spc的起源和發(fā)展培訓(xùn)課件(存儲(chǔ)版)
【正文】 UCL=D4Rm= = LCL=D3Rm（沒有極差的控制下限） 100 XRm圖101 XRm圖2） ．繪制控制圖 102 XRm圖103 XRm圖3） XRm控制圖的應(yīng)用要點(diǎn)1)與 XR控制圖一樣都屬于計(jì)量值雙層控制圖，適用于產(chǎn)品批量小，單件加工時(shí)間長(zhǎng)的產(chǎn)品。21018262）產(chǎn)品特性可進(jìn)行 Cpk、 Ppk分析，過程特性不能進(jìn)行 Cpk、 Ppk分析。 必 須對(duì) 系 統(tǒng) 本身直接 采 取管理措施，否 則過 程能力不可能得到改 進(jìn) 。1171 使用控制 圖 的注意事 項(xiàng) 3） 改善 過 程能力 過 程一旦表 現(xiàn) 出 于統(tǒng)計(jì) 控制 狀態(tài) ， 該過 程所保持的不合格平均水平即反 應(yīng) 了 該 系 統(tǒng) 的 變 差原因 ─過 程能力?？刂茍D后附有一個(gè) “控制圖過程記錄表 ”，便于摘記控制圖異常記錄。(2)適用于計(jì)數(shù)型的產(chǎn)品特性控制，如外觀判定的合格與不合格，耐壓測(cè)試的通過與不通過，最終功能測(cè)試的合格與不合格等。24168 104 P控制圖（不良率或不合格率控制圖） 為考核某電子產(chǎn)品之外觀不良的品質(zhì)水平，檢驗(yàn)員劉 于 8月每天抽取 300個(gè)樣本，每 300個(gè)樣本的外觀不良數(shù)統(tǒng)計(jì)如下，請(qǐng)繪出 P控制圖。從數(shù)學(xué)的角度看，分析用控制圖的階段，就是過程未知階段（用樣本推測(cè)總體規(guī)律），而控制用控制圖的階段則是過程參數(shù)已知的階段（控制已知的總體）。92分析用控制圖與控制用控制圖 抽樣的區(qū)別如規(guī)定每隔一個(gè)小時(shí)抽取 5個(gè)樣本分析用控制圖的抽樣方法是在 每小時(shí)結(jié)束前連續(xù)抽取 5件 ，組成一個(gè)組；控制用的控制圖的抽樣方法是每隔 12分鐘抽取 1個(gè)樣本，把一個(gè)小時(shí)內(nèi)抽取的 5個(gè)樣本歸為一個(gè)組 。可確保所有的過程輸出符合規(guī)范并能防止出現(xiàn)別的特殊原因或與允許存在的特殊原因不穩(wěn)定的其它原因。=nxxLSLxPxUSLPPPPniiplpuplpupksss84初始過程能力研究接收準(zhǔn)則 pk/Ppk 過程可接受≥ 過程 有條件接受＜ 過程不可接受85過程穩(wěn)定與產(chǎn)品符合規(guī)范的關(guān)系每個(gè)過程可以根據(jù)其能力是否受控進(jìn)行分類，過程可分成 4類，如下表所示：713）、 C系列、 P系列過程能力指數(shù)的比較一般優(yōu)先考慮 Cpk，有些顧客要求 Ppk或兩者同時(shí)要求。注意：控制上限與規(guī)格上限的區(qū)別、控制下限與規(guī)格下限的區(qū)別過程固有變差：僅由于普通原因（即系統(tǒng)原因）產(chǎn)生的那部分過程變差。造成本準(zhǔn)則現(xiàn)象的主要原因是數(shù)據(jù)分層不夠。與準(zhǔn)則 5類似。產(chǎn)生趨勢(shì)的原因可能是工具逐漸磨損、維修逐漸變壞、操作人員技能的逐漸提高等，如下圖 3。準(zhǔn)則 1可對(duì)參數(shù) μ 的變化或參數(shù) σ 的變化給出信號(hào)，變化越大，則出信號(hào)越快。由于Σ = Σ R=357，參見上表，所以得出：R= 控制上限 UCL=D4 R == 中心限 CL= R = 控制下限 LCL=D3 R =0 D D3查下表 36373）計(jì)算 X控制圖的中心值、上下界限值 控制上限： UCL=X+A2R=+ = 中心限： CL=X= 控制下限： LCL=XA2 R = = 384） R、 X控制圖描點(diǎn)對(duì)照數(shù)據(jù)表中的 25個(gè) R、 X值分別在 R、 X控制圖上描點(diǎn)，并連成折線。22146控制圖可以運(yùn)用到任何領(lǐng)域，遠(yuǎn)不只限于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)控制。 休哈特將上述原因分為兩類：普通原因 由領(lǐng)導(dǎo)層承擔(dān)責(zé)任。生產(chǎn)實(shí)踐證明，無論用多么精密的設(shè)備和工具，多么高超的操作技術(shù)，甚至由同一操作工，在同一設(shè)備上，用相同的工具，生產(chǎn)相同材料的同種產(chǎn)品，其加工后的質(zhì)量特性（如： 重量、尺寸等 ）總是有差異，這種差異稱為 波動(dòng) 。ControlanalyzingQualityShewhart1931發(fā) 表1931年 Shewhart發(fā) 表了“Economic 13基礎(chǔ) 直方圖 直方圖的常見形態(tài)與判定雙峰型 1）有兩個(gè)不同的組合，如兩部機(jī)器或兩家不同的供應(yīng)商。3）次數(shù)分配不當(dāng)，如作圖時(shí)分組太多。SL 5基礎(chǔ) 直方圖④ 確定測(cè)量最小單位（按小數(shù)點(diǎn)的位數(shù)來決定）整數(shù)位測(cè)量最小單位為 1，如果數(shù)據(jù)是 50或 100時(shí)，那么它的測(cè)量最小單位為 1。55分 本組數(shù)據(jù)有 1位小數(shù)點(diǎn)，所以本組的測(cè)量最小單位為 。2）工具、檢具、模具已經(jīng)磨損或松動(dòng)。2）數(shù)據(jù)太多或太少。QualityChartChartProduction 控制 圖 的 發(fā) 展一、 SPC的起源和發(fā)展18二、波動(dòng)（變差）的概念 生活中的波動(dòng)現(xiàn)象 將品質(zhì)波動(dòng)的原因區(qū)分為普通 原因 與 特殊原因 兩類并分別對(duì)待，這是休哈特的貢獻(xiàn)！。191725控制圖對(duì)應(yīng)的是特殊原因2526五、反映波動(dòng)的變量基礎(chǔ)的統(tǒng)計(jì)量 —— 平均值 X、極差 R、 標(biāo)準(zhǔn)偏差 ?平均值 X 設(shè) X1， X2， …… .Xn是一個(gè)大小為 n的樣本， 則 X=（ X1+X2+…… +Xn)/n平均值的意義與局限性如人均收入的局限性27五、反映波動(dòng)的變量極差 R 樣本數(shù)據(jù)中的最大值 Xmax與最小值Xmin的差值。41應(yīng)用 控制 圖 的目的是 為 了使生 產(chǎn)過 程或工作 過程處于 “控制 狀態(tài) ”， 控制 狀態(tài)（穩(wěn) 定狀態(tài)） 指生 產(chǎn)過 程 的波動(dòng)僅 受 正常原因 的影 響 ，產(chǎn)品質(zhì)量 特性的分布基本上不 隨時(shí)間 而 變化的狀態(tài)； 反之 則為 非控制 狀態(tài)或異常狀態(tài)。 ABCCBAUCLCLLCL前面例子中 Xbar圖的第 13點(diǎn)異常46判異準(zhǔn)則 2（以國標(biāo) GB/T4091— 2023的 8種判異準(zhǔn)則為例）判定準(zhǔn)則 2（ 9側(cè)鏈 ）連續(xù) 9點(diǎn)落在中心線同一側(cè)。如下圖 4。 ABCCBALCLUCLCL51判異準(zhǔn)則 2（以國標(biāo) GB/T4091— 2023的 8種判異準(zhǔn)則為例）判定規(guī)則 7（ 15C區(qū)內(nèi) ） 連續(xù) 15點(diǎn)在 C區(qū)中心線上下。說明： 1）控制上限（ UCL）及控制下限（ LCL）分別在中心線以上及以下三倍標(biāo)準(zhǔn)差處。從數(shù)學(xué)意義上， σ是近似計(jì)算樣本標(biāo)準(zhǔn)差， S是考慮每個(gè) X數(shù)據(jù)（前例 125點(diǎn)），精確計(jì)算樣本標(biāo)準(zhǔn)差。724）、 過程能力指數(shù)與不良率的關(guān)系73744）、 過程能力指數(shù)與不良率的關(guān)系%%%3σ 3σ若 T=6 σ ,則 CP=1， P
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