【文章內(nèi)容簡介】 體（線芯）和絕緣體（線皮）耐溫度范圍（導(dǎo)線供應(yīng)商推薦的溫度范圍）不能低于產(chǎn)品所需承受的溫度范圍（從表 2中所選取的溫度范圍）。 表 2 連接 器環(huán)境溫度范圍（分級） 等級 環(huán)境溫度范圍 1 40℃～ +85℃ 2 40℃～ +100℃ 3 40℃～ +125℃ 4 40℃～ +150℃ 5 40℃～ +175℃ 注： 如果一個(gè)接觸件在連接器中被周圍的接觸件包圍，則該接觸件的溫升數(shù)值比單獨(dú)接觸件（該接觸件在連接器中沒有相鄰的接觸件）的溫升數(shù)值要高。因?yàn)樵谙嗤碾娏飨?，周圍的接觸件也會散發(fā)熱量，所以被包圍的Q/HX 104—2020 3 接觸件散發(fā)熱量就會更慢。 Header 連接器和直接連接零部件 對于某些情況，我們只有陰連接器或陽連接器（通常只有陰連接器），而與之對配的連接 器是電子設(shè)備的一部分，而非獨(dú)立的連接部件。試驗(yàn)時(shí)不能夠引入不想要的電流通路。 在測量接觸件的連接電阻時(shí)涉及到材料電阻。如果“ tail”長度（“ tail”為針類連接器中針尾部的部分，即不與對配連接器對配的部分，如“接線盒 /保險(xiǎn)絲盒”中針與 PCB板接觸的部分）不長，通常是將毫伏計(jì)的探頭放在“ tail”處測量連接電阻。在計(jì)算連接電阻時(shí)，將“ tail”處材料電阻減去。如果“ tail”很長，超過 50mm，則可以將毫伏計(jì)探頭放在 30mm～ 50mm之間適宜的位置測量連接電阻，在計(jì)算連接電阻時(shí)減去所選取長度的材料電阻。 當(dāng) 安放探頭的時(shí)候，注意探頭不能損壞鍍層或引起零件應(yīng)力釋放，推薦使用散熱設(shè)備。 圖 1 毫伏計(jì)探頭安放位置 接觸件樣品準(zhǔn)備 對于需要壓接的接觸件，用壓接機(jī)器壓接接觸件和導(dǎo)線。要求記錄壓接高度和壓接寬度。對于 Header連接器，只需對陰連接器的接觸件進(jìn)行壓接。需要對樣品進(jìn)行標(biāo)記。壓接的樣品要求符合壓接性能規(guī)范。 預(yù)處理 — 連接器和 /或接觸件插拔循環(huán) 目的 該程序是對連接器或接觸件進(jìn)行預(yù)處理：循環(huán)插拔操作。因?yàn)檫B接器在整個(gè)壽命期間，包括生產(chǎn)、使用和維護(hù)，都可能會出現(xiàn)這種情況。當(dāng)作為一系列試驗(yàn)的一部分時(shí)完成該項(xiàng)程序。 設(shè)備 無 要求 無 操作方法 完全將連接器或接觸件插入和拔出 10次。當(dāng)只有接觸件時(shí)，注意在插拔時(shí)要對正插拔，否則會引起接觸件變形。在最后一次拔出后（第 10次）再重新將連接器或接觸件對插好進(jìn)行隨后的試驗(yàn)。 外觀 [3] 目的 該測試目的在于記錄樣品的物理外觀，試驗(yàn)可以由一個(gè)具有正?；蛐Ｕ暳途邆湔ｎ伾鎰e力的人來完成。除了采用文件記錄方式，鼓勵使用照片和 /或錄像記錄方式。每組樣品中必須保留一個(gè)樣品以便試驗(yàn)前后的樣品進(jìn)行比較，并且對該樣品進(jìn)行標(biāo)識。 設(shè)備 照相機(jī)和 /或攝象機(jī)（如需要）、放大鏡等放大設(shè)備（如需要） 要求 Q/HX 104—2020 4 用 10倍的放大鏡，連接器不能看到明顯的退化、開裂、變形等缺陷。這些缺陷會影響連接器的功能或降低連接器的性能。連接器的鎖定裝置或結(jié)構(gòu)特征不能被破壞。連接器的密封物（若有）不會被破壞。 試驗(yàn)方法 在進(jìn)行試驗(yàn)和 /或處理前目視檢查每一個(gè)樣品，詳細(xì)記錄任何制造或材料缺陷，如開裂、印花、飛邊等缺陷。推薦采用照相機(jī)和 /或攝象機(jī)將樣品記錄下來并且保留一個(gè)添了標(biāo)簽的樣品。 完成試驗(yàn)和 /或處理后，重新檢查樣品，詳細(xì)記錄可以觀察到的變化，如膨脹、腐蝕、變色、鍍層磨損、變形、開裂等缺陷。將試驗(yàn)和 /或處理后的樣品與添了標(biāo)簽的 樣品（試驗(yàn)和 /或處理前），照相機(jī)和 /或攝象機(jī)將樣品記錄下來的圖片進(jìn)行比較。記錄觀察到的任何變化。 電連續(xù)性監(jiān)測（瞬斷監(jiān)測） 目的 當(dāng)某項(xiàng)試驗(yàn)有電連續(xù)性要求時(shí)需要做電連續(xù)性監(jiān)測。因?yàn)檎駝踊蚪佑|界面的磨損或在接觸界面有不導(dǎo)電的碎片都可能引起電路瞬斷。 設(shè)備 瞬斷儀或電連續(xù)性檢測儀或等同設(shè)備（要求能夠檢測 1μ s不連續(xù)），直流電源（能夠提供 100mA DC電流電） 要求 不允許出現(xiàn)不連續(xù)性情況即：流過電阻器的電流≤ 95mA，時(shí)間≥ 1μ s； 或 整對接觸件的連接電阻≥ ，時(shí)間≥ 1μ s。 見圖 2所示接受標(biāo)準(zhǔn)。 圖 2 電連續(xù)性監(jiān)測接受要求 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)至少需要 10對接觸件和 5對連接器。被監(jiān)測的接觸件在連接器中必須盡量均勻分配。一般參見如下圖 3所示（也可以按照實(shí)際成品的分布）： 圖 3 電連續(xù)性監(jiān)測中接觸件在連接器中的一般分布 方案 1：將所有樣品連接起來。要求只形成一個(gè)回路，只有兩個(gè)自由端。將導(dǎo)線的一個(gè)自由端與 2W，（ 120177。 ）Ω的電阻器。另一端與直流電源連接。將電連續(xù)性檢測儀與電阻器并聯(lián)。調(diào)整直流電源，向電路提供 100mA DC的電流。 設(shè)置電連續(xù)性檢測儀監(jiān)測流過電阻器的電流，記錄結(jié)果是否符合接受要求。 方案 2：是將電連續(xù)性檢測儀監(jiān)測接觸件而不是監(jiān)測電阻器，其它同方案 1。 圖 4所示是電連續(xù)性監(jiān)測布局圖。 注： 受監(jiān)測的接觸件不能用予隨后的接觸電阻（干電路電阻）測試中。 Q/HX 104—2020 5 圖 4 連續(xù)性監(jiān)測線路圖 接觸件 — 機(jī)械性能試驗(yàn) 接觸件 — 接觸件插入力 /拔出力 [1] 目的 該項(xiàng)測試是驗(yàn)證兩個(gè)對配接觸件的兼容性。在連接器設(shè)計(jì)時(shí)，考慮到兩個(gè)的連接器對配的力不應(yīng)太大，就要確定一個(gè)連接器所能裝接觸件的數(shù)量。而接觸件數(shù)量的確定在很大程度上需要 收集接觸件 — 接觸件插拔力的信息。只需記錄第 1次插入力、第 1次拔出力和最后 1次（第 10次）拔出力。 設(shè)備 測力計(jì)、標(biāo)準(zhǔn)針（可選方案） 要求 接觸件 — 接觸件插入力 /拔出力符合詳細(xì)規(guī)范的要求。 試驗(yàn)方法 a) 對樣品進(jìn)行編號標(biāo)識。準(zhǔn)備至少 20只樣品（ 10只陽接觸件和 10只陰接觸件）。如果要做與標(biāo)準(zhǔn)針的插入力 /拔出力（可選方案），則還要另外準(zhǔn)備 10只陰接觸件； b) 將陽接觸件和陰接觸件裝入工裝，使得兩個(gè)接觸件能夠?qū)φ灏危? c) 以不超過 50mm/min的速度將兩個(gè)接觸件對插，所施加的力應(yīng)該和接觸件的中心線平行。正確對正接觸件是避 免產(chǎn)生附加負(fù)荷影響測試結(jié)果的關(guān)鍵； d) 記錄接觸件 — 接觸件插入力； e) 將一個(gè)接觸件以不超過 50mm/min的速度從另一個(gè)接觸件中拔出，所施加的力應(yīng)該和接觸件的中心線平行； f) 重復(fù)步驟（ c）和（ e），記錄第 1次和第 10次的拔出力； g) （可選方案）用標(biāo)準(zhǔn)針代替實(shí)際陽接觸件，重復(fù)步驟（ b）～（ f）。使用新的陰接觸件進(jìn)行測試。標(biāo)準(zhǔn)針應(yīng)該是拋光鋼制產(chǎn)品而且公差在 。表面光潔度至少（ – ）μ s。拋光方向必須和標(biāo)準(zhǔn)針的長度方向相同。 接觸件 — 電性能試驗(yàn) 接觸電阻（干電路電阻） [2] 目的 該試驗(yàn)是 確定連接電阻的大小。包括兩個(gè)壓接電阻（對于 Header連接器只有一個(gè)壓接電阻）和一個(gè)配對接觸件接觸界面電阻。該電阻是在較低功率下獲得的。因?yàn)楫a(chǎn)品經(jīng)過使用或經(jīng)過環(huán)境負(fù)荷影響后會在接觸件接觸表面產(chǎn)生絕緣薄膜，所以在此項(xiàng)測試之前不能進(jìn)行其它的電性能試驗(yàn)。 設(shè)備 微歐姆表（開路電壓不超過 20mV，測試電流不超過 100mA） 要求 總連接電阻值不超過表 3中的數(shù)值。 Q/HX 104—2020 6 表 3 試驗(yàn)后總連接電阻值 陽接觸件規(guī)格（ mm） 試驗(yàn)后總連接電阻值（ mΩ） Maximum * 注： 上述陽接觸件規(guī)格按照陽接觸件對配部分寬度來命名 試驗(yàn)方法 由于某些原因，接觸件已經(jīng)在連接器中，則不允許將接觸件從連接器中拔出來。對于這種情況，略過步驟 1和步驟 5～ 7。如果試驗(yàn)樣品在接觸電阻（干電路電阻）試驗(yàn)之前進(jìn)行過其它電性能試驗(yàn)，那么該試驗(yàn)就沒有很大的意義了。 a) 按照 20只接觸件樣品（至少 10只陽接觸件和 10只陰接觸件）。要求用產(chǎn)品所允許的最大導(dǎo)線（最大導(dǎo)體和最厚絕緣體）壓接接觸件； b) 不能在毫伏計(jì)測試筆附在測試點(diǎn)之前將兩個(gè)接觸件對配。不能將兩個(gè)已經(jīng)對配好的連接器或接觸件分開，不能將已經(jīng)裝入連接器塑件（塑件（護(hù)套））的接觸件取出； c) 測量和記錄 150mm長導(dǎo)線的電阻。對于 Header連接器參考 ，并且測量 75mm長導(dǎo)線的電阻，如果兩個(gè)測試點(diǎn)間的距離超過 150mm，對于額外的導(dǎo)線電阻應(yīng)該測量出來并且在計(jì)算電阻時(shí)要減去； d) 選擇測量方法。對于絞合（扭絞）線，測試點(diǎn) T1必須焊接好。對于 Header連接器， T2點(diǎn)在 Header連接器的“ tail”上。儀器測試筆的線不能大于 （ 24AWG）； e) 該試驗(yàn)要求兩個(gè)接觸件必須對配好，對配的深度必須嚴(yán)格控制好。對配的深度參見 圖 6的說明；可以對陽接觸件進(jìn)行標(biāo)記來控制插配深度?？赡芤胛廴疚?，改變陽接觸件或接觸界面強(qiáng)度或?qū)щ娦缘目毯蹣?biāo)記法或其它標(biāo)記法都是不允許的； f) 在插配接觸件之前，需先將接觸件固定在不導(dǎo)電的表面上（或裝置上），使得在整個(gè)試驗(yàn)中兩個(gè)接觸件的接觸界面保持穩(wěn)定； g) 按照步驟（ e）小心地將兩個(gè)接觸件對配。確保插入力與接觸件中心線平行。注意插入深度保持穩(wěn)定； h) 用適用的設(shè)備測量和記錄 T1和 T2之間的電阻，見圖 5。再減去導(dǎo)線電阻就獲得總的連接電阻。 圖 5 連接電阻試驗(yàn)中測試表筆安放位置 Q/HX 104—2020 7 圖 6 接觸件 對配深度 電壓降 [2] 目的 該項(xiàng)試驗(yàn)用來確定在基本電流條件下的電壓降。然后用該電壓降計(jì)算總連接電阻。 設(shè)備 數(shù)顯外用表（ DMM）、直流電源（可調(diào)節(jié) 020 V， 0150 A）、分流器（若需要） 要求 試驗(yàn)后總連接電阻值不超過表 3中的數(shù)值。環(huán)境試驗(yàn)后再進(jìn)行總連接電阻測試，測試所得的結(jié)果也應(yīng)符合表 3的要求。 注 1：表 3中的數(shù)值為 “壓接 — “ tail””電阻 導(dǎo)線電阻； 注 2：對于 。對于大于上述規(guī)格的接觸件一般是在特殊用途中使用，有負(fù)責(zé)人確定，但不管什么情況，總連接電 阻都不能大于 20mΩ。 試驗(yàn)方法 a) 按照 20只接觸件樣品（至少 10只陽接觸件和 10只陰接觸件）。要求用產(chǎn)品所允許的最大導(dǎo)線（最大導(dǎo)體和最厚絕緣體）壓接接觸件； b) 按照 /或接觸件插拔循環(huán)進(jìn)行預(yù)處理； c) 該試驗(yàn)要求兩個(gè)接觸件必須對配好，對配的深度必須嚴(yán)格控制好。對配的深度參見圖 6的說明；可以對陽接觸件進(jìn)行標(biāo)記來控制插配深度?？赡芤胛廴疚铮淖冴柦佑|件或接觸界面強(qiáng)度或?qū)щ娦缘目毯蹣?biāo)記法或其它標(biāo)記法都是不允許的；本試驗(yàn)不允許將接觸件裝入連接器塑件（塑件（護(hù)套））中。因?yàn)樗芗ㄋ芗?（護(hù)套））會影響散熱，不同孔位的接觸件就會受到不同的影響，這樣收集到的數(shù)據(jù)就缺乏可比性； d) 在插配接觸件之前，需先將接觸件固定在不導(dǎo)電的表面上（或裝置上），使得在整個(gè)試驗(yàn)中兩個(gè)接觸件的接觸界面保持穩(wěn)定； e) 按照步驟（ c）小心地將兩個(gè)接觸件對配。確保插入力與接觸件中心線平行。注意插入深度保持穩(wěn)定； f) 按照圖 7連接電路。調(diào)整直流電源提供規(guī)定電流 [5A/mm2（導(dǎo)體截面積） ]。導(dǎo)線用步驟（ a）準(zhǔn)備的導(dǎo)線；一個(gè)試驗(yàn)中可以測試幾對接觸件。記錄試驗(yàn)電流； g) 測量和記錄 150mm長導(dǎo)線的電壓降。對于 Header連接器參考 ，并且測量 75mm長導(dǎo)線的電壓降，如果兩個(gè)測試點(diǎn)間的距離超過 150mm，對于額外的導(dǎo)線電阻應(yīng)該測量出來并且在計(jì)算電阻時(shí)要減去； Q/HX 104—2020 8 h) 選擇測量方法。對于絞合（扭絞）線，測試點(diǎn) T1必須焊接好。對于 Header連接器， T2點(diǎn)在 Header連接器的“ tail”上。儀器測試筆的線不能大于 （ 24AWG）； i) 將試驗(yàn)電流和所測得的電壓降 V（ T1T2）或 V（ T1“ tail”）（對于 Header連接器）代入如下的公式中： V連接 = V（ T1T2） [V導(dǎo)線 （步驟 g） ] 總連接電阻 = V連接 247。試驗(yàn)電流 j) 用計(jì)算所 得的結(jié)果與接受要求對照，判斷符合性。 圖 7 電壓降試驗(yàn)線路圖 最大電流能力 [2] 目的 該試驗(yàn)是確定接觸件在室溫環(huán)境中不會引過熱和 /或電阻變化的最大電流能力。對于每一導(dǎo)線規(guī)格，可以一溫升為 Y軸，電流為 X軸繪出圖形。但該圖形并不應(yīng)用實(shí)際汽車接觸件中。該試驗(yàn)單獨(dú)用接觸件做試驗(yàn)而不用連接器塑件（塑件（護(hù)套）），因?yàn)檫@樣可以避免由于不同連接器塑件（塑件（護(hù)套））所產(chǎn)生的不同散熱特性。 最大電流能力試驗(yàn)只是為 1008h電流循環(huán)試驗(yàn)提供電流極限值而已，而不作為接觸件在實(shí)際應(yīng)用中的最大電流 值。 因?yàn)樵趯?shí)際應(yīng)用中還有很多因素影響流過接觸件的最大電流，包括以下方面： ? 導(dǎo)線規(guī)格型號：大的導(dǎo)線能夠降低散熱，熱量進(jìn)入連接器中，這樣會降低接觸件操作溫度。而小的導(dǎo)線產(chǎn)生相反的效果； ? 零部件：一些零部件能夠增加散熱，而另一些能夠降低散熱。散熱效果對接觸件最大電流能力影響很大； ? 接觸件在連接器的位置：一個(gè)接觸件被周圍的接觸件包圍，它工作時(shí)的溫度肯定比沒有被其它接觸件包圍的接觸件高； ? 連接器是否密封：對于同樣的接觸件和同樣的電流，密封型連接器工作時(shí)候的熱量肯定比非密封型連接器高（同樣接觸件和同樣導(dǎo)線）； ? 環(huán)境溫度 ：在高的環(huán)境溫度中工作的連接器，如發(fā)動機(jī)附近的連接器，肯定比在低的環(huán)境