[管理學(xué)]統(tǒng)計(jì)制程管制作業(yè)員講義版-預(yù)覽頁
【正文】 產(chǎn)品能達(dá)到顧客所要求的「品質(zhì)」，公司裡 每一個(gè)人 包括生產(chǎn)線上的作業(yè)員、打字員、採購員、工程師以及公司的總經(jīng)理等對(duì)產(chǎn)品的品質(zhì)都有責(zé)任。這些自然變異通常稱為 隨 機(jī)原因 (random cause)或是 一般原因 (mon cause)，當(dāng)製程在只有隨機(jī)原因出現(xiàn)下操作，則稱其 在管制中 (in control)。 “非隨機(jī)原因 或 特殊原因 ” 就是我們進(jìn)行統(tǒng)計(jì)製程管制所要找到的重點(diǎn) 產(chǎn)品在製造過程中若能及早找出 可歸屬原因 之發(fā)生，則可避免在製造出更多的不合格品前，發(fā)現(xiàn)製程發(fā)生變異的原因，可使製造過程有改善的機(jī)會(huì)。 管制圖是一種關(guān)於品質(zhì)的圖解記錄 ， 操作人員利用所收集的資料計(jì)算出兩個(gè) 管制界限 (上限及下限 )， 且畫出這兩個(gè)管制界限 ， 在產(chǎn)品製造過程中隨時(shí)將樣本資訊點(diǎn)入管制圖內(nèi) ， 以提醒操作人員 。此圖同時(shí)包含兩條水平線，稱為 管制上限 (Upper Control Limit, UCL)及 管制下限 (Lower Control Limit, LCL) ，用來表示製程或品質(zhì)變異的容許範(fàn)圍或均勻性。 。 設(shè)計(jì) 製造 檢驗(yàn) ● 管制圖的功用 ● 管制圖與一般之統(tǒng)計(jì)圖有何不同？ World Class Quality Unimicron 20 前次投影片 所謂計(jì)量值管制圖 ， 係指管制圖所依據(jù)之?dāng)?shù)據(jù)均由 實(shí)際量測(cè) 而得 ， 如：產(chǎn)品之長度 、 重量 、 成份等 。 特殊圖樣 (patterns) 。 (4).任何連續(xù)多點(diǎn)不可形成向上或向下的「趨勢(shì)」 （ trend） 。 走。首先 ， 將管制圖之兩側(cè)各分為三個(gè)區(qū)間 ， 每個(gè)區(qū)間的寬度為 一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差 ，如圖三所示： 中心線管制上限管制下限ABCCBA正一倍標(biāo)準(zhǔn)差負(fù)一倍標(biāo)準(zhǔn)差正三倍標(biāo)準(zhǔn)差正二倍標(biāo)準(zhǔn)差負(fù)二倍標(biāo)準(zhǔn)差負(fù)三倍標(biāo)準(zhǔn)差圖三 . 區(qū)間測(cè)試法則之區(qū)間劃分 World Class Quality Unimicron 25 前次投影片 =(50%)7=% 區(qū)間測(cè)試法則 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 單點(diǎn)超出 管制界限 連續(xù) 3點(diǎn)中 有 2點(diǎn)在 區(qū)域 A 或以上 連續(xù) 8點(diǎn) 出現(xiàn)在 中心線 同側(cè) 連續(xù) 7點(diǎn)往 同一方向走 =% =( %)2*%*3=% 註 : 規(guī)則二的 3點(diǎn)中有兩點(diǎn)在 A區(qū)及 A區(qū)以外 ,其中的兩點(diǎn)乃是指在同一側(cè)的兩點(diǎn) ,若是 一個(gè)點(diǎn)在正這一側(cè)的 A區(qū) ,另一個(gè)點(diǎn)在負(fù)這一側(cè)的 A區(qū) ,則並未違反此判定原則 World Class Quality Unimicron 26 前次投影片 A區(qū) B區(qū) C區(qū) C區(qū) B區(qū) A區(qū) ? 練習(xí)題 一個(gè)管制圖如下所示。 有 十二點(diǎn) 落在管制中心的同一側(cè) 。 ※ 注意 :使用於管制圖的上述任何一條判定 法則 (Run Rules),不可隨意取消 。 C. 按產(chǎn)品生產(chǎn)之順序或測(cè)定之順序 ， 排列數(shù)據(jù) 。 E. 數(shù)據(jù)之 記錄 :將分組之?dāng)?shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)記錄表 。 World Class Quality Unimicron 32 前次投影片 管制圖類別 群體之μ及σ已知時(shí) 群體之μ及σ未知時(shí)X Ch a r tXXXCLU C L AL C L A?? ?? ??? s? sXXXCL XU C L X A RL C L X A R?? ?? ?22R Ch a r tRRRCL dUCL DLCL D???221sssRRRCL RUC L D RLC L D R???43K. 計(jì)算 管制界限 : 註：工廠之製造工程其群體 μ 及 σ 大多為未知，故建立管制圖 時(shí)，均常採用群體之 μ 及 σ 未知之公式計(jì)算。將前面計(jì)算所得之管制界限數(shù)據(jù)繪入圖紙上。 World Class Quality Unimicron 35 前次投影片 O. 採取措施 不正常 原因存在時(shí)， 應(yīng)即調(diào)查原因，加以處置 。 World Class Quality Unimicron 36 前次投影片 1 2 3 1 2 31 3 . 0 0 3 . 0 6 3 . 0 8 3 . 0 5 0 . 0 8 9 3 . 0 6 3 . 1 6 3 . 0 4 3 . 0 9 0 . 1 22 3 . 0 4 3 . 0 0 2 . 9 6 3 . 0 0 0 . 0 8 10 3 . 1 6 3 . 0 6 3 . 1 0 3 . 1 1 0 . 1 03 3 . 1 2 3 . 0 4 3 . 0 6 3 . 0 7 0 . 0 8 11 3 . 0 4 3 . 1 0 3 . 1 2 3 . 0 9 0 . 0 84 3 . 1 2 3 . 0 6 3 . 1 4 3 . 1 1 0 . 0 8 12 3 . 1 8 3 . 0 4 3 . 0 8 3 . 1 0 0 . 1 45 3 . 0 2 3 . 0 4 2 . 9 8 3 . 0 1 0 . 0 6 13 3 . 0 0 2 . 9 8 3 . 0 8 3 . 0 2 0 . 1 06 3 . 1 4 3 . 0 4 3 . 0 6 3 . 0 8 0 . 1 0 14 2 . 9 2 2 . 9 0 2 . 9 6 2 . 9 3 0 . 0 67 3 . 0 0 2 . 9 4 3 . 0 8 3 . 0 1 0 . 1 4 15 3 . 0 0 3 . 0 4 3 . 1 0 3 . 0 5 0 . 1 08 3 . 0 4 3 . 1 2 3 . 0 6 3 . 0 7 0 . 0 8 4 5 . 7 7 1 . 4 03 . 0 5 0 . 0 9平均樣本組樣本組AVG總和全距全距觀測(cè)值(m i l )AVG觀測(cè)值(m i l )▼ 實(shí)例說明 例一、內(nèi)層製程工程師希望建構(gòu)一個(gè)內(nèi)層線寬量測(cè)的管制程序，以便當(dāng) 內(nèi)層線寬量測(cè)值發(fā)生異常時(shí)可以迅速的偵測(cè)出來。 B. 搜集數(shù)據(jù) 搜集過去已知檢查樣本數(shù) n及不良數(shù) D之?dāng)?shù)據(jù) 20組
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