如何進(jìn)行失效模式與影響分析-fmea(ppt22)-質(zhì)量工具(編輯修改稿)
2024-09-22 16:09 本頁面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 全 一般 1 in100 較低水平的控制 07 工序 /産品性能會(huì)降低 較多 1 in50 低水平的控制 08 很嚴(yán)重以致無法修復(fù)或使用 大量 1 in10 難於控制 09 非常嚴(yán)重 (帶有提示的影響 ) 非常多 1 in5 很難控制 10 安全性或可靠性故障 (無提示 ) 幾乎全部 1 in2 幾乎無法控制 典型缺陷原因、缺陷模式和影響如下表所示： 典型缺陷原因 典型缺陷模式 典型缺陷影響 材料選定不正確 設(shè)計(jì)壽命評(píng)估不當(dāng) 潤(rùn)滑不足 維護(hù)指引不足 環(huán)境太差 算法不正確 斷裂 變形 松 泄漏 粘貼 短路 破 裂 噪聲 不穩(wěn)定的操作 外觀不良 不穩(wěn)定 斷續(xù)操作 無法動(dòng)作 操作能力削弱 設(shè)計(jì)缺陷模式和影響分析表 項(xiàng) 目負(fù)責(zé)工程師 作成 確 認(rèn)關(guān) 鍵日 期S O D R P N 備注: 1 . S 代表嚴(yán)重度。 2 . O 代表發(fā)生概率。 3 . D 代表可偵知性。 4 . R P N 代表風(fēng)險(xiǎn)評(píng)分建議采取的措施責(zé)任者/ 目標(biāo)完成日行動(dòng)結(jié)果修訂日期承 認(rèn)項(xiàng)目/ 功能潛在缺陷模式潛在缺陷影響嚴(yán)重度潛在缺陷原因發(fā)生概率現(xiàn)在的過程控制可偵知性RPNF M E A 編號(hào)F M E A 初始日期頁 碼核心團(tuán)隊(duì)第 頁 共 頁設(shè)計(jì)責(zé)任采取的行動(dòng)過程缺陷模式和影響分析表 項(xiàng) 目負(fù)責(zé)工程師 作成 確 認(rèn)關(guān) 鍵日 期S O D R P N 備注: 1 . S 代表嚴(yán)重度。 2 . O 代表發(fā)生概率。 3 . D 代表可偵知性。 4 . R P N 代表風(fēng)險(xiǎn)評(píng)分建議采取的措施責(zé)任者/ 目標(biāo)完成日行動(dòng)結(jié)果修訂日期承 認(rèn)項(xiàng)目/ 功能潛在缺陷模式潛在缺陷影響嚴(yán)重度潛在缺陷原因發(fā)生概率現(xiàn)在的設(shè)計(jì)控制可偵知性RPNF M E A 編號(hào)F M E A 初始日期頁 碼核心團(tuán)隊(duì)采取的行動(dòng)第 頁 共 頁過程責(zé)任七、過程 FMEA應(yīng)用實(shí)例 現(xiàn)以波峰焊接過程各因素對(duì)首次通過率的影響為例進(jìn)行 PFMEA. . 流 程 風(fēng) 險(xiǎn) 評(píng) 估 爐前檢查 ↓ 浸松香助劑 ↓ 預(yù)熱 ↓ *浸錫 ↓
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