【正文】 ass Quality Unimicron 1 前次投影片 第 ○ 單元：基本統(tǒng)計(jì)概念 第一單元：統(tǒng)計(jì)製程管制 (SPC)之基本概念 第二單元：管制圖的介紹及其應(yīng)用 第三單元：常用管制圖之繪製 09/2021, Rev D 統(tǒng)計(jì)製程管制 (Statistical Process Control) 主講 : APLUS電子 SPC 輔導(dǎo)團(tuán) World Class Quality Unimicron 2 前次投影片 本課程的目的 使學(xué)員 : ? 能運(yùn)用 SPC 於日常工作之中以進(jìn)行製程管控 ,達(dá)到 有異常立即反應(yīng) 並做適當(dāng)處理的目的 . ? 能了解並說出統(tǒng)計(jì)製程管制之 – , , , SPC計(jì)算與 World Class Quality Unimicron 3 前次投影片 第○單元： 基本統(tǒng)計(jì)概念 ?甚麼是 統(tǒng)計(jì)學(xué) (Statistics)？ ? 統(tǒng)計(jì)學(xué) ：統(tǒng)計(jì)學(xué)為蒐集、整理、展示、分析、解釋資料， 並由樣本推論群體 ，是在不確定情況下作成決策的科學(xué)方法。 請指出所欲研究之群體 、 樣本 、 參數(shù)及統(tǒng)計(jì)量 。2σ 範(fàn)圍內(nèi) % 的數(shù)據(jù)在 μ 177。 中位數(shù) 平均數(shù) 平均數(shù) = 眾 數(shù) = (12,15,17,23,23,25,28) 的 眾數(shù) = 23 例 : 請找出下列樣本數(shù)據(jù)之 平均數(shù) 及 中位數(shù) ： 0, 7, 3, 9, 2, 4, 6。這些變異是由一些小量不可控制原因累積而成， 例如：同種原料內(nèi)的變化、機(jī)器的振動所引起的變化等 ，當(dāng)這些變異之量極小時，製程仍可被接受。 World Class Quality Unimicron 15 前次投影片 隨機(jī)原因 非隨機(jī)原因 World Class Quality Unimicron 16 前次投影片 第一單元 總結(jié) A3:非隨機(jī)原因或特殊原因 . ? A1:利用抽樣所得之樣本資料 (樣本統(tǒng)計(jì)量 ) 來監(jiān)視製程之狀態(tài) . (SPC)? A2:第一次就做對 (Do it right the first time). ? World Class Quality Unimicron 17 前次投影片 ● 管制圖簡介 1924年 休哈特 ()提出了 管制圖 (Control Chart)的概念與方法 。 。常用之計(jì)數(shù)值管制圖有： 不良率 管制圖 (p Chart) 不良數(shù) 管制圖 (np Chart) 缺點(diǎn)數(shù) 管制圖 (c Chart) 單位缺點(diǎn)數(shù) 管制圖 (u Chart) World Class Quality Unimicron 22 前次投影片 XR 圖 管制圖的選定 計(jì)量值 (Variable data) 資料性質(zhì) 計(jì)數(shù)值 (Attribute data) 中心線 n大小 樣本數(shù)目 n大小 不良 /缺點(diǎn) n固定 ? n固定 ? 不良率 (%) 缺點(diǎn)數(shù) c 圖 p 圖 u 圖 np 圖 XRm 圖 ~ XR 圖 __ XS 圖 n=1 n≧ 2 n≦10 n10 __ X ~ X 固定 不固定 固定 不固定 XS 圖 p 圖 u 圖 World Class Quality Unimicron 23 前次投影片 ▼ 基本原則 正常管制圖上的點(diǎn)，必須符合 : (1)隨機(jī)分散 （ random fluctuation）與 (2)常態(tài)分佈 (normal distribution) 的原則 ，所以至少要滿足下面幾點(diǎn)要求： ● 管制圖之研判與分析 但是下列法則若有一成立，則判斷 製程失控 : 一點(diǎn) 落在 管制界線外 。 中有 四點(diǎn) 落在 B區(qū)或是 B區(qū)之外。 有 十點(diǎn) 落在管制中心的同一側(cè) 。 World Class Quality Unimicron 31 前次投影片 B. 搜集 數(shù)據(jù) 蒐集最近之?dāng)?shù)據(jù) 100個以上 ，對這些數(shù)據(jù)之來源應(yīng)充分瞭解，並希望以後之製造工程，其情況需與蒐集數(shù)據(jù)時相同。 H. 計(jì)算 總平均值 :Ｘ 。如有點(diǎn)超出管制界限時，則判定製程有不正常原因侵入。 失控 World Class Quality Unimicron 39 前次投影片 ▼ 建立不良率管制圖之步驟 A. 選擇管制項(xiàng)目 選擇適合使用不良率管制圖之品質(zhì)特性。 C. 分組 通常皆以一定時間之產(chǎn)品為一組、或以每批產(chǎn)品為一組、或以每天產(chǎn)品為一組，每組樣本之大小是依平均不良率來決定， 並使每組樣本內(nèi)含有 1至 5個不良品為佳，亦即 n=25~100。 c. R管制圖上有點(diǎn)超出管制界限時 ，則表示 製程變異增大 。 I. 計(jì)算 全距之平均值 :Ｒ 。 D. 數(shù)據(jù)之 分組 每組所含之?dāng)?shù)據(jù)個數(shù)稱為 樣本大小 (sample size)， 以 n表示 。 有 十四點(diǎn) 落在管制中心的同一側(cè) 。 在中心線的 同一側(cè) 。 (1).中心線上下的點(diǎn)數(shù)要大約相等 (各佔(zhàn) 40%~60%)。 因此，管制圖可將「 設(shè)計(jì) 」、「 製造 」、「 檢驗(yàn) 」等三階段之工作連成一體，為工廠中在生產(chǎn)工作方面最有效之工具 。 如發(fā)現(xiàn)有 超出管制界限外之點(diǎn) 或是 出現(xiàn)特殊圖樣 (異?，F(xiàn)象 )時 ， 應(yīng)立即由 人員 、 機(jī)械設(shè)備 、 材料 、 方法 (4M)或環(huán)境 (1E)等方向進(jìn)行層別以追查原因 ， 進(jìn)而改善製程 。 統(tǒng)計(jì)製程管制之主要目的，在 儘快偵測出 可歸屬原因 之發(fā)生或 製程之異常跳動 ，以便在製造出更多不合格品之前，就能發(fā)現(xiàn)製程之變異並進(jìn)行改善工作 。 平均數(shù) = (25+12+23+28+17+15+23)/7 = 中位數(shù) = (12,15,17,23,23,25,28) 的中間數(shù) = 23 中位數(shù) = (0+7+3+92+4+6)/7 = (2,0,3,4,6,7,9)的中間數(shù) = 4 ? 何時使用平均數(shù)？何時使用中位數(shù)或 眾數(shù) ？ (可以有兩個以上 ) World Class Qua