【正文】 0~160℃ 17FMEA的分類DFMEA—— 是由產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員編制的設(shè)計(jì)失效 模式和結(jié)果分析；PFMEA—— 是由工藝設(shè)計(jì)人員編制的過程失效 模式和結(jié)果分析。 FMEA的范圍 適用于新產(chǎn)品開發(fā)量產(chǎn)前、材料變更時(shí)、過程設(shè)備、模、治具變更或購(gòu)置時(shí)、工藝變更時(shí)。22 FMEA工作流程圖 —— 缺陷名稱 —— 潛在失效后果 —— 嚴(yán)重度 S —— 失效頻度 O —— 可探測(cè)度 D RPN= S O D根據(jù) RPN風(fēng)險(xiǎn)順序提交改進(jìn)措施23RPN 說明項(xiàng)目 /功能 潛在失效模式 潛在失效后果嚴(yán)重度S級(jí)別 潛在失效的起因 /機(jī)理頻度O 現(xiàn)行設(shè)計(jì)控制探測(cè)度D RPN項(xiàng)目 /功能 潛在失效模式 潛在失效后果嚴(yán)重度S級(jí)別 潛在失效的起因 /機(jī)理頻度O 現(xiàn)行設(shè)計(jì)控制探測(cè)度D RPNDFMEAPFMEA來自經(jīng)驗(yàn)和數(shù)據(jù) 來自預(yù)測(cè)設(shè)計(jì)過程起因后果控制失效模式 頻度 嚴(yán)重度 探測(cè)度24DFMEA系統(tǒng) /產(chǎn)品分析? 剖析系統(tǒng)、產(chǎn)品的組成? 分解成最經(jīng)濟(jì)、最簡(jiǎn)單的單元 系統(tǒng) \子系統(tǒng) \零部件資料來源 : 圖紙 設(shè)計(jì)任務(wù)書 產(chǎn)品規(guī)范 物料明細(xì)表25 DFMEA? 系統(tǒng)、子系統(tǒng)和零部件框圖?？扇夹裕?UL94設(shè)計(jì) FMEA可以把過程控制不當(dāng)作為失效原因，失效原因是 5M1E出現(xiàn)問題。追蹤結(jié)果填 FMEA表再評(píng)定 O/D[因?yàn)?S不變 ]看看 RPN是否下調(diào)。?根據(jù)經(jīng)驗(yàn)，嚴(yán)重度大于等于 8時(shí)，應(yīng)予以特別注意，并進(jìn)行糾正措施。例如廢品件數(shù)、產(chǎn)品臺(tái)數(shù)、產(chǎn)品表面缺陷斑點(diǎn)數(shù)等等，他們只能取整數(shù)，通過手工點(diǎn)數(shù)獲得，這種數(shù)據(jù)屬于 離散型數(shù)據(jù) 。在質(zhì)量管理中最常見到分布規(guī)律是 正態(tài)分布 。平均值 ：％％％曲線下的總面積＝ 100％－ ∞ ＋ ∞49② 平均值　 　 一般用 表示，它代表該數(shù)據(jù)的分布的中心位置，所以也稱為位置參數(shù)?！　?2A 槍 手uxLCL UCLB 槍 手u xLCL UCLC 槍 手u xLCL UCLSigma (標(biāo)準(zhǔn)偏差 ) ?539 1110Sigma (標(biāo)準(zhǔn)偏差 ) ?由此可 見 Sigma (?)即是 變異 ,學(xué)術(shù) 名 詞叫 標(biāo)準(zhǔn)偏差Sigma (?)表示 數(shù)據(jù) 的 離散程度? ( X X )i1= n1Σ 2n依照射擊擊中環(huán)次的頻率進(jìn)行排列，可得以下圖表：X54總體標(biāo)準(zhǔn)差 總體容量總體中第i 個(gè)數(shù)據(jù)總體平均值總體標(biāo)準(zhǔn)差的計(jì)算σ ∑ i=1N（ X i μ ）N255母 體樣 本( X X ) S=樣 本 標(biāo)準(zhǔn) 差S = n11Σ 2ni1 因 為標(biāo)準(zhǔn) 差是用 數(shù)據(jù) 整 體計(jì)算 ，所以 當(dāng)數(shù)據(jù) 量大太 時(shí)，就不便以操作 ,而且不符合現(xiàn) 場(chǎng) 需要。3σ之外 。SPC與 控制圖60 將 平均值 作 為 管制中心 線 (Central Line 簡(jiǎn)稱 CL )， 以 實(shí)線 表示； 將 +3σ 作 為 管制上 線 (Upper Control Limit 簡(jiǎn)稱 UCL )， 通常以虛 線 或紅線 表示；將 － 3σ 作 為 管制下 線 (Lower Control Limit 簡(jiǎn)稱 LCL )， 通常以虛 線或 紅線 表示 。(2) 把 數(shù) 據(jù) 記 入 數(shù) 據(jù)表 。 (6)計(jì) 算全距 R平均 值 。UCLCLLCL74? ? 對(duì)分析用控制圖進(jìn)行判斷，當(dāng)過程處于穩(wěn)定受控狀態(tài)且 過程能力達(dá)到規(guī)定質(zhì)量要求時(shí)，將分析用控制圖的控制界線延長(zhǎng)，轉(zhuǎn)化為控制用控制圖，進(jìn)行日常的質(zhì)理管理。 82第四部分MSA—— 測(cè)量系統(tǒng)分析83：標(biāo)準(zhǔn)：零件：儀器：人 /程序：環(huán)境S W IPE量測(cè) 數(shù)值 分析輸入 輸出可接受可能可接受需改善量 測(cè) 系 統(tǒng)?如果測(cè)量的方式不對(duì)，那么好的結(jié)果可能被測(cè)為壞的結(jié)果，壞的結(jié)果也可能被測(cè)為好的結(jié)果，此時(shí)便不能得到真正的產(chǎn)品或過程特性。95案例：某次實(shí)驗(yàn)得到的數(shù)據(jù)，假設(shè)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差為 ,n=2時(shí) ,d2 =， 請(qǐng)計(jì)算 % GRR。且評(píng)價(jià)人相互之間的讀數(shù)也看不到。104n 對(duì)于以 “ 是 ” 和 “ 不是 ” 為計(jì)數(shù)基礎(chǔ)的定性數(shù)據(jù)，其 GRR考察的概念是與定量數(shù)據(jù)一樣的。 測(cè) 量的夾緊或定位需改進(jìn) 。112保存 /提交要求 要求 提交等級(jí) 等級(jí) 1 等級(jí) 2 等級(jí) 3 等級(jí) 4 等級(jí) 5 R S S * R 對(duì)于專利部件 /詳細(xì)資料 R R R * R 對(duì)于所有其它部件 /詳細(xì)資料 R S S * R，如果有 R S S * R，如果要求 R R S * R FMEA（ 見 ） R R S * R R R S * R FMEA R R S * R R S S * R、性能試驗(yàn)結(jié)果 R S S * R R R S * R R R S * R113 要求 提交等級(jí) 等級(jí) 1 等級(jí) 2 等級(jí) 3 等級(jí) 4 等級(jí) 5 R S S * R R R S * R（ SPW） S S S S R（ AAR）， 如果適用 S S S * R（僅適用 R R R * R 于散裝材料 ） R S S * R R R R * R R R R * R R R S * RS=供方必須向指定的顧客產(chǎn)品批準(zhǔn)部門提交，并在適當(dāng)?shù)膱?chǎng)所，包括制造場(chǎng)所，保留一份記錄或文件項(xiàng)目的復(fù)印件。16