[管理學(xué)]統(tǒng)計(jì)制程管制作業(yè)員講義版-免費(fèi)閱讀
【正文】 B. 搜集數(shù)據(jù) 搜集過去已知檢查樣本數(shù) n及不良數(shù) D之?dāng)?shù)據(jù) 20組以上。 World Class Quality Unimicron 35 前次投影片 O. 採(cǎi)取措施 不正常 原因存在時(shí)， 應(yīng)即調(diào)查原因，加以處置 。 World Class Quality Unimicron 32 前次投影片 管制圖類別 群體之μ及σ已知時(shí) 群體之μ及σ未知時(shí)X Ch a r tXXXCLU C L AL C L A?? ?? ??? s? sXXXCL XU C L X A RL C L X A R?? ?? ?22R Ch a r tRRRCL dUCL DLCL D???221sssRRRCL RUC L D RLC L D R???43K. 計(jì)算 管制界限 : 註：工廠之製造工程其群體 μ 及 σ 大多為未知，故建立管制圖 時(shí)，均常採(cǎi)用群體之 μ 及 σ 未知之公式計(jì)算。 C. 按產(chǎn)品生產(chǎn)之順序或測(cè)定之順序 ， 排列數(shù)據(jù) 。 有 十二點(diǎn) 落在管制中心的同一側(cè) 。 走。 特殊圖樣 (patterns) 。 。 管制圖是一種關(guān)於品質(zhì)的圖解記錄 ， 操作人員利用所收集的資料計(jì)算出兩個(gè) 管制界限 (上限及下限 )， 且畫出這兩個(gè)管制界限 ， 在產(chǎn)品製造過程中隨時(shí)將樣本資訊點(diǎn)入管制圖內(nèi) ， 以提醒操作人員 。這些自然變異通常稱為 隨 機(jī)原因 (random cause)或是 一般原因 (mon cause)，當(dāng)製程在只有隨機(jī)原因出現(xiàn)下操作，則稱其 在管制中 (in control)。 例 : 請(qǐng)找出下列樣本數(shù)據(jù)之 平均數(shù) 、 中位數(shù) 及 眾數(shù) ： 25, 12, 23, 28, 17, 15, 23。3σ 範(fàn)圍內(nèi) 2s 2s Mean 3s 3s 1s 1s % % % ? 常態(tài)分佈 (Normal Distribution ) ? 一般常見的連續(xù)性數(shù)據(jù) ,其平均值的分佈大多成 常態(tài)分佈 、 或 高斯分佈 (Gaussian distribution). World Class Quality Unimicron 8 前次投影片 ? 中位數(shù) ：將一組數(shù)據(jù)由小至大排序後，最 中間 的那一個(gè)數(shù)值稱為中位數(shù) (偶數(shù)個(gè)數(shù)據(jù)，則取 中間兩個(gè)數(shù)據(jù)的 平均 值 )。 群體 : 樣本 : 參數(shù) : 統(tǒng)計(jì)量 : 工廠所生產(chǎn)之全部 電路板 100片隨機(jī)抽出之 電路板 全部 電路板之 平均 厚度 100片 電路板之 平均 厚度 World Class Quality Unimicron 5 前次投影片 ? 數(shù)據(jù)種類 : 依搜集方式的不同可分為下列兩大類： ?連續(xù)型數(shù)據(jù) (Continuous/Variable data)： 經(jīng)由 的方式取得資料 ， 又稱 計(jì)量型 數(shù)據(jù)。 ? 群體 (Population)：由具有 共同特性 之個(gè)體所組成的整體 。 例：山鶯廠微影站人員的 平均身高 、 體重 。 例：右圖為某電鍍製程後 所量測(cè) 50片電路板的 銅厚 直方圖 與 分佈 . World Class Quality Unimicron 7 前次投影片 ? 常態(tài)分佈的曲線成 “ 鐘型曲線 ” , 且具備下列特性 : % 的數(shù)據(jù)在 μ 177。 (註 : 常態(tài)分佈的 平均數(shù) 、 中位數(shù) 、 眾數(shù) 皆趨向同一數(shù)值。而製程管制即是品管的一種技巧， 凡與製程有關(guān)之人員均需具備製程管制的相關(guān)知識(shí)或技巧 ，盡到自己的品質(zhì)責(zé)任。統(tǒng)計(jì)製程管制的一些手法如：品管七大手法、管制圖等，將可有助於迅速的偵測(cè)出製程發(fā)生變異及找出變異之原因。管制圖可用來判斷品質(zhì)變異之顯著性，以測(cè)知製程是否在正常狀態(tài)。 常用之計(jì)量值管制圖有： ● 管制圖之種類 平均值與全距之管制圖 (XR Chart) (註 : 唸成 XbarR) 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差之管制圖 (XS Chart) (註 : 唸成 XbarS) ~ 中位值與全距之管制圖 (XR Chart) (註 : 唸成 XcurlR) 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 (XRm Chart) 依據(jù)收集數(shù)據(jù)的型態(tài)分： 1)計(jì)量值管制圖 1)計(jì)量值管制圖 ,2)計(jì)數(shù)值管制圖 World Class Quality Unimicron 21 前次投影片 ※ 注意 : 計(jì)數(shù)值 管制圖皆祇有 一個(gè)圖 ， 而 計(jì)量值 管制圖則有 兩個(gè)圖 。 2s 2s Mean 3s 3s 1s 1s % % % World Class Quality Unimicron 24 前次投影片 區(qū)間測(cè)試包含： 落在 A區(qū)之外 (超出管制界限 )。請(qǐng)對(duì)此管制圖進(jìn)行判讀，也就是說，判斷出這個(gè)管制圖是否有出現(xiàn)製程失控？ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 管制上限 管制下限 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)在 區(qū)域 A或以上 看有無任何點(diǎn)在 A區(qū)之外 ? 規(guī)則 1. 一點(diǎn)落在 A區(qū)之外 (超出管制界限 ) 看有無接近的兩點(diǎn)在 A區(qū) (含 )之外 ? 規(guī)則 A區(qū) 看有無接近的四點(diǎn)在 B區(qū) 之外 規(guī)則 B區(qū)或是 B區(qū)之外 看有無連續(xù) 7點(diǎn)往同一方向走 規(guī)則 看有無連續(xù) 8點(diǎn)出現(xiàn)在中心線同側(cè) 規(guī)則 World Class Quality Unimicron 27 前次投影片 ▼ 連串測(cè)試 (Run Test)法則 連串測(cè)試係應(yīng)用於 管制圖中心線的 同一側(cè) 。 3 2 World Class Quality Unimicr
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