【正文】 算控制界限比較規(guī)格符合規(guī)格延長控制界限柏拉圖分析計(jì)量值控制圖計(jì)數(shù)值控制圖直方圖分析過程能力分析常態(tài)機(jī)率紙計(jì)量值控制圖計(jì)數(shù)值控制圖過程改善yesyesyesyesnononono71七 .控制圖 過程控制工具控制圖 :是 1924年由美國人 休哈特博士在貝爾實(shí)驗(yàn)室發(fā)明的 ,用于區(qū)分可控制的不可控制的變差 ,也就是我們所說的普通原因和特殊原因 .控制圖最主要之用途為查覺有無產(chǎn)生變異之 特殊原因 (非機(jī)遇原因 )存在 .收集數(shù)據(jù)并畫在圖上2．控制?么 .乎取措施后 ,重收集數(shù)據(jù) ,重新計(jì)算控制限 . :當(dāng)特殊原因消除后 ,過程在統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)下運(yùn)行 ,可繼續(xù)使用控制圖作為監(jiān)控工具 ,如果是普通原因造成變差太大,從管理改善 .76合理使用控制圖能 :◆ 供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用對過程進(jìn)行持續(xù)監(jiān)控 。更高的品質(zhì)◆ 確定待管理的特性 。◆ 使不必要的變差最小 .78◆ 依 數(shù)據(jù)之性質(zhì) 來分類◆ 計(jì)量值 控制圖 :系控制圖所以依據(jù)的數(shù)據(jù) ,均屬于量具實(shí)際量測而得 (如長度、重量、成份、電壓、電流等特性 )且均為連續(xù)性者 .◆ 計(jì)數(shù)值 控制圖 :系控制圖所以依據(jù)的數(shù)據(jù)均屬于以計(jì)數(shù)者 (如外觀不良數(shù)、缺點(diǎn)數(shù)等 ) 且均為間斷數(shù)據(jù) .◆ 依控制圖之 用途 來分類◆ 控制用 控制圖 :此種控制圖用作控制過程之品質(zhì) ,具有其積極性之意義 .如有點(diǎn)子跑出 ,立即釆取措施 .◆ 解析用 控制圖 :此種控制圖用作決定方針用 ,過程解析研究用 .79分析過程 控制圖 計(jì)量型控制圖人員 設(shè)備 環(huán)境材料 方法 測量過程1 2 3 4 5 6 7 8 9過程評價(jià)需要測量結(jié)果是基于測量的判定結(jié)果舉例 控制圖舉例?軌道車通過時(shí)間（ h）?制 燈不亮 孔徑太小或太大（通過 /不通過量規(guī)）?np圖用于監(jiān)控不合格品數(shù)??門上油漆缺陷圖用于監(jiān)控每個(gè)單位不合格數(shù)82將過程分類的 控制圖 計(jì)數(shù)型控制圖必須明確規(guī)定合格的準(zhǔn)則，并且用于確定這些準(zhǔn)則是否滿足的程序應(yīng)隨時(shí)間產(chǎn)生一致的結(jié)果 是什么斑點(diǎn)？?檢驗(yàn)員是否同意?? 計(jì)數(shù)型 ：通常是指不用儀器即可測出的數(shù)據(jù)。ofDataLimit2.Lower橫坐標(biāo)：按時(shí)間順序抽樣的樣本編號216。3σ86(4).控制圖原理1.若變量 X服從正態(tài)分布 ,那么 ,在 的數(shù)值。90從分析階段轉(zhuǎn)入控制階段? 在什么條件下分析階段確定的控制限可以轉(zhuǎn)入控制階段使用：– 控制圖是受控的– 過程能力能夠滿足生產(chǎn)要求91控制階段? 控制圖的控制界限由分析階段確定 。如果上述條件變化，則必須重新制定控制圖 .2. 一定時(shí)間后檢驗(yàn)控制圖還是否適用；3. 過程能力值有大的變化時(shí)。.(三 ).計(jì)算控制界限(四 ).繪制控制界限及描點(diǎn)(五 ).解析過程(六 ).過程能力研究(七 ).延長控制界限開始控制96(一 ).收集數(shù)據(jù)選擇控制特性 X,決定樣本大小 n及抽樣間隔 ,樣本組數(shù) k.?經(jīng)常出問題的特性 。決定樣本大小 n及抽樣間隔?同一組之?dāng)?shù)據(jù)最好在同一生產(chǎn)條件及同一短時(shí)間內(nèi)?不影響生產(chǎn)及可接受之成本下 . k定及估計(jì)過程特性的平均數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)差 .98?將數(shù)據(jù)記錄于空白的計(jì)量值控制圖上 .?計(jì)算各組平均 =max﹝ =?A2==LCLX=?兩控制圖之坐標(biāo)尺寸分開制訂 。 ?將各點(diǎn)以實(shí)線連接 .101(五 ).解析過程控制圖之判讀法 (正常點(diǎn)子 )點(diǎn)子之分布成隨機(jī)狀態(tài) ,無任何規(guī)則可循 .沒有點(diǎn)子超出控制界限之外 (就是有也很少 ). 。?有點(diǎn)低于控制下限 ??量測系統(tǒng)曾經(jīng)改變?不規(guī)則的原因造成較大的數(shù)據(jù) 變異 。如一新的或不均勻的 原材料批 ,這些問題必須實(shí)時(shí)矯正 員或量測設(shè)備?當(dāng)樣本大小 n?5點(diǎn)出現(xiàn)在 R以下的可能增加 ,因此連串的點(diǎn)必須以 8點(diǎn)以上來代表過程變異的變小 .105UCLLCLRUCLLCLR(五 ).解析過程 。1/3區(qū)域中?計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤 含不同變異來源的數(shù)據(jù) ,如進(jìn)料混?當(dāng)進(jìn)行初期過程解析或重點(diǎn)過程能力時(shí) ,控制界限應(yīng)該重新計(jì)算 ,以除去過程在不穩(wěn)定期間已經(jīng)發(fā)掘及矯正的特殊原因 ,對控制界限估算的影響 .再確認(rèn) R控制圖的點(diǎn)是否在控制狀態(tài)下 ,重復(fù)確認(rèn)矯正及再計(jì)算 .?因特殊原因而除去的點(diǎn) ,同時(shí)也在 2如下圖連續(xù) 7點(diǎn)出現(xiàn)在中心線的一側(cè) 111UCLLCLXUCLLCLX(五 ).解析過程 。1/3區(qū)域中?計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤 含不同變異來源的數(shù)據(jù) ,過程的變?數(shù)據(jù)曾經(jīng)修改112典型特殊原因（不穩(wěn)定型態(tài)）識別準(zhǔn)則匯總 :有 1點(diǎn)子 ,遠(yuǎn)離 3?（任一側(cè)） .113(五 ).解析過程連續(xù) 7點(diǎn)繼續(xù)上升 (或下降 )必有原因 ,應(yīng)立即采取措施 . :a.117 補(bǔ)充b.點(diǎn)出現(xiàn)在控制限之近側(cè)時(shí) ,一般是以超出 B區(qū)的點(diǎn)為調(diào)查基準(zhǔn) ,如 :a.連續(xù) 7點(diǎn)之中有 3點(diǎn)以上c.118UCLLCL CLUCLLCL 補(bǔ)充點(diǎn)的振幅 周期性變大變小點(diǎn)的 周期性變化119(六 ).過程能力的研究 。Cp=???CPU=(USLX)/3CPL=(XLSL)/3(XLSL)/???Cpk=CPUCp=(USLLSL)/ZUSL=│?單邊上限規(guī)格USL=?單邊下限規(guī)格LSL=?雙邊規(guī)格USL=p【 Z?USL+?以全檢挑選不良品+==CLX====?=–8+3+??????+7+525?======127XUCLX545352515049484746451086420LCLXCLR連續(xù)七點(diǎn)在中心上側(cè)為異常128平均值與全距控制圖建立步驟 例 .平均數(shù) 標(biāo)準(zhǔn)差控制圖與平均數(shù) 全距控制圖制作與解析幾乎相同 ,惟使用公式不同 .130(個(gè)別值 移動全距控制圖 )的制作與解析 ,如復(fù)雜的化學(xué)分析和破壞性試驗(yàn) .R(中位數(shù) 全距控制圖 )的制作與解析中位數(shù) 全距控制圖 ,組的平均以中位數(shù)估計(jì)代替的方式點(diǎn)繪控制圖 .在下列情況可使用 : 。現(xiàn)有計(jì)算器和電腦及軟件出現(xiàn)已經(jīng)很少使用 .中位數(shù) 全距控制圖的制作與解析同樣類似其它計(jì)量控制圖 .132九 .計(jì)數(shù)型控制圖導(dǎo)入前的準(zhǔn)備事項(xiàng)? 部門別的不良率的定義 ,如日期別、過程別、產(chǎn)品別、批別及客戶別 .? n約在 50200個(gè)之間 ,不宜太小 (np5)? 每組樣本可識別日期、時(shí)間、作業(yè)員、機(jī)臺、原材料或零件批.?樣本組數(shù) k.?兩控制圖之坐標(biāo)尺寸分開制訂?中心線置于縱坐標(biāo)之中心位置上?控制上下界限約置于縱坐標(biāo)之 2/3─3/4位置上?決定一格的大小及縱坐標(biāo)之尺寸?過程不良已經(jīng)變大 ,在某時(shí)變 有連串的點(diǎn)出現(xiàn) 。?過程不良持續(xù)變大 ,應(yīng)該調(diào)查而推廣如下圖?過程或抽樣方法有分層 。,如多線或多機(jī)生產(chǎn)各取一個(gè)為一 ?當(dāng) P控制圖顯示過程在控制狀態(tài)下 ,產(chǎn)品或過程品質(zhì)是否符合客戶的需求 ,以過程平均不良率 P來代表過程 .144若過程在控制狀態(tài)下且過程能力足夠 ,則延長控制界限開始控制 .其控制界限以過去解析的數(shù)據(jù)來估計(jì) ,估計(jì)方法如下 : PUCLp=p(1p)/niPUCLp=p(1p)/ni。?數(shù)據(jù)曾經(jīng)修改141(五 ).解析過程含不同變異來源的數(shù)據(jù) ,如進(jìn)料混少于 2/3的點(diǎn)集中在中間的 1/3區(qū)域中?計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤 超過 2/3的點(diǎn)集中在中間的 1/3區(qū)域中 ??連串出現(xiàn)在下側(cè)或下降 ?量測系統(tǒng)曾經(jīng)改變?如下圖?有點(diǎn)超過控制上限 ?Pi=di/ni? 不同組的樣本大小不一定相同 .?降低不必要的變異133(不良率 )控制圖制作與解析(一 ).收集數(shù)據(jù) :決定樣本大小 n及抽樣間隔 ,樣本組數(shù) k.(二 ).記錄數(shù)據(jù)及計(jì)算各組不良率 pi和總不良率(三 ).計(jì)算控制界限(四 ).繪制控制界限及描點(diǎn)(五 ).解析過程(六 ).過程能力研究(七 ).延長控制界限開始控制134(一 ).收集數(shù)據(jù)?決定樣本大小 n及抽樣間隔?定義測量系統(tǒng)?決定管理的特性?定義過程 ,以確定影響過程的因素 ,如 4M1E.? 不良率大小的標(biāo)準(zhǔn) ,如 AQL%個(gè)別值 移動全距控制圖 ,不以組的方式點(diǎn)繪控制圖 .在下列情況可使用 : ,如生產(chǎn)效率及損耗率 。建議使用平均數(shù) 標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 . 。?用線標(biāo)出 ,并作原因調(diào)查分析 .?平均值 (X)圖 17組連續(xù)偏上限 。?極差 (R)圖正常 。?先看極差 (R)圖 ,后看平均值 (X)圖 。?判定規(guī)則適用平均值 (X)圖和極差 (R)圖 。:CLXUCLR===R控制圖 :A2RLCL=A2RUCL===++???++125【解】 例 3d2?CLRd3?UCLR+3及標(biāo)準(zhǔn)差 ?取得客戶的同意修改規(guī)格123若過程在控制狀態(tài)下且過程能力足夠 ,則延長控制界限開始控制 .其控制界限以過去解析的數(shù)據(jù)來估計(jì) ,估計(jì)方法如下 :LSL ,顯示過程能力不足 ,則進(jìn)行改善活動計(jì)劃 ,短期內(nèi)可用下列方式進(jìn)行=】pZUSLZLSLZUSL│k=Ca=│X(USL+LSL)/2│/(XLSL)/?CPL=(XLSL)/3?k=Ca=??????(USLX)/??單邊上限 USL?=R/d2 .120 。b.連續(xù) 3點(diǎn)之中有 2點(diǎn)以上點(diǎn)在中心線之單側(cè)出現(xiàn)較多時(shí) .b.連續(xù) 5點(diǎn)繼續(xù)上升 (或下降 )注意以后動態(tài) .?當(dāng)進(jìn)行初期過程解析或重點(diǎn)過程能力時(shí) ,控制界限應(yīng)該重新計(jì)算 ,以除去過程在不穩(wěn)定期間已經(jīng)發(fā)掘及矯正的特殊原因 ,對控制界限估算的影響 .再確認(rèn)控制圖的點(diǎn)是否在控制狀態(tài)下 ,重復(fù)確認(rèn)矯正及再計(jì)算 .115 補(bǔ)充A區(qū)B區(qū)C區(qū)C區(qū)B區(qū)A區(qū)首先把控制圖等分為三個(gè)區(qū) ?（同一側(cè)） . :連續(xù) 15點(diǎn)出現(xiàn)在中心線 1異是因過程數(shù)據(jù)分組造成的 .,如多線或多機(jī)生產(chǎn)各取一個(gè)為一 ?過程或抽樣方法有分層 。連續(xù) 7點(diǎn)出現(xiàn)持續(xù)上升或下降?一般連串出現(xiàn)對過程平均顯示?過程中心已經(jīng)改 如下圖?計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤 ?數(shù)據(jù)曾經(jīng)修改106(五 ).解析過程,如多線或多機(jī)生產(chǎn)各取一個(gè)為一 ?過程或抽樣方法有分層 。?量測系統(tǒng)的改變 :如新的檢驗(yàn)人,應(yīng)該調(diào)查而推廣??連串出現(xiàn)在下側(cè)或下降 連續(xù) 7點(diǎn)出現(xiàn)在全距平均數(shù) R的一側(cè) 如下圖?組內(nèi)變異或?qū)嶋H過程變異 ,?計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤 ?在中心線附近無點(diǎn)子 (混合型 )樣本中可能包括兩種群體 ,一種偏大 ,別一種偏小 .?在控制界限附近無點(diǎn)子 (層別型 )原群體可能巳經(jīng)加以檢剔過 ,不適合者巳被剔除 .?有點(diǎn)逸出控制界限之現(xiàn)象 (不穩(wěn)定型 )103UCLLCLR(五 ).解析過程?多數(shù)之點(diǎn)子集中在中心線附近 .?中心線以實(shí)線描繪 ,控制界限以紅色虛線描繪 。及 Ri之大小描繪于控制圖上?控制上下界限約置于縱坐標(biāo)之 2/