【文章內容簡介】 意一側。 射線拍片標記放置如圖所示 ： 工件編號 焊縫編號 焊工號 XXXXX XXXX XXXX XXXXXX 像質計 中心標記 拍片日期 位置 標記 按 條的規(guī)定放置像質計。 用磁鐵或膠帶將暗袋固定在透照部位。 對焦 根據確定的幾何條件 ,將探傷設備固定在透照部位 ,調整好透照焦距 ,使射線源焦點對準探傷部位的透照中心線。 散射線的屏蔽 為防止散射線的影響應用厚度不小于 1mm 的鉛板屏蔽背散。 曝光 根據 條確定的曝光參數和探傷設備的操作規(guī)程進行曝光操作 .曝光時應注意操作人員和其他人員的安全防護。 探傷標記 探傷 部位應打印永久性探傷標記 ,其內容包括 :定位標記、焊縫編號、部位編號。不適宜打鋼印的工件，可用油漆、記號筆等進行標注。并在單線圖上標注探傷位置。 暗室處理 顯、定影藥應按所用膠片推薦的配方配制。 顯影 顯影溫度 1822℃，顯影時間為 58 分鐘，在顯影過程中應使膠片上下移動，以使顯影均勻。 停顯 顯影結束后，將膠片放入 3%的醋酸中停顯 30 秒，或在清水中強力抖動，漂洗 23 分鐘。 定影 停顯后的膠片放入定影液中的第一分鐘內要均勻上下移 動，然后放入定影液中定影 1015分鐘。 水洗 定影后的底片，放在流動的清水中沖洗 20 分鐘以上，然后將底片浸入 %濃度的洗潔精溶液中浸泡 30 秒。 干燥 水洗后的底片，用不銹鋼夾子固定在鐵絲上進行自然干燥，也可用烘箱烘干，烘干溫度不大于 50℃ 。 底片評定 底片由具有 RTⅡ級資格的人員評定 ,另一Ⅱ級資格人員進行復評。初評和復評人員均應在評片記錄上簽字。 射線照像質量等級為 AB 級。 底片質量 底片的黑度應為 ，像質計 擺放正確，顯示的像質計最小線經應符合探傷驗收標準的規(guī)定。標記齊全且不覆蓋焊縫，在有效評定區(qū)范圍內不得有影響底片評定的劃傷、水跡、脫膜、污斑等，否則應從新拍片。 焊縫質量評定 除非設計文件另有規(guī)定，焊縫質量評定按 JB/ 執(zhí)行。 探傷記錄與報告 評片時應認真填寫原始記錄并及時簽發(fā)探傷報告，其內容應包括 :工件名稱、工件編號、 焊縫號、曝光參數、缺陷狀況、評定級別和返修情況等，并有檢測人員和審核人員簽字。 3 焊縫超聲波探傷 探傷器材 探傷儀器： PXUT27 探 頭 采用單晶或雙晶斜探頭 ,其聲束軸線水平偏離角不大于 2o,主聲束垂直方向不應有明顯的雙峰，探頭的中心頻率允許偏差為177。 。 標準試塊 : CSKIA、 CSKⅢ A。 耦合劑：化學漿糊 校準 儀器校準 在儀器開始使用時，應對儀器的水平線性和垂直線性進行測定，使用過程中，至少每隔3 個月測定一次。 探頭校準 斜探頭使用前，至少應進行前沿距離、 K 值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨率的校準，使用過程中，每個工作日應校準前沿距離 、 K 值、主聲束偏離。直探頭的始脈沖占寬、靈敏度余量和分辨率每隔一個月測定一次。 儀器和探頭系統(tǒng)的校驗 每次檢測前和檢測結束后，應在對比試塊或其他等效試塊上對掃描線和距離 波幅曲線進行校驗，校驗過程中使用的試塊與被檢工件的溫度差不大于 15℃ 。 時基線校驗時，如發(fā)現(xiàn)校驗點反射波在掃描線上偏移超過原校驗點刻度讀數的 10%或滿刻度的 5%（兩者最小值），則掃描比例重新校正，前次校驗后的記錄缺陷，位置參數應重新測定。 距離 波幅曲線校驗時，如發(fā)現(xiàn) 校驗點的反射波比曲線降低 20%或 2dB 以上，則儀器靈敏度應重新調整，并對上次校正后檢測的全部焊縫重新檢測。如發(fā)現(xiàn)校驗點的反射波比曲線增加 20%或 2dB 以上，儀器靈敏度應重新調整，而上次校正后已經記錄的缺陷，應對缺陷尺寸參數重新測定并予以重新評定。 中厚壁管（外徑大于等于 108mm，壁厚大于 14mm）焊縫探傷 對比試塊 校準時基線性和制作距離 — 波幅曲線應使用 RB 系列試塊。 當檢驗面的曲率半徑 R≤ W2/4 時（ W 為探頭接觸面的寬度），應采用與檢驗面曲率半徑相同或 相近的試塊。 檢測面：根據不同的檢驗等級要求，按下表選擇檢測面： 管壁厚度 （ mm） 檢驗面 檢驗方法 A 級 B 級 C 級 1425 單面單側 單面雙側 單面雙側和 焊縫表面 直射法及一次反射法 ＞ 2550 / ＞ 50100 / 直射法 無法進行單面雙側掃查時，可采用兩種以上折射角探頭在焊縫一側掃查。 探測焊縫根部缺陷時，不宜使用折射角為 60 度左右的探頭。 探頭 探頭頻率一般采用 ，薄壁探傷時，可采用 5MHz。 探頭折射角按右表要求選用 斜探頭的晶片尺寸為 13179。 13mm，直探頭的晶片尺寸為φ 20mm。 母材的檢查 焊縫兩側的母材，檢驗前應測量管壁厚度，至少每隔 90176。測量一點，并做好記錄，以便檢驗時參考。 斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域應用直探頭進行檢查，并做好記錄。檢查按下列要求進行： 采用接觸式脈沖反射法，探頭型號： 。 檢測靈敏度：將無缺陷處二次底波調節(jié)到熒光屏滿刻度。 記錄：缺陷信號超過熒光屏滿刻度 20%的幅度部位，應在工件表面作出標記，并予以記錄。 掃描比例 壁厚小于或等于 20mm 時，一般采用水平 1： 1 調節(jié)，壁厚大于 20mm 時，一般采用深度 1：1 調節(jié)。 距離 波幅曲線的