【文章內(nèi)容簡介】 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 281 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 732 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 723 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 744 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 7641Case study167。 請計算出上表的 XR控制圖的控制限？167。 請判定過程是否穩(wěn)定？167。 如果是不穩(wěn)定該如何處理？167。 如果過程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時，那么其新控制限為何？42Ｄ過程能力解釋D1計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計算過程能力D3評價過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖并分析建立建立 XbarR圖的步驟圖的步驟 D43%%%μ +1σ +2σ +3σ1σ2σ3σLSL USLM過程能力過程能力44過程能力指數(shù)過程能力指數(shù) Ca(準(zhǔn)確度準(zhǔn)確度 )45過程能力指數(shù)過程能力指數(shù) Cp46過程能力指數(shù)過程能力指數(shù) Cpk47過程性能指數(shù)過程性能指數(shù) Ppk48Case study167。 請依照上個 case study的數(shù)據(jù)，計算其下列的各項指標(biāo)結(jié)果，假設(shè)其規(guī)格為： 75177。5。167。 Ca167。 Cp167。 Cpk167。 Pp167。 Ppk49167。 A收集數(shù)據(jù)：在計算各個子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下：Xbars控制圖控制圖50167。 B計算控制限Xbars控制圖控制圖51167。 C過程控制解釋167。 (同 XbarR圖解釋 )Xbars控制圖控制圖167。 D過程能力解釋167。估計過程標(biāo)準(zhǔn)差52Case study1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 141 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 722 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 793 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 804 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 7815 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 281 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 732 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 723 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 744 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 7653Case study167。 請計算出上表的 Xs控制圖的控制限？167。 請判定過程是否穩(wěn)定？167。 如果是不穩(wěn)定該如何處理？167。 如果過程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自n=4調(diào)為 n=5時，那么其新控制限為何？54167。 A收集數(shù)據(jù)167。一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小于 10的情況，樣本容量為奇數(shù)時更為方便。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個數(shù)的均值。55167。 B計算控制限56167。 C過程控制解釋167。 (同 XR圖解釋 )167。 估計過程標(biāo)準(zhǔn)差57167。 單值控制在檢查過程變化時不如 XR圖敏感。167。 如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值控制圖時要非常小心。167。 單值控制圖 不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，最好能使用 XR。167。 由于每一子組僅有一個單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會有較大的變性，直到子組數(shù)達到 100個以上。58167。 A收集數(shù)據(jù)n 收集各組數(shù)據(jù)n 計算單值間的移動極差 。 通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個讀數(shù)點的差，第二和第三讀數(shù)間的差等 )。移動極差的個數(shù)會比單值讀數(shù)少一個 (25個讀值可得24個移動極差 )，在很少的情況下，可在較大的移動組 (例如 3或 4個 )或固定的子組 (例如所有的讀數(shù)均在一個班上讀取 )的基礎(chǔ)上計算極差。XMR控制圖控制圖59167。 B計算控制限XMR控制圖控制圖60167。 C過程控制解釋167。 審 查移動極差圖中超出控制限的點，這是存在特殊原因的信 號 。記住連續(xù)的移動極差間是有連系的，因為它們至少有一點是共同的。由于這個原因，在解釋趨勢時要特別注意。167。 可用單值圖分析超出控制限的點，在控制限內(nèi)點的分布，以趨勢或圖形。但是這需要注意，如果過程分布不是對稱，用前面所述的用于 X圖的規(guī)則來解釋時，可能會給出實際上不存在的特殊原因的信 號XMR控制圖控制圖61n 估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：n 式中， R為移動極差的均值， d2是用于對移動極差分組的隨樣本容量 n而變化的常數(shù)。XMR控制圖控制圖62Case study組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10數(shù)值 96 98 98 92 94 95 97 96 96 90組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20數(shù)值 92 90 88 89 94 99 92 94 97 97組 21 22 23 24 25 26數(shù)值 94 98 90 84 88 9663Case studyn 請計算出上表的 XMR控制圖的控制限？n 請判定過程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？64不 合格 和缺陷的說明結(jié)果 舉 例 控制圖車輛不泄漏／泄漏 不 各品率 p圖不合格品數(shù) np圖燈亮／不亮孔的直徑尺寸太小或太大給銷售商發(fā)的貨正確／不正確風(fēng)窗玻璃上的氣泡 不合格數(shù) c圖單位不合格數(shù) u圖門上油漆缺陷發(fā)票上的錯誤65p控制圖的制做流程A收集數(shù)據(jù)B計算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋66建立建立 p圖的步驟圖的步驟 AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A2計算每個子組內(nèi)的不合格品率A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度A4將不合格品率描繪在