間的夾角?。如
2024-12-08 11:08