【正文】 個(gè)子組內(nèi)的缺陷數(shù) (c)137B計(jì)算控制限138過程控制解釋、過程能力解釋? 過程控制解釋– 同 p圖解釋? 過程能力解釋– 過程能力為 c平均值，即固定容量 n的樣本的缺陷數(shù)平均值。4 2 3 7 4 6 2 4 1 3 2 0 11 3 3 4 5 8 6 2 日期缺點(diǎn)數(shù)日期 缺點(diǎn)數(shù)1 2 3 4 5 6 7 8 9 1011 12 13 14 15 16 17 18 19 20C 管制圖140發(fā)現(xiàn)了脫離發(fā)現(xiàn)了脫離 管制上限的管制上限的 一個(gè)點(diǎn)，所以不能說處于管一個(gè)點(diǎn)，所以不能說處于管 制制 狀態(tài)。C 管制圖141單位產(chǎn)品缺陷數(shù)的 u圖? “u”圖用來測量具有容量不同的樣本 (受檢材料的量不同 )的子組內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。? 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/n– 式中 c為發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量， n為子組中樣本容量 (檢驗(yàn)報(bào)告單位的數(shù)量 )， c和 n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。 判定工程的管理狀態(tài)與否。超出管制界限的點(diǎn)?管制圖判斷規(guī)則之原因此規(guī)則是最常使用到的，因?yàn)槿绻?3σ為管制界限，而觀測值會(huì)落到 3σ外的機(jī)率只有 %。連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn)落在 1σ外?管制圖判斷規(guī)則之原因發(fā)生連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn)落在 1σ外的機(jī)率非常小，所以一但管制圖上有此種情形發(fā)生，應(yīng)該找出發(fā)生的原因。特異值 (freaks):某個(gè)觀測值明顯的與其它值不同。平均值改變 (shift in level):平均值明顯不在中心線附近?管制圖發(fā)生平均值改變之原因可能是 :夾具 制程方法 制程技術(shù) 引進(jìn)新原料 操作員技術(shù)更熟練 改變設(shè)備維修計(jì)劃 引進(jìn)制程管制等 標(biāo)準(zhǔn)變化 162252。分層 (stratification):是一種穩(wěn)定的混合型，通常是靠近中心線或管制界限?管制圖發(fā)生分層之原因可能是 :兩種以上 原料，操作員機(jī)器測量工具生產(chǎn)方法交錯(cuò)使用管制界限計(jì)算錯(cuò)誤數(shù)字的小數(shù)點(diǎn)錯(cuò)誤 166252。3σ為 561177。 ? 一切品質(zhì)特性都具有它的目標(biāo)值 (Target Value)， 品質(zhì)是與目標(biāo)值的偏差越小越優(yōu)秀。 181? 短期製程能力指數(shù) ? 製程平均和規(guī)格中心一致時(shí)? 製程平均和規(guī)格中心不一致時(shí)? σ Hat表示短期標(biāo)準(zhǔn)差，在 Minitab中以 StDev(Within)表示 。D級 :應(yīng)采取緊急措施，全面檢討所有可能影響之因，必要時(shí)得停止生產(chǎn)。167。 效果167。 獨(dú)立型167。 管理 為了取得成果把焦點(diǎn)對準(zhǔn) X和 Y中哪個(gè) ?f (X)Y=?製程控制192控制點(diǎn)設(shè)哪？PROCESS原料人 機(jī) 法 環(huán) 測量測量結(jié)果好不好193過程控制Ys的現(xiàn)在能力是多少 ,對 Ys有影響的 Process輸入要素 Xs里有什么？ Process N1 N3N2雜音變量 (Noise)(不可控制的輸入變量 U)C2C1 C3可控制的LSL USL設(shè)定初期製程能力分析品質(zhì)特性 :輸出變量Y1, Y2 等X1X2X3輸入變量常數(shù) (Constants)194195196SPC之精神制程參數(shù)的確是 SPC的焦點(diǎn)，但是我們應(yīng)深入探究 ── 　　?為什么挑出這些制程參數(shù)？?這些制程參數(shù)的控制條件是如何決定的？?這些制程參數(shù)與成品品質(zhì)間有因果關(guān)系可循嗎？PROCESS原料 測 量 結(jié) 果針對產(chǎn) 品所做的仍只是在做 SQC針對過 程的重要控制參數(shù) 所做的才是 SPC參數(shù)設(shè)計(jì)參數(shù)驗(yàn)證197多品質(zhì)監(jiān)控臺198至今為止 。200201Thanks !202謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH。SpecLSL USL我們合格Specin就合格I am alive(我活著 )Specout不合格檢出不良傳統(tǒng)品質(zhì)觀念與品質(zhì)損失函數(shù)199傳統(tǒng)品質(zhì)觀念與品質(zhì)損失函數(shù)SpecLSL USL集中在中心才合格散就死Specin但沒有達(dá)到水準(zhǔn)就不合格潛在的不良事前預(yù)測呀 !有吃的 (不良 ) 從今往后 。 原因167。 觀察 (記錄 )167。 從屬型167。 通過正態(tài)性檢定 (Normality Test)確認(rèn) DATA是正態(tài)分布，核心部品的規(guī)格是按顧客要求 600mm ? 2mm . 通過以下 DATA做製程能力分析。B級 :有必要可能將其改進(jìn)為 A級。 在這里 CP 或 PP 是製程平均與規(guī)格中心一致時(shí)的製程能力指數(shù)， CPK 或 PPK 是製程平均與規(guī)格中心不一致時(shí)的製程能力指數(shù)。? 求不良率 P% 先求 Z值 ,再查表177? 能生產(chǎn)均一品質(zhì)制品的製程固有能力。 雙邊規(guī)格 ： Z USL = Z LSL = Z % = Z USL% +Z LSL %( P不良率 ) 若若 Z 0 ，則表示制程總平均值落在規(guī)格界限外，則表示制程總平均值落在規(guī)格界限外 Z 值可用於估計(jì)制程超出規(guī)格界限之 P不良率 (查表 ) USL ─ XσX ─ LSLσ176Case study ? 例：某產(chǎn)品的電性規(guī)格是 560177。混合 (mixtures):觀測值都落在離中心線很遠(yuǎn)的地方，而且交錯(cuò)地分散?管制圖發(fā)生混合之原因可能是 兩種以上的原料 ﹑ 操作員 ﹑ 機(jī)器測量工具 ﹑ 生產(chǎn)方法交錯(cuò)使用164252。周期變化 (cycles):在一個(gè)短區(qū)間，數(shù)據(jù)會(huì)以某種模式重復(fù)。連續(xù) 8點(diǎn)落在中心線的同一側(cè)?管制圖判斷規(guī)則之原因發(fā)生連續(xù)八點(diǎn)都落在中心線同一邊的機(jī)率非常小，所以一但管制圖上有此種情形發(fā)生，應(yīng)該找出發(fā)生的原因。連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)落在 2σ外?管制圖判斷規(guī)則之原因在此離中心線 2σ稱為警戒管制線，發(fā)生連續(xù)三點(diǎn)中有兩點(diǎn)落在2σ外的機(jī)率非常小，所以一但管制圖上有此種情形發(fā)生，應(yīng)該找出發(fā)生的原因。狀態(tài)。145為管理 Enamel銅線的涂裝工程，調(diào)查了 Pin Hole的數(shù)。 “u”圖和 “c”圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多于一個(gè) “單位產(chǎn)品 ”的量，為使報(bào)告值更有意義時(shí)，可以使用 “u”圖，并且在不同時(shí)期內(nèi)樣本容量不同時(shí)必須使用 “u”圖。 進(jìn)而查明其原因。在過去 20天對每 10臺外觀不良 (缺點(diǎn) )Check 的結(jié)果發(fā)現(xiàn)如下。 NP 管制圖135缺陷數(shù) c圖? “c”圖 用 來測量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量， c圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恒定，它主要用以下兩類檢驗(yàn)：– 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上 (例如每匹維尼龍上的瑕疪，玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn) )，以及可以用不合格的平均比率表示的地方 (如每 100平方米維尼龍上暇疵 )。? D過程能力解釋：過程能力如下：132不合格品數(shù) np圖133對某制品在 n = 50個(gè)中出現(xiàn)的不良個(gè)數(shù)經(jīng)過 25 回調(diào)查的結(jié)果如下。分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。P 管制圖128不合格品數(shù) np圖? “np”圖是 用 來度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的數(shù)量，與 p圖不同， np圖表示不合格品實(shí)際數(shù)量而不是與樣本的比率。P 管制圖127因?yàn)榘l(fā)現(xiàn)了脫離管因?yàn)榘l(fā)現(xiàn)了脫離管 制上限制上限 的兩的兩 個(gè)點(diǎn)，所以不能說處于管個(gè)點(diǎn)，所以不能說處于管 制制 狀態(tài)。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因。? 控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。劃圖區(qū)域117A4將不合格品率描繪在管制圖上? 描繪每個(gè)子組的 p值，將這些點(diǎn)聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。? 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。由于這個(gè)原因，在解釋趨勢時(shí)要特別注意。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個(gè)讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等 )。? 如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值管制圖時(shí)要非常小心。69搜集 數(shù)據(jù)繪 解析用管制 圖是否 穩(wěn) 定？繪 直方 圖是否滿足規(guī)格？控制用管制圖尋 找 特殊原因檢討機(jī)械 、 設(shè)備提 升 制 程能力管制圖制作管制圖制作70管制圖的形成8 14131211109CLLCLUCLμ 3σμμ +3σ713σ 原則 3σ 原則即是控制圖中的 CL, UCL及 LCL由下式確定 : UCL=μ+3σ CL=μ LCL=μ3σ 式中 , μ,σ 為統(tǒng)計(jì)量的總體參數(shù) . 經(jīng)驗(yàn)證明休華特所提出的 3σ 方式能使兩類錯(cuò)誤造成的總損失最小