昆山鼎鑫ccl板薄分析報(bào)告(編輯修改稿)
2025-07-02 09:39 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 我司設(shè)計(jì)該 （板中應(yīng)在 為合 理 值） 我司鐳射儀器測(cè)試位置 與人工測(cè)試位置相差大 . 綜合以上原因分析，此次異常主要 為 設(shè)計(jì) 厚度 中值偏低，鐳射儀器測(cè)試位置與手工測(cè)試位置差異導(dǎo)致部分厚度實(shí)際偏出規(guī)格下限 . 分析單位 主 管 擔(dān)當(dāng)者 汪泉 四 .改善措施 / 臨時(shí)對(duì)策： （改善前 /后圖片說(shuō)明 : □有 □無(wú)） 查廠內(nèi)同批號(hào)同排板結(jié)構(gòu)基板庫(kù)存，進(jìn)行重新返檢驗(yàn) 厚度 （品保） 對(duì) NY2140 , 更改 原 結(jié)構(gòu) 762844%*6 為 762845%*6,確保邊角厚度達(dá)到要求 (附件 5) ； （技術(shù)部） 對(duì)鐳射儀進(jìn)行校正 ,重新定位 鐳射儀 測(cè)試 厚度的 位置 ； 修訂控制計(jì)劃 設(shè)定鐳射儀測(cè)厚校正周期 (附件 6)（品保 /技術(shù) ） 預(yù)定完成日期： 責(zé)任單位 主 管 擔(dān)當(dāng)者 汪泉 NANYA/P25C010201A 五 .在發(fā)防止 / 永久對(duì)策： (PFMEA 修訂 : □ 要 □ 不要 :控制計(jì)劃修訂 : □ 要 □
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