spc統(tǒng)計過程控制概述(ppt49頁)(存儲版)
【正文】 線段為底，縱軸表示樣本數(shù)據(jù)落入相應(yīng)直方組的頻數(shù)的 n個矩形所組成的圖形。John Z. Rao 2023 正態(tài)分布平均值與標(biāo)準(zhǔn)差的關(guān)系? 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差是相互獨立的。169。為什么？若過程正常，則點子超出 UCL的概率為 %。169。John Z. Rao 2023 不合格率的 p圖計算控制界限1. 計算過程平均不合格品率– P=2. 計算上、下控制界限（ UCL、 LCL）– UCL=p+3– LCL=p3. 畫線并標(biāo)注– 過程平均 —— 水平實線– 控制線路（ UCL、 LCL） —— 水平虛線169。169。John Z. Rao 2023 169。對每個子組，計算：式中： X1， X2? 為子組內(nèi)的每個測量值。John Z. Rao 2023 A5將均值和極差畫到控制圖上將均值和極差分別畫在其各自的圖上。John Z. Rao 2023 169。R圖：刻度值應(yīng)從最低值為 0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。169。b. 子組頻率在過程的初期研究中，通常是連續(xù)進(jìn)行分組或很短的時間間隔進(jìn)行分組過程穩(wěn)定后，子組間的時間間隔可以增加。John Z. Rao 2023 XR控制圖? 計量值最常用、重要的控制圖? 適用范圍廣：– X圖：? X正態(tài) ?X正態(tài)? X非正態(tài) ?近似正態(tài)（中心極限定理）? 中心極限定理使得 X圖廣為應(yīng)用。John Z. Rao 2023 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖的種類? 不合格品率 p控制圖? 不合格品數(shù) np控制圖? 不合格數(shù) c控制圖? 單位不合格數(shù) u控制圖169。? 漏發(fā)警報 (alarm missing):過程異常，但樣本正好抽到仍位于控制界限以內(nèi)，根據(jù)判異規(guī)則判定過程正常。169。? 產(chǎn)品質(zhì)量特征值落在 [? 3 ? ， ? +3 ? ]之外的概率為 %，其中單側(cè)的概率分別為 %。John Z. Rao 2023 正態(tài)分布特征? 正態(tài)分布是一條曲線，討論起來不方便，故用其兩個參數(shù)描述其特征：1. 平均值（ average)2. 標(biāo)準(zhǔn)差（ standard deviation)? 說明： （ 1）平方是為了避免正負(fù)抵消 （ 2）是求平均值 （ 3）是為了避免單位變化或無故放大169。? 由于二項分布和泊松分布數(shù)據(jù)數(shù)理統(tǒng)計理論較復(fù)雜，以下討論以正態(tài)分布為例。如一個大氣壓（760mm汞柱）下， H2O的變化規(guī)律。John Z. Rao 2023 SPC基礎(chǔ)? SPC (Statistical Process Control) 統(tǒng)計過程控制：利用統(tǒng)計技術(shù)對過程中的各個階段進(jìn)行監(jiān)控，從而得到保證產(chǎn)品質(zhì)量的目的。? 過程控制中常用 精度精度 這個概念來反映質(zhì)量的波動（變異）程度。? 系統(tǒng)性誤差：誤差大小和方向的變化保持不變或按一定規(guī)律變化。John Z. Rao 2023 持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計過程控制概述之
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