電測(cè)試方法手冊(cè)-全文預(yù)覽
【正文】 而其尋找錯(cuò)誤點(diǎn)時(shí)只需借助于方格紙即可。 由于斷路與絕緣性之判斷點(diǎn)并不相同﹐故實(shí)際測(cè)量后將得到三種不同之結(jié)果﹕即斷路﹑短路及絕緣不良 (漏電 )其關(guān)系如圖八所示。當(dāng) L 值增大時(shí)則必須另行設(shè)法解 7 決?？墒且?“點(diǎn) 2”為斷路點(diǎn)﹐故除 了測(cè)試 L1,L2,L3,L4 之間的絕緣性外﹐尚需再測(cè)試 “點(diǎn)2”與 L2,L3,L4之間的絕緣性。為使流程易于明了﹐特將其判斷流程圖表示于圖中。 實(shí)際測(cè)試時(shí)可分為兩大步驟進(jìn)行﹕ (一 ) 測(cè)試同一回路之各點(diǎn)是否均相通。 圖五 Pij Pkl C V﹕電壓計(jì) Vcc﹕電源 Vcc C﹕電容器 因回路學(xué)習(xí)主要在判斷哪些測(cè)試點(diǎn)是屬于同一回路﹐故不論是用上述何方法判斷﹐均無(wú)需使用高壓電。若量到之電壓接近于電源之電壓時(shí)﹐則表示兩點(diǎn)之間不通。此一電路雖極簡(jiǎn)單 易了 圖三 A﹕電流計(jì) Pij Pkl Vcc﹕電源 A Vcc 5 解﹐但實(shí)際應(yīng)用時(shí)卻甚少運(yùn)用于同回路中之測(cè)試﹐而大多數(shù)用于測(cè)定回路間是否發(fā)生短路或漏電。以圖一之測(cè)試編號(hào)為例而言﹐為決定各回路共需經(jīng)過(guò)第一回合九次﹐第二回合五次﹐第三回合二次之判斷﹐即共需 16 次判斷后方始得標(biāo)準(zhǔn)回路。 (2) 第二回合之掃瞄則由剩余之各點(diǎn)中 (3﹐ 4﹐ 5﹐ 6﹐ 7﹐ 8)編號(hào)最小點(diǎn)數(shù) “第三點(diǎn) ”為起點(diǎn)﹐判斷與其相連之各點(diǎn)而得 L2=(3﹐4﹐ 8)。在回路學(xué)習(xí)時(shí)開(kāi)關(guān)線路將由 1 2 4 圖一 3 5 6 7 10 9 8 第一點(diǎn)逐次掃瞄至第十點(diǎn)。 (7) 回路學(xué)習(xí)的原理 (Learn)﹕ 由 “標(biāo)準(zhǔn)樣板 ”上讀出回路型態(tài)并將之存入記憶裝置的過(guò)程。 (3) 斷路 (Open): 當(dāng)同一回路中之兩點(diǎn) Pij,Pim 無(wú)法連接在一起時(shí)﹐也就是說(shuō)應(yīng)該通電的導(dǎo)體中發(fā)生斷電的情形。本文中之回路以 Lj 表示﹐注腳 i 字乃表示該一回路之編號(hào)。主導(dǎo)電測(cè) 機(jī)內(nèi)所有測(cè)試工作的進(jìn)行﹐包括自我測(cè)試﹐開(kāi)關(guān)線路的運(yùn)作順序﹐測(cè)試結(jié)果的比較等等。 (3) 測(cè)試線路 (Test Circuit)﹕ 是真正在電測(cè)機(jī)內(nèi)執(zhí)行測(cè)試功能的主角。針盤更換速度的快慢﹐探針位置之編號(hào)等 均由此一裝置決定。 低壓型﹕測(cè)試電壓低于 10V 者。但若考慮針盤費(fèi)用之節(jié)省﹐及測(cè)試點(diǎn)多﹐可靠性高等因素﹐長(zhǎng)期而言萬(wàn)用型仍較專用型劃算。此類電測(cè)機(jī)之價(jià)格較
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