電測(cè)試方法手冊(cè)(編輯修改稿)
2025-06-24 21:43 本頁面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 3 2 1 8 9 10 第三回合六次﹐第四回合三次﹐共計(jì) 26 次始得標(biāo)準(zhǔn)回路﹐可謂易簡(jiǎn)為繁事倍功半了。由以上簡(jiǎn)介讀者即可體會(huì)在計(jì)盤夾具制作時(shí)﹐若將待測(cè)數(shù)較多之回路上其各測(cè)試點(diǎn)編號(hào)愈小時(shí)﹐則回路學(xué)習(xí)所費(fèi)的時(shí)間即可大幅縮短。 判斷兩點(diǎn)之間是否相連接之方式可歸納為下列幾種﹕ (1) 測(cè)試兩點(diǎn)之間是否有電流通過﹐其電路示意如圖三。此一電路雖極簡(jiǎn)單 易了 圖三 A﹕電流計(jì) Pij Pkl Vcc﹕電源 A Vcc 5 解﹐但實(shí)際應(yīng)用時(shí)卻甚少運(yùn)用于同回路中之測(cè)試﹐而大多數(shù)用于測(cè)定回路間是否發(fā)生短路或漏電。此電路中若量到電流時(shí)則表示 Pij與 Pkl間有通路存在。 (2) 測(cè)試兩點(diǎn)間之電壓﹐其電路示意如圖四。此一電路乃利用一電 圖四 V﹕電壓計(jì) V Vcc﹕電源 Vcc 流源 A 跨接于 Pij與 Pkl測(cè)試點(diǎn)上﹐再量取兩點(diǎn)之間的電壓。若量到之電壓接近于電源之電壓時(shí)﹐則表示兩點(diǎn)之間不通。 (3) 測(cè)試串通電容器之電壓﹐其電路示意圖五。此法乃利用兩點(diǎn)之間若有通路之存在﹐則串聯(lián)之電容器將經(jīng)由充電而產(chǎn)生電壓。因此充電一段時(shí)間后再量取電容器之電壓﹐若電壓接近于電源電壓則表示 Pij與 Pkl間相通﹐但若測(cè)到的電壓接近于零時(shí)則表示不通。 圖五 Pij Pkl C V﹕電壓計(jì) Vcc﹕電源 Vcc C﹕電容器 因回路學(xué)習(xí)主要在判斷哪些測(cè)試點(diǎn)是屬于同一回路﹐故不論是用上述何方法判斷﹐均無需使用高壓電。在此須澄清一點(diǎn)困擾──即為何在測(cè)試時(shí)﹐決定兩點(diǎn)之間斷路的電阻遠(yuǎn)比電路板上導(dǎo)線之電阻為高呢 ?那是因?yàn)椴徽撌褂煤畏N方式測(cè)試﹐整個(gè)回路之電阻乃包括各個(gè)接觸點(diǎn)之電阻加上電路板之導(dǎo)線電阻。以圖三為例﹐測(cè)試線路所量到之電阻應(yīng)為 Pij與電路板之接觸電阻﹐加 上電路板導(dǎo)線電阻﹐再加上 Pkl與電路板間之接觸電阻﹐再加上回路中其它導(dǎo)線之電阻。雖然電阻板本身銅導(dǎo)線電阻甚低﹐但因接觸電 6 阻卻很大且又易受外界因素影響﹐例如表面氧化﹑油污等﹐故在實(shí)際作業(yè)中﹐均需設(shè)定較大之電阻以避免無謂的困擾。 實(shí)際測(cè)試時(shí)可分為兩大步驟進(jìn)行﹕ (一 ) 測(cè)試同一回路之各點(diǎn)是否均相通。 (二 ) 測(cè)試不同回路間之絕緣電阻是否合格。 若以上兩點(diǎn)均符合時(shí)﹐則判斷此 PC 板為良品。但若有任何一點(diǎn)不符合時(shí)雖可判斷其為不良品﹐若要進(jìn)一步判斷出何者不良則還需另費(fèi)一番手腳才行。為使流程易于明了﹐特將其判斷流程圖表示于圖中。 并藉圖一之電路圖說明。 否
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