[管理學(xué)]統(tǒng)計(jì)制程管制作業(yè)員講義版(存儲(chǔ)版)
【正文】 on 28 前次投影片 A3: XR, XS, XR, XRm ~ _ _ XR, XS, XRm _ _ A2: 計(jì)量 ,計(jì)數(shù) A1:中心線 (CL),管制上限 (UCL),管制下限 (LCL) A4: p, np, c, u p, c ? : – 依數(shù)據(jù)型態(tài)分為那兩種 ? ? 常用的是那幾種 ? ? 常用的是那幾種 ? 第二單元 總結(jié) World Class Quality Unimicron 29 前次投影片 第二單元 總結(jié) A6:管制圖中心線之兩側(cè) A6:管制圖中心線之同一側(cè) A5:P23 A7:P24 2項(xiàng) ? ? ? 區(qū)間測(cè)試用於 ? 連串測(cè)試用於 ? World Class Quality Unimicron 30 前次投影片 ● 適用情況 適用於 小樣本數(shù) ， 即樣本數(shù)小於或等於 10 (註：樣本數(shù)大於 10時(shí)， 則必頇使用 X S 管制圖 )。 G. 計(jì)算各組數(shù)據(jù)之 全距 :Ｒ 。 X XM. 點(diǎn)圖 將 F及 G兩節(jié)中所計(jì)算得之 X及 R 數(shù)據(jù)，點(diǎn)繪在適當(dāng)位置，並在相鄰兩點(diǎn)間以直線連接之。他從生產(chǎn)線上 收集到 15組 (每組樣本數(shù)目大小為 3,即 n=3),線寬量測(cè)數(shù)據(jù)如下， 請(qǐng)利用此筆量測(cè)數(shù)據(jù)繪製解析用之平均值與全距管制圖並判讀製程 是否失控。 D. 計(jì)算平均不良率 二、不良率管制圖 (p管制圖 ) World Class Quality Unimicron 40 前次投影片 E. 計(jì)算管制界限 : (一 ). 當(dāng)製程中母體不良率 p未知 則管制界限如下： 情形一 :每組樣本大小 n 均相等 時(shí) (設(shè)有 m組 ) 中心線 : mppmii???1管制上限 : pp pn??31( )管制下限 : pp pn??31( )(若管制下限 0,則設(shè)為 0) World Class Quality Unimicron 41 前次投影片 例四、 OQC 在測(cè)試站抽樣檢驗(yàn)，得到下列檢驗(yàn)結(jié)果， 請(qǐng)用下表之資料，點(diǎn)繪一不良率管制圖 組號(hào) n d p 組號(hào) n d p 1 100 3 16 100 3 2 100 4 17 100 6 3 100 3 18 100 2 4 100 8 19 100 7 5 100 5 20 100 5 6 100 5 21 100 5 7 100 7 22 100 8 8 100 6 23 100 4 9 100 5 24 100 5 10 100 6 25 100 4 11 100 3 12 100 6 13 100 8 14 100 5 合計(jì) 2500 125 15 100 2 平均 100 5 World Class Quality Unimicron 42 前次投影片 [解 ]： 1. 計(jì)算管制中心線及上下界限 0n)p(1p3p%n)p(1p3+p=%2 5 00125=p??????管制下限管制上限中心線不良率管制圖 2. 點(diǎn)繪管制圖 World Class Quality Unimicron 43 前次投影片 第三單元 總結(jié) A2: P30~35. A1: (1)XR: 適用於小樣本數(shù) , 即 1n=10. (2)XS: 樣本數(shù)不論大小皆可使用 . (但樣本數(shù)大於 10,則必頇使用此管制圖 ) _ _ ? _ _ 1. XR Chart與 XS Chart 使用時(shí)機(jī)有何不同 ? 。 b. X管制圖上有點(diǎn)超出管制界限時(shí) ， 則表示製程平均發(fā)生變化或 變異增大 。 World Class Quality Unimicron 33 前次投影片 管制界限的係數(shù)表 World Class Quality Unimicron 34 前次投影片 L. 繪製管制界限 管制圖在上， R 管制圖在下，按習(xí)慣一般 圖之寬度較 R 圖為大。 分組法與層別有關(guān) ， 普通按時(shí)間順序或測(cè)定順序分組 ， 使組內(nèi)不含不同性質(zhì)數(shù)據(jù) ， 並使 n=2~5之間 ，k=15~20 之間最為適當(dāng) 。 上述法則有一成立時(shí) ， 則判斷 製程失控 。 ▼ 區(qū)間測(cè)試 (Zone Test)法則 區(qū)間法則 (又稱為 Western Electric rules)可適用於管制圖中心線之 兩側(cè) 。 (3).僅有少數(shù)點(diǎn) (約 5%)靠近管制界限 (hugging the Control limits）。管制圖同時(shí)可展示 時(shí)間順序 的資料。典型之管制圖包含一 中心線 (Center Line, CL)，用以代表製程處於統(tǒng)計(jì)管制內(nèi)時(shí)品質(zhì)特性之平均值。這些變異稱為 可歸屬原因 (assignable cause)或 非隨機(jī)原因 或 特殊原因 (special cause)，製程若在 可歸屬變異 下操作則稱其為 製程失控 (out of control)。 ) ? 最常用的離中趨勢(shì)指標(biāo)： 全距 、 變異數(shù) 及 標(biāo)準(zhǔn)差 11 22 )( ?? ? ?? nini xxsX1 X2 X3 X4 X5 X6 X World Class Quality Unimicron 11 前次投影片 8 1 = 7 (54)2+(84)2+(14)2+(24)2+(44)2 (5 1) = √ = 例：請(qǐng)找出下列樣本數(shù)據(jù)之全距、變異數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)差： 5, 8, 1, 2, 4 全 距 : 變 異 數(shù) :
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