20xx系統(tǒng)集成項(xiàng)目管理人員繼續(xù)教育d組真題及模擬題(編輯修改稿)
2025-04-23 23:06 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 政務(wù)類應(yīng)用系統(tǒng)的功能測(cè)試，為設(shè)計(jì)有效的測(cè)試用例，應(yīng)（B） 。 A． 使業(yè)務(wù)需求的覆蓋率達(dá)到100% B．利用等價(jià)類法模擬核心業(yè)務(wù)流程的正確執(zhí)行 C．對(duì)一個(gè)業(yè)務(wù)流程的測(cè)試用例設(shè)計(jì)一條驗(yàn)證數(shù)據(jù) D．經(jīng)常使用邊界值法驗(yàn)證界面輸入值 56. （C）測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法既可以用于黑盒測(cè)試，也可以用于白盒測(cè)試。 A． 邊界值法 B．基本路徑法 C．正交試驗(yàn)設(shè)計(jì)法 D．邏輯覆蓋法 對(duì)“功能測(cè)試的回歸測(cè)試經(jīng)常要多次重復(fù)”的正確理解是（D） 。 A． 回歸測(cè)試應(yīng)該執(zhí)行初測(cè)時(shí)所用的全部測(cè)試用例 B．回歸測(cè)試只要執(zhí)行發(fā)現(xiàn)缺陷的那些測(cè)試用例即可 C．通過多次的回歸測(cè)試可以發(fā)現(xiàn)所有缺陷 D．回歸測(cè)試就是驗(yàn)收測(cè)試 57. 功能測(cè)試執(zhí)行過后一般可以確認(rèn)系統(tǒng)的功能缺陷，缺陷的類型包括（B） 。 ① 功能不滿足隱性需求②功能實(shí)現(xiàn)不正確 ④ 功能易用性不好③功能不符合相關(guān)的法律法規(guī) A．① B．①②③ C．②③④ D．② 58. 以下關(guān)于軟件測(cè)試的概念，正確的是（D） 。 A． 軟件測(cè)試的目的是想證實(shí)在一個(gè)給定的外部環(huán)境中軟件的邏輯正確性，即保證軟件以正確的方式來做這個(gè)事件 B．軟件質(zhì)量保證的基本措施就是對(duì)軟件進(jìn)行確認(rèn)測(cè)試 C．軟件測(cè)試的對(duì)象不僅僅是程序，文檔、數(shù)據(jù)和規(guī)程都是軟件測(cè)試的對(duì)象 D．單元測(cè)試可檢驗(yàn)程序單元或部件的接口關(guān)系，應(yīng)能發(fā)現(xiàn)并排除在模塊連接中可能發(fā)生的問題59. 以下不正確的軟件測(cè)試原則是（B） 。 A． 軟件測(cè)試可以發(fā)現(xiàn)軟件潛在的缺陷 B．所有的軟件測(cè)試都可追溯到用戶需求 C．測(cè)試應(yīng)盡早不斷地執(zhí)行 D．程序員應(yīng)避免測(cè)試自己的程序 60. 在編碼階段對(duì)系統(tǒng)執(zhí)行的測(cè)試類型主要包括單元測(cè)試和集成測(cè)試，（A）屬于單元測(cè)試的內(nèi)容。 A．接口數(shù)據(jù)測(cè)試 B．局部數(shù)據(jù)測(cè)試 C．模塊間時(shí)序測(cè)試 D．全局?jǐn)?shù)據(jù)測(cè)試61. 以下關(guān)于軟件測(cè)試概念的敘述，不正確的是（A） 。 A． 軟件失效指軟件運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生了一種不希望或不可接受的內(nèi)部行為 B．軟件功能實(shí)現(xiàn)超出了產(chǎn)品說明書的規(guī)定說明軟件存在缺陷 C．測(cè)試目的是為了發(fā)現(xiàn)軟件缺陷與錯(cuò)誤，也是對(duì)軟件質(zhì)量進(jìn)行度量和評(píng)估 D．在軟件生命周期各個(gè)階段都可能產(chǎn)生錯(cuò)誤62. 以下關(guān)于軟件測(cè)試分類定義的敘述，不正確的是（A）。 A．軟件測(cè)試可分為單元測(cè)試、集成測(cè)試、確認(rèn)測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試 B．確認(rèn)測(cè)試是在模塊測(cè)試完成的基礎(chǔ)上，將所有的程序模塊進(jìn)行組合并驗(yàn)證其是否滿足用戶需求的過程 C．軟件測(cè)試可分為白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試 D．系統(tǒng)測(cè)試是將被測(cè)軟件作為整個(gè)基于計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的一個(gè)元素，與計(jì)算機(jī)硬件、外設(shè)、某些支持軟件、數(shù)據(jù)和人員等其他系統(tǒng)元素結(jié)合在一起進(jìn)行測(cè)試的過程 63. 正確的集成測(cè)試描述包括（A） 。 ①集成測(cè)試也叫做組裝測(cè)試，通常是在單元測(cè)試的基礎(chǔ)上，將模塊按照設(shè)計(jì)說明書要求進(jìn)行組裝和測(cè)試的過程。 ②自頂向下的增殖方式是集成測(cè)試的一種組裝方式，它能較早地驗(yàn)證主要的控制和判斷點(diǎn)，對(duì)于輸入輸出模塊、復(fù)雜算法模塊中存在的錯(cuò)誤能夠較早地發(fā)現(xiàn)。 ③集成測(cè)試的目的在于檢查被測(cè)模塊能否正確實(shí)現(xiàn)詳細(xì)設(shè)計(jì)說明中的模塊功能、性能、接口和設(shè)計(jì)約束等要求 ④集成測(cè)試需要重點(diǎn)關(guān)注各個(gè)模塊之間的相互影響，發(fā)現(xiàn)并排除全局?jǐn)?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)問題 A．①② B．②③ C．①④ D．②④64. （B）不會(huì)影響測(cè)試質(zhì)量。 A．用戶需求頻繁變化 B．測(cè)試流程不規(guī)范 C．采用背靠背測(cè)試方式 D．測(cè)試周期被壓縮 65. （C）不屬于測(cè)試人員編寫的文檔。 A．缺陷報(bào)告 B．測(cè)試環(huán)境配置文檔 C．缺陷修復(fù)報(bào)告 D．測(cè)試用例說明文檔 66. 假設(shè)在程序控制流圖中，有 12 條邊，8 個(gè)節(jié)點(diǎn)，則確保程序中每個(gè)可執(zhí)行語句至少執(zhí)行一次所必需的測(cè)試用 例數(shù)目的上限是（B）。A．12 B．8 C．6 D．4 67. 關(guān)于白盒測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法敘述，正確的是（D） 。A． 完成SC（語句判定）所需的測(cè)試用例數(shù)目一定多于完成DC（邏輯判定）所需的測(cè)試用例數(shù)目B．達(dá)到100％CC（條件判定）要求就一定能夠滿足100％SC的要求 C．達(dá)到 100％CDC（條件判定組合覆蓋）要求就一定能夠滿足 100％CC的要求 D．任何情況下，都可以達(dá)到100％路徑覆蓋的要求68. 針對(duì)下列程序段，需要（C）個(gè)測(cè)試用例可以滿足分支覆蓋的要求。 int IsLeap(int year) { if ( year % 4 == 0 ) { if ( ( year % 100 == 0 ) { if ( year % 400 == 0 ) leap = 1。 else leap = 0。 } else leap = 1。 } else leap = 0。 return leap。 } A．3 B．4 C．6 D．7 69. 黑盒測(cè)試中，（ B）是根據(jù)輸出對(duì)輸入的依賴關(guān)系設(shè)計(jì)測(cè)試用例。 A．基本路徑法 B．等價(jià)類 C．因果圖 D．功能圖法 70. Web應(yīng)用系統(tǒng)負(fù)載壓力測(cè)試中，（ A）不是衡量業(yè)務(wù)執(zhí)行效率的指標(biāo)。 A．并發(fā)請(qǐng)求數(shù) B．每秒點(diǎn)擊率 C．交易執(zhí)行吞吐量 D．交易執(zhí)行響應(yīng)時(shí)間71. 軟件測(cè)試的基本方法包括白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試方法，以下關(guān)于二者之間關(guān)聯(lián)的敘述，錯(cuò)誤的是（C） 。 A． 黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試是設(shè)計(jì)測(cè)試用例的兩種基本方法 B．在集成測(cè)試階段是采用黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試相結(jié)合的方法 C．針對(duì)相同的系統(tǒng)模塊，執(zhí)行黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試對(duì)代碼的覆蓋率都能夠達(dá)到100％ D．應(yīng)用系統(tǒng)負(fù)載壓力測(cè)試一般采用黑盒測(cè)試方法 72. 為驗(yàn)證某音樂會(huì)訂票系統(tǒng)是否能夠承受大量用戶同時(shí)訪問，測(cè)試工程師一般采用（B）測(cè)試工具。 A．故障診斷 B．代碼 C．負(fù)載壓力 D．網(wǎng)絡(luò)仿真 73. 在下列所列舉的邏輯測(cè)試覆蓋中，測(cè)試覆蓋最強(qiáng)的是（B），最弱的是（A） A 條件覆蓋 B條件組合覆蓋 C語句覆蓋 D判定/條件覆蓋 75. 測(cè)試用例是測(cè)試使用的文檔化的細(xì)則，其規(guī)定如何對(duì)軟件某項(xiàng)功能或功能組合進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試用例應(yīng)包括下列 （ B ）內(nèi)容的詳細(xì)信息。 1. 測(cè)試目標(biāo)和被測(cè)功能。 2. 測(cè)試環(huán)境和其他條件。 3. 測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試步驟。 4. 測(cè)試記錄和測(cè)試結(jié)果。 A．① ③ B．① ② ③ C．① ③ ④ D．① ② ③ ④ 76. 關(guān)于確認(rèn)測(cè)試，描述正確的是（ B） 1. 確認(rèn)測(cè)試一般包括
試題試卷相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1