x射線衍射儀與能譜儀綜合介紹(編輯修改稿)
2025-05-23 13:10 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 在烘箱中干燥。如果是由不規(guī)則固體樣品轉(zhuǎn)換制備的液體樣品，前處理過程必須確保樣品的代表性以保證結(jié)果準確。 全反射 X射線能譜 ? 分析應用的特點 樣品量示意～全反射能譜與普通 X射線能譜儀 X射線衍射儀 晶體：原子在三維空間中長程有 。 序排列 晶胞：重復排列的最小單元稱晶胞 晶胞參數(shù)：三個軸長 a , b , c。 A 三個軸的夾角 ? , ? , ? 按排列規(guī)律可分為 7種晶系， 14種。 點陣， 230種空間群 大部分種類的物質(zhì)是晶體 。 晶體知識 簡單立方 體心立方 面心立方 a = b = c ? = ? = ? = 90176。 簡單四方（正方） 體心四方（正方） a = b ? c ? = ? = ? = 90176。 簡單正交 體心正交 底心正交 面心正交 a ? b ? c ? = ? = ? = 90176。 簡單單斜 底心單斜 a ? b ? c ? = ? = 90? ? ? 三斜 a ? b ? c ? ? ? ? ? ? 90? 六方 a = b ? c， ? = ? = 90?， ? = 120? 三方 (菱形 ) a = b＝ c， 90? ? ? = ? = ? 120? 7種晶系， 14種點陣，晶胞參數(shù) (邊長 a,b,c 夾角 ?,?,?) 入射 X射線，波長＝ ? 衍射 X射線 ?＝衍射角 晶體點陣 晶面間距 = d hkl 當 X射線照射到晶體上時，每個原子都散射 X射線：相干散射和不相干散射 如左圖：產(chǎn)生衍射的條件是兩層的光程差是波長的整數(shù)倍 2d hkl ? sin ?＝ n ? 布拉格公式 晶體有不同的晶面，不同的晶面有不同的晶面間距，如左圖的 d1， d2， d3，各自的衍射角不同，各自的衍射強度也不同。 實際晶體是三維的點陣排列，衍射也是在三維空間產(chǎn)生。 d1 d2 d3 ? h k l晶面 X射線衍射原理 ? 方法實質(zhì)： X射線與物質(zhì)作用產(chǎn)生衍射現(xiàn)象 ? 衍射分析三要素： 峰位、峰強、峰形 ? 不同物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)不同，衍射圖譜也不同：衍射線的分布，各衍射線的角度，各衍射線的相對強度比不同 X射線衍射儀的應用 粉末 X射線衍射儀應用范圍遍及廣泛的部門和領(lǐng)域。在材料科學、物理學、化學、 石油化工催化劑、地質(zhì)、礦物、冶金、鋼鐵、陶瓷、建材、電子、土壤、環(huán)保、藥物、醫(yī)學， 以至考古、刑偵、商檢等眾多學科、相關(guān)的工業(yè)、行業(yè)中都有重要的應用，是理工科院校和涉及材料研究、生產(chǎn)的研究部門、廠礦實驗室的重要的、不可缺少的大型分析設備。 粉末 X射線衍射儀為固 態(tài) 物質(zhì)分析鑒定工作不可缺少的基本分析儀器。 X射線衍射儀的應用 粉末衍射儀的重要應用： ? 物相分析 （物相鑒定和定量分析，結(jié)晶度分析） ? 晶體結(jié)構(gòu)分析 或精修 （ Rietveld分析） ? 晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)的測定 ( 相界的測定 、 分子篩SiO2/Al2O3比的測定 、宏觀應力 的測定 ...等等。 ) ? 晶粒尺寸 、微觀應力 的測定 ? 織構(gòu)分析 （晶粒取向分析） ? 薄膜分析 （薄膜物相組成 ,薄膜反射率測定 .） 物相定性分析 NiO 471049 Si 271402 Fe 2O3 330664 20? 100 ? 測定所需鑒定的樣品，得到它的衍射峰的位置和強度。與標準數(shù)據(jù)庫對比。和數(shù)據(jù)庫中的哪種或哪幾種物質(zhì)的數(shù)據(jù)相符，即確定樣品為那種物質(zhì)或那幾種物質(zhì)所組成。
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