spc統(tǒng)計過程控制概述(ppt49頁)-文庫吧在線文庫
【正文】 三變差的普通原因及特殊原因169。John Z. Rao 2023 產品質量的統(tǒng)計觀點二? 產品質量的變異具有統(tǒng)計規(guī)律性 確定性現象，確定性規(guī)律：在一定條件下，必然發(fā)生或不可能發(fā)生的事情。? 計點特性值：如每條內存上少錫點數等離散性數據，最常見的是泊松分布 (Poisson distribution)。169。John Z. Rao 2023 控制圖原理? 3?原則? 不論 ?與 ?取值為何，只要上下限距中心值（平均值）的距離各為 3 ? ，則產品質量特征值落在范圍內的為 %，這是數學計算的精確值，應該牢牢記住。圖中 UCL= ? +3?為上控制限， CL= ?為中心線， LCL= ? 3?為下控制限。通常這種錯誤的概率記為 ?。John Z. Rao 2023 計數型數據的控制圖? 準備工作? 建立一個好的行動環(huán)境? 定義過程? 確定要管理的特性? 應考慮– 顧客的需求– 當前及潛在的問題領域– 特性之間的關系? 定義測量系統(tǒng)，使之具有可操作性? 使不必要的變差最小169。John Z. Rao 2023 ?、 ?變化示意圖時間特性值?無規(guī)律變化?無規(guī)律變化169。John Z. Rao 2023 A1選擇子組大小、頻率和數據a. 子組大小使各樣本之間出現變差的機會小在過程的初期研究中，子組一般由 4~5件連續(xù)生產的產品的組合，僅代表一個單一的過程流。同時還應包括記錄讀數的和、均值（ X）、極差（ R）以及日期 /時間或其他識別子組的代碼的空間。X圖：坐標上的刻度值的最大值與最小值之差應至少為子組均值勤（ X）的最大值與最小值差的 2倍。John Z. Rao 2023 169。該工作在確定了刻度以后應盡快完成。 N為子組的樣本容量。John Z. Rao 2023 A2建立控制圖及記錄原始數據XR 圖通常是將 X圖畫在 R圖之上方，下面再接一個數據欄。John Z. Rao 2023 XR控制圖? 靈敏度高– X圖：X通過平均– R圖：無此優(yōu)點偶因至少可以部分抵消（偶因反映在 ?上）異因不變靈敏度高異因突出169。John Z. Rao 2023 ?、 ?變化示意圖時間特性值?不變?傾向性變化169。John Z. Rao 2023 判異準則 Criteria for abnormality1. 點出界就判異；2. 雖然點均未出界，但界內點排列不隨機就判異；? 第二條準則的具體模式理論上有無窮多種，但具有實際物理意義并被廣泛使用的有少數幾種。若過程異常， ?值增大，分布曲線整體上移，則點子超出 UCL的概率大大增加，可能是的幾十倍、幾百倍。John Z. Rao 2023 控制圖原理? 控制圖的形成：? 將正態(tài)分布圖按順時針方向旋轉 90176。無論平均值如何變化都不會改變正態(tài)分布的形狀，即標準差 ?；無論標準差如何變化，也不會影響數據的
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