【文章內容簡介】 使產品質量波動的有兩種原因 , 共同原因和特殊原因 . 應用統(tǒng)計學原理設計出控制圖相應的控制界限 , 當特殊原因波動發(fā)生時 , 點子就會落在界外 .75建立管制圖的四步驟A收集數(shù)據(jù)B計算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋76建立 X barR圖的步驟 AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計算每個子組的均值 X和極差 RA4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差畫到控制圖上77每個子組的平均值和極差的計算78平均值和極差? 平均值的計算n R值的計算79Ｂ計算控制限 B1計算平均極差及過程平均值B2計算控制限B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線建立 X BarR圖的步驟 B8081Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點C2識別並標注特殊原因 (極差圖 )C3重新計算控制界限 (極差圖 )C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形C5識別並標注特殊原因 (均值圖 )C6重新計算控制界限 (均值圖 )C7為了繼續(xù)進行控制延長控制限建立 X barR圖的步驟 C82Ｄ過程能力解釋D1計算過程的標準偏差D2計算過程能力D3評價過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖並分析建立 X barR圖的步驟 D83X BarR Chart練習? 某工廠制造一批紫銅管，應用 X barR管制圖來控制其內徑，尺寸單位為 m/m，利用數(shù)據(jù)表之數(shù)據(jù)（ n=5） ：? 求得其管制界限并繪圖? 請判定過程是否穩(wěn)定？? 如果是不穩(wěn)定該如何處理？? 如果制程假設已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=5調為 n=4時，那么其新控制限為何？84使用管制圖的準備? 建立適用于實施的環(huán)境? 定義過程? 確定 待管 制 的特性 ，考慮到– 顧客的需求– 當前及潛在的問題區(qū)域– 特性間的相互關系? 確定 測量系統(tǒng) (MSA)? 使不必要的變差最小85質量特性與管制圖的選擇? 為保證最終產品的質量特性 , 需要考慮以下幾個方面 :– 認真研究用戶對產品質量的要求 , 確定這些要求 哪 些與質量特性有關 , 應選擇與使用目的有重要關系的質量特性來作為控制的項目 .– 有些雖然不是最終產品質量的特性 , 但為了達到最終產品的質量目標 , 而 在生產過程中所要求的質量特性也應列為控件目– 在同樣能夠滿足對產品質量控制的情況下 , 應該 選擇容易測定的控件目 . 用統(tǒng)計方法進行質量控制 。 如無質量特性數(shù)據(jù)就無法進行 .86質量特性與管制圖的選擇– 在同樣能夠滿足產品質量控制的情況下 , 應選擇對生產過程容易采取措施的控件目 .– 為了使控制最終取得最佳效果 , 應盡量采取 影響產品質量特性的根本原因 有關的特性或接近根本原因的特性作為控件目 .– 產品的質量特性有時不止一個 , 則應同時采取幾個特性作為控件目 .87使用管制圖的注意事項? 分組問題– 主要是使在大致相同的條件下所收集的質量特性值分在一組 , 組 內 不應有不同本質的數(shù)據(jù) , 以保證組內僅有 普通原因 的影響 .– 我們所使用的管制圖是以影響過程的許多變動因素中的 普通 因素所造成的波動為基準來找出異常因素的 , 因此 , 必須先找出過程中 普通原因波動這個基準 .88時間質量特性 製程的變化分組時的重要考慮讓組內變化只有普通原因讓組間變化只有特殊原因組內變異小組間變異大89使用管制圖的注意事項? 分層問題– 同樣產品用若干臺設備進行加工時 , 由于每臺設備工作精度、使用年限、保養(yǎng)狀態(tài)等都有一定差異 , 這些差異常常是增加產品質量波動、使散差加大的原因 . 因此 , 有必要按不同的設備進行質量分層 , 也應按 不同條件 對質量特性值進行分層控制 , 作分層管制圖 . – 另外 , 當管制圖發(fā)生異常時 , 分層又是為了確切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法 .90Question? 請問有哪些層別分析的角度？91復合層別的說明92使用管制圖的注意事項? 控制界限的重新計算– 為使控制線適應今后的生產過程 , 在確定管制圖最初的控制線 CL、 UCL、 LCL時 , 常常需要反復計算 , 以求得切實可行的管制圖 . 但是 , 管制圖經(jīng)過使用一定時期后 , 生產過程有了變化 , 例如加工工藝改變、刀具改變、設備改變以及進行了某種技術改革和管理改革措施后 , 應重新收集最近期間的數(shù)據(jù) , 以重新計算控制界限并作出新的管制圖 .93控制界限 的 延用94取樣的方式? 取樣必須達到組內變異小，組間變異大? 樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明95 每組樣本數(shù)96組數(shù)的要求 (最少 25組 )當制程中心值偏差了二個標準差時，它在控制限內的概率為 那么連續(xù) 25點在線內的概率為：97? A收集數(shù)據(jù)：在計算各個子組的平均數(shù)和標準差其公式分別如下：98? B計算控制限99n C過程控制解釋n(同 XR圖解釋 )100n D過程能力解釋Sigma P101? A收集數(shù)據(jù)– 一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小于 10的情況，樣本容量為奇數(shù)時更為方便。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個數(shù)的均值。102? B計算控制限103nC過程控制解釋n(同 XR圖解釋 )104? 估計過程標準偏差：105? 單值控制在檢查過程變化時不如 XbarR圖敏感。? 如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值管制圖時要非常小心。? 單值管制圖不能區(qū)分過程零件間重復性，最好能使用 XbarR。? 由于每一子組僅有一個單值，所以平均值和標準差會有較大的變性，直到子組數(shù)達到 100個以上。106107? A收集數(shù)據(jù)– 收集各組數(shù)據(jù)– 計算單值間的移動極差。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個讀數(shù)點的差，第二和第三讀數(shù)間的差等 )。移動極差的個數(shù)會比單值讀數(shù)少一個 (25個讀值可得 24個移動極差 )，在很少的情況下，可在較大的移動組 (例如 3或 4個 )或固定的子組 (例如所有的讀數(shù)均在一個班上讀取 )的基礎上計算極差。108nB計算控制限109? C過程控制解釋– 審查移動極差圖中超出控制限的點，這是存在特殊原因的信號。記住連續(xù)的移動極差間是有聯(lián)系的，因為它們至少有一點是共同的。由于這個原因，在解釋趨勢時要特別注意。– 可用單值圖分析超出控制限的點，在控制限內點的分布，以趨勢或圖形。但是這需要注意，如果過程分布不是對稱，用前面所述的用于 X圖的規(guī)則來解釋時，可能會給出實際上不存在的特殊原因的信號110n 估計過程標準偏差：n式中， R為移動極差的均值， d2是用于對移動極差分組的隨樣本容量 n而變化的常數(shù)。111不良和缺陷的說明112P管制圖的制做流程A收集數(shù)據(jù)B計算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋113建立 p圖的步驟 AＡ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A2計算每個子組內的不合格品率A3選擇控制圖的坐標刻度A4將不合格品率描繪在控制圖114A1子組容量、頻率、數(shù)量? 子組容量：用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的管制圖 一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗出性能的變化，一般希望每組內能包括幾個不合格品，但樣本數(shù)如果太 大 也會有不利之處。? 分組頻率：應根據(jù)產品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾? 子組數(shù)量： 要大于等于 25組以上，才能判定其穩(wěn)定性 。115A2計算每個子組內的不合格品率? 記錄每個子組內的下列值– 被檢項目的數(shù)量 ─n– 發(fā)現(xiàn)的不合格項目的數(shù)量 ─np– 通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率116A3選擇管制圖的坐標刻度? 描繪數(shù)據(jù)點用的圖應將不合格品率作為縱坐標，子組識別作為橫坐標?？v坐標刻度應從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。劃圖區(qū)域117A4將不合格品率描繪在管制圖上? 描繪每個子組的 p值，將這些點聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。? 當點描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確。? 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在管制圖的 “備注 ”部份。118Ｂ計算控制限 B1計算過程平均不合格品率B2計算上、下控制限B3畫線並標注建立 p管制圖的步驟 B119計算平均不合格率及控制限120畫線并標注? 均值用水平實線：一般為黑色或藍色實線。? 控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。? 盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會如下圖：121122收集數(shù)據(jù) 繪圖及計算 控制限 是否異常 延伸控制限N找出異常點原因並提出相應措施製程有變化人機料法環(huán)測量Y控制限運用說明123過程能力解釋普通原因和異因並存 找出異因只剩普通原因運用控制圖過程穩(wěn)定(連 25點不超限 )計算過程能力124評價過程能力過程穩(wěn)定，不良率維持在一定的水平當中降低不良率採取管理上的措施降低普通原因，如此才能縮小控制界限，降低不良率縮小控制限125改善過程能力? 過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反應了該系統(tǒng)的變差原因 ─ 過程能力。在操作上診斷特殊原因 (控制 )變差問題的分析方法不適于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。必須對系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因。? 可以使用諸如 排列圖 分析法及 因果分析圖 等解決問題技術。但是 如果僅使用計數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理解問題所在 ，通常盡可能地追溯變差的可疑原因，并 借助計量型數(shù)據(jù)進行分將有利于問題的解決126以下是整理按每小時實施的對最終制品的抽樣檢查結