【文章內容簡介】 所有的相關事件，如：刀具更新，新的材料批 次等，有利于下一步的過程分析。 均值和極差圖（ XR） 收集數據 以樣本容量恒定的子組形式報告，子組通常包括 25件連續(xù)的產品，并周性期的抽取子組。 注： 應制定一個收集數據的計劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據。 11 選擇子組大小，頻率和數據 111 子組大小 ：一般為 5件連續(xù)的產品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過程 流等。（ 注： 數據僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產出來的零件，即一個單一的生產流。） 112 子組頻率 ：在適當的時間內收集足夠的數據，這樣子組才能 反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人 員更換 /材料批次不同等原因引起。對正在生產的產 品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時一 次等。 接上頁 113 子組數： 子組越多，變差越有機會出現。一般為 25組，首次使 用管制圖選用 35 組數據，以便調整。 12 建立控制圖及記錄原始數據 （見下圖） 1計算每個子組的均值（ X）和極差 R 對每個子組計算： X=（ X1+X2+…+Xn ） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內的每個測量值。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個控制圖的縱坐標分別用于 X 和 R 的測量值。 42 刻度選擇 ： 接上頁 對于 X 圖，坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設置為 X 圖刻度值的 2倍。 （ 例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上 1個刻度代表 ） 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否 合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。 52 確保所畫的 X 和 R點在縱向是對應的。 注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 2 計算控制限 3 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 。 4 5 21 計算平均極差（ R）及過程均值（ X） 6 R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數量） 7 8 X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 9 22 計算控制限 10 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 11 值和極差的變化和范圍。控制限是由子組的樣本容量以及反 12 映在極差上的子組內的變差的量來決定的。 13 計算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 LCLx=X A2R LCLR=D3R 16 接上頁 注： 式中 A2,D3,D4為常系數，決定于子組樣本容量。其系數值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術上為一個負值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數為 6的子組， 6個“同樣的”測量結果是可能成立的。 23 在控制圖上作出均值和極差的控制限 ? 平均極差和過程均值畫成實線。 ? 各控制限畫成虛線。 ? 對各條線標上記號（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應注明試驗控制限。 3 過程控制分析 4 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據。 5 （即其中之一或兩者均不受控）進而采取適當的措施。 6 7 注 1： R 圖和 X 圖應分別分析，但可進行比較，了解影響過程 8 的特殊原因。 9 注 2： 因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 10 因此，首先應分析 R圖。 31 分析極差圖上的數據點 311 超出控制限的點 a 出現一個或多個點超出任何控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要 證據 ， 應分析 。 b 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ） 測量系統(tǒng)變化 （ 如：不同的檢驗員或量具 ） c 有一點位于控制限之下 ， 說明存在下列情況的一種或多種 控制限或描點時描錯 分布的寬度變小 （ 變好 ） 測量系統(tǒng)已改變（包括數據編輯或變換） 不受控制的過程的極差（有超過控制限的點） UCL LCL UCL LCL R R 受控制的過程的極差 312 鏈 有下列之現象表明過程已改變或出現某種趨勢： ? 連續(xù) 7點在平均值一側； ? 連續(xù) 7點連續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： a1 輸出值的分布寬度增加 ， 原因可能是無規(guī)律的 （ 例如：設備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜?） 或是由于過程中的某要素變化 （ 如使用新 的不一致的原材料 ） ， 這些問題都是常見的問題 ， 需要糾正 。 a2 測量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗人或新的量具 )。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 b2 測量系統(tǒng)的改好。 注 1： 當子組數（ n）變得更?。?5或更小）時，出現低于 R 的鏈的可能 性增加，則 8點或更多點組成的鏈才能表明過程變差減小。 注 2： 標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸 到鏈的開始點，分析時應考慮開始出現變化趨勢或變化的時間 。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈） 313 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數據點的分布在整個控制限內，或子組內數據間有規(guī)律的關系等。 b 一般情況，各點與 R 的距離：大約 2/3的描點應落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 C 如果顯著多余 2/3以上的描點落在離 R 很近之處（對于 25子組，如果超過 90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應對下列情況的一種或更多進行調查： c1 控制限計算錯或描點已描錯 。 c2 過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多 個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來測取數據）。 c3 數據已經過編輯（極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除）。 d 如果顯著少于 2/3以上的描點落在離 R很近之處 （對于 25子組，如果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應對下列情況的一種或更多進行調查： d1 控制限計算錯或描點或描錯。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混 淆）。 注： 如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。 32 識別并標注所有特殊原因（極差圖） a 對于極差數據內每一個特殊原因進行標注，作一個過程操作 分析，從而確定該原因并改進，防止再發(fā)生。 b 應及時分析問題，例如：出現一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。 33 重新計算控制限（極差圖） a 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，失控的原因已 被識別和消除或制度化，然后應重新計算控制限，以排除失控 時期的影響，排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計算新的平均極差 R和控制限，并畫下來， 使所有點均處于受控狀態(tài)。 b 由于出現特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應從 X圖中去掉。 修改后的 R 和 X 可用于重新計算均值的試驗控制限， X 177。 A2R 。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數據”。而是排除受已知的特殊原因影響的點。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現。 34 分析均值圖上的數據點 341 超出控制限的點： a 一點超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a1 控制限計算錯或描點時描錯 a2 過程已更改，或是在當時的那一點（可能是一件獨立的 事件）或是一種趨勢的一部分。 a3 測量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或 QC） 不受控制的過程的均值（有一點超過控制限） 受控制的過程的均值 UCL LCL X LCL UCL X 342 鏈 有下列現象之表明過程已改變或出現某種趨勢： 連續(xù) 7點在平均值一側或 7點連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關的鏈通常表明出現下列情況之一或兩者 。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸到 鏈的開始點，分析時應考慮開始出現變化趨勢或變化的時間。 不受控制的過程的均值（長的上升鏈） 不受控制的過程的均值（出現兩條高于和低于均值的長鏈） UCL X LCL UCL X LCL 343 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數據點的分布在整個 控制限內 ， 或子組內數據間有規(guī)律的關系等 。 b 一般情況 ， 各點與 X的距離：大約 2/3的描點應落在控制限的 中間 1/3的區(qū)域內 ， 大約 1/