【文章內(nèi)容簡介】 為：試驗(yàn)控制限 X1+X2+…..X kKX=R1+R2+…..R KKR=54SPCC 過程控制解釋 C． 1 分析極差圖（ R圖）上的數(shù)據(jù)點(diǎn) a. 超出控制限的點(diǎn) —— 出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一 個(gè)控制限，是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)。因?yàn)? 在只存在普通原因引起變差的情況下，超出控制限 的點(diǎn)會(huì)很少，我們便假設(shè)該超出的是由于特殊原因 造成的。因此，任何超出控制限的點(diǎn)是立即進(jìn)行分 析，找出存在的特殊原因的信號。 55SPC超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)； 零件間的變化性或分布的寬度已經(jīng)增大（即變壞），這 種增大可以發(fā)生在某個(gè)時(shí)間點(diǎn)上，也可能是整個(gè)趨勢的 一部分； 測量系統(tǒng)變化（例如，不同的檢驗(yàn)員或量具）； 測量系統(tǒng)沒有適當(dāng)?shù)姆直媪Α? 有一點(diǎn)位于控制限之下（對于樣本容量大于等于 7的 情況），說明存在下列情況的一種或幾種： 控制限或描點(diǎn)錯(cuò)誤； 分布的寬度變?。醋兒茫?； 測量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 56SPCb． 鏈 —— 有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè)； 連續(xù) 7點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)）或下降； 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： 輸出值的分布寬度增加，其原因可能是無規(guī)律的（例如設(shè)備工 作不正常或固定松動(dòng)）或是由于過程中的某個(gè)要素變化（例如 ，使用新的不是很一致的原材料），這些都是常見的問題，需 要糾正； 測量系統(tǒng)改變（例如，新的檢驗(yàn)員或量具。） 低于平均極差的鏈，或下降鏈表明存在下列情況之一或全 部輸出值分布寬度減小，這常常是一具好狀態(tài)，應(yīng)研究以便推 廣應(yīng)用和改進(jìn)過程； 測量系統(tǒng)改變，這樣會(huì)遮掩過程真實(shí)性能的變化。 注：當(dāng)子組數(shù)（ n） 變得更小（ 5或更?。r(shí)，低于的鏈的可能 性增加，則 8點(diǎn)或更多點(diǎn)組成的鏈才能表明過程變差減少。 57SPCC． 明顯的非隨機(jī)圖形：各點(diǎn)與 R的距離；一般地，大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間三分之一的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的三分之二的區(qū)域。 如果顯著多于 2/3以上的描點(diǎn)落在離很近之外（低于 25個(gè)子組，如果超過 90% 的點(diǎn)落在控制限三分之一的區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)； 過程或取樣方法被分層；每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩 個(gè)或多個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測量值； 58SPC數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差與均值相差甚遠(yuǎn)的幾個(gè)子組被更改 或剔除） 如果顯著少于 2/3以下的描點(diǎn)落在離很近的區(qū)域（對 于 25個(gè)子組，如果有償使用 40% 或少于 40% 的點(diǎn)落在中間 三分之一的區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或兩種進(jìn)行調(diào) 查： 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)； 過程或抽樣方法造成邊疆的分組中飲食從兩個(gè)或多上具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（例如：輸入材料批 次混淆）。 59SPC特殊原因判斷準(zhǔn)則 1個(gè)點(diǎn)距中心限超過三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差連續(xù) 7點(diǎn)在中心線的同一側(cè)6點(diǎn)連續(xù)上升或下降連續(xù) 14點(diǎn)交替上升或下降連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)距中心線大于兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差 (同側(cè) )連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn)距中心線大于 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差 (同側(cè) )連續(xù) 15個(gè)點(diǎn)在距中心線一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差內(nèi) (兩側(cè) )連續(xù) 8個(gè)點(diǎn)距中心線大于 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差60SPCC． 2 識別并標(biāo)注特殊原因（極差圖）對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每個(gè)特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，為了將生產(chǎn)的不合格輸出減到最小以及獲得診斷用的新證據(jù)，及時(shí)分析問題是很重要的。 61SPCC． 3重新計(jì)算控制極限（極差圖）排除所有受已被識別并解決或固定下來的特殊原因影響的子組，然后重新計(jì)算新的平均極差（ R） 和控制限，并畫下來。如有必要重復(fù)識別 /糾正 /重新計(jì)算的過程。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是 “丟棄壞數(shù)據(jù) ”。而是排除受已知的特殊原因影響的點(diǎn)，我們有普通原因引起的變差的基本水平的更好估計(jì)值。因?yàn)檫@用來檢驗(yàn)將來出現(xiàn)變差的特殊原因的控制限提供了最適當(dāng)?shù)囊罁?jù)。但是要記?。阂欢ㄒ淖冞^程，以使特殊原因不會(huì)作為過程的一部分重視。62SPCC． 4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)（ x）由于的控制限取決于極差圖中的變差的大小，因此如果均值處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，其變差便于極差圖中的變差 —— 系統(tǒng)的普遍原因變差有關(guān)。如果均值沒有受控，則存在造成過程位置不穩(wěn)定的特殊原因變差。 a. 超出控制限的點(diǎn) —— 出現(xiàn)一點(diǎn)或多點(diǎn)超出任一控 制限就證明在這點(diǎn)出現(xiàn)特殊原因。這是立即對操 作進(jìn)行分析的信號。在控制圖上標(biāo)注這樣的數(shù)據(jù) 點(diǎn)。 63SPCb. 鏈 —— 下列每一種情況都表明過程已開始變化或有變化的趨勢： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值的一側(cè)； 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降。 標(biāo)注這些促使人們作出決定的點(diǎn)；從該點(diǎn)做一條 參考線延伸到鏈的開始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變 化趨勢或變化的時(shí)間。 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一 或兩者： 過程均值已改變 —— 也許還在變化； 測量系統(tǒng)已改變（飄移、偏差、靈敏度等）。64SPCc. 明顯的非隨機(jī)圖形各點(diǎn)與過程均值的距離：一般情況下，大約三分之二 的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限三分之一的中間區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn) 落在其它三分之二的區(qū)域。 1/20的點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之 處（位于三分之一的區(qū)域）。另外，存在大約 1/150的點(diǎn)落 在控制限之外，但可認(rèn)為是受控的穩(wěn)定系統(tǒng)合理的一部 分 —— 就是說在約 % 的點(diǎn)位于控制限之內(nèi)。 如果大大超過 2/3的點(diǎn)落在過程均值的附近（對于 25個(gè) 子組的情況，如果有關(guān)人員 90% 多的點(diǎn)在控制限三分之一 的中間區(qū)域），應(yīng)調(diào)查下列情況之一或更多： 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)或重新計(jì)算錯(cuò) ；65SPC 過程或取樣方法分層；每個(gè)子組包含從兩個(gè)或多個(gè)具有不 同均值的過程流的測量值； 數(shù)據(jù)已被編輯： 如果大大少于 2/3的數(shù)據(jù)點(diǎn)落在過程平均值的附近（對 于 25個(gè)分組的情況，如果有 40% 或少于 40% 的數(shù)據(jù)落在三 分之一區(qū)域內(nèi)），則應(yīng)調(diào)查下列情況之一或兩者： 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)； 過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個(gè)或多個(gè)不同 過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進(jìn)行過度 控制造成的）。 如果存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分別識別和追蹤。 66SPC 識別和標(biāo)注特殊原因（均值圖）為了診斷并將不合格的輸出減到最小，及時(shí)分析是很 重要的，同樣要記住并不是所有特殊原因都是不利的。 重新計(jì)算控制限（均值圖）當(dāng)進(jìn)行首次過程研究或重新評定過程能力時(shí)，要排除 已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控的點(diǎn)，重新計(jì)算并 描畫過程均值和控制限，確保當(dāng)與新的控制限相比時(shí)，所 有的數(shù)據(jù)點(diǎn)看起來都處于受控狀態(tài)，如有必要，重復(fù)識別 / 糾正 /重新計(jì)算的程序。 如果沒有明顯的證據(jù)表明已發(fā)現(xiàn)過程的特殊原因，任 何 “糾正 ”措施將可能增加而不是減少過程輸出的總變異。 67SPC 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限當(dāng)首批（或以往的）數(shù)據(jù)都在試驗(yàn)控制限之內(nèi)，延長 控制限使之覆蓋將來的一段時(shí)期，如果過程中心偏離目標(biāo) 值，這時(shí)還希望調(diào)整過程使之對準(zhǔn)目標(biāo)值，這些控制限可 用來繼續(xù)對過程進(jìn)行監(jiān)視。 子組容量的變化將影響期望均值極差以及極差和均值 圖的控制限。這種情況可能會(huì)發(fā)生，例如：如果決定減少 樣本容量但增加抽樣頻率，這樣可以在不增加每天抽樣零 件總數(shù)據(jù)的情況下，更快地檢測到大的過程變化。 68SPC新 UCLR=D4新 UCL=新LCLR=D3新 LCL=新只要過程的均值和極差保持受控，可將控制限延長用于以后的時(shí)期。如果有證據(jù)表明過程的均值或極差已被改變（不論在哪個(gè)方向），應(yīng)查明原因；如果變化是可調(diào)整的，則應(yīng)根據(jù)當(dāng)前的性能重新計(jì)算控制限。 a. 估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 表示） 用現(xiàn)在的子組容量計(jì)算： /d2b. 按照新的子組容量查表得到系數(shù) D D D4和 A2， 計(jì)算 新的極差和控制限： 69SPC D 過程能力解釋 假設(shè)下的過程能力的解釋： 過程處于統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定狀態(tài)； 過程的各測量值服從正態(tài)分布； 工程及其它規(guī)范準(zhǔn)確地代表顧客的需求； 設(shè)計(jì)目標(biāo)值位于規(guī)范的中心。 一般情況下，將過程輸出的分布與工程規(guī)范相比，看是否 始終滿足這些規(guī)范。 如果不知道分布是否是正態(tài)分布，則應(yīng)進(jìn)行正態(tài)性檢驗(yàn)使 用諸如審查直方圖，在正態(tài)分布紙上描點(diǎn)。70SPC 計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差使用平均極差來估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差。 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10d2 只要過程的極差和均值兩者都處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，則可用估計(jì)的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差（ ）來評價(jià)過程的能力。 71SPC 計(jì)算過程能力對于單邊容差，計(jì)算： Z=或 Z=（ 選擇合適的一個(gè)）式中： SL=規(guī)范界限， =測量的過程均值， =估計(jì)的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差。 72SPC對于雙向容差，計(jì)算： ZUSL=ZLSL=Zmin=ZUSL或 ZLSL的最小值式中： USL， LSL=規(guī)范上限和下限； Z值為負(fù)值說明過程均值超過規(guī)范。 73SPC可使用 Z值和標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表來估計(jì)多少比例的輸出會(huì)超出規(guī)范值（是一個(gè)近似值，假設(shè)過程處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)并呈現(xiàn)正態(tài)分布）： 對于單邊容差，沿著的邊緣，找到 Z值。表的左邊為 Z的整數(shù)部分和