【正文】 在中文關(guān)鍵詞的下行，按中國圖書館分類法（第四版，1999年3月版）給出本設(shè)計總結(jié)報告的“中圖分類號：”。關(guān)鍵詞按 GB/T 3860的原則和方法選取。摘要的內(nèi)容應(yīng)包括目的、方法、結(jié)果和結(jié)論，即應(yīng)包含設(shè)計的主要內(nèi)容、設(shè)計的主要方法和設(shè)計的主要創(chuàng)新點。一般物理量符號用斜體（如：f(x)、a、b等）；矢量、張量、矩陣符號一律用黑斜體；計量單位符號、三角函數(shù)、公式中的縮寫字符、溫標(biāo)符號、數(shù)值等一律用正體；下角標(biāo)若為物理量一律用斜體，若是拉丁、希臘文或人名縮寫用正體。圖要清晰、并與文中的敘述要一致，對圖中內(nèi)容的說明盡量放在文中。標(biāo)題中的英文字體均采用Times New Roman體，字號同標(biāo)題字號。三級標(biāo)題：四號黑體，頂格占二行。電路圖圖紙要注意選擇合適的圖幅大小、標(biāo)注欄。附錄包括元器件明細表、儀器設(shè)備清單、電路圖圖紙、設(shè)計的程序清單、電路使用說明等。（4）結(jié)論對作品的測試的結(jié)果和數(shù)據(jù)進行分析和計算，也可以利用MATLAB等軟件工具制作一些圖表，必須對整個作品作一個完整的、結(jié)論性評價，也就是說要有一個結(jié)論性的意見最后需要寫自己的收獲和體會。（3）系統(tǒng)測試詳細介紹系統(tǒng)的性能指標(biāo)或功能的測試方法、步驟，所用儀器設(shè)備名稱、型號，測試記錄的數(shù)據(jù)和繪制圖表、曲線。應(yīng)注意的是：理論的分析計算是必不可少的。對上述方案應(yīng)仔細介紹系統(tǒng)設(shè)計思路和系統(tǒng)的工作原理，對各方案進行分析比較。此電路方案能實現(xiàn)基本要求和擴展部分的功能，電路較簡單，調(diào)試方便，是一個優(yōu)秀的可實現(xiàn)的方案。方案2：采用單片機控制合成各種波形波形的選擇、生成及頻率控制均由單片機編程實現(xiàn)。（1）系統(tǒng)方案設(shè)計在系統(tǒng)方案設(shè)計這一章節(jié)中，主要介紹系統(tǒng)設(shè)計思路與總體方案的可行性論證，各功能塊的劃分與組成，介紹系統(tǒng)的工作原理或工作過程。應(yīng)注意的是：雖然目錄是放在設(shè)計總結(jié)報告的前面，但它的成型和整理確是在設(shè)計總結(jié)報告完成之后進行。中、英文關(guān)鍵詞應(yīng)—一對應(yīng)。英文摘要內(nèi)容應(yīng)與中文相對應(yīng)；一般用第三人稱和被動式。題目名稱下面提供參加設(shè)計者的專業(yè)、班級、姓名、學(xué)號和指導(dǎo)教師（黃智偉，肖化武）的姓名。摘要是對課程設(shè)計總結(jié)報告的總結(jié)，摘要一般在300字左右。中文摘要前加“摘要：”；英文摘要前加“Abstract：”。中文前冠以“關(guān)鍵詞：”，英文前冠以“key words：”。章節(jié)標(biāo)題的排列建議按如下格式進行：......…...（第1級）（字體：小二號黑體）.........（第2級）（字體：三號標(biāo)宋）.........（第3級）（字體：四號黑體）（1）………（第4級）（字體：小四號粗楷體）①............（第5級）（字體：五號宋體）a.......………（第6級）（字體：五號宋體）………............。應(yīng)注意的是：在總體方案的可行性論證中，應(yīng)提出幾種（2～3種）總體設(shè)計方案進行分析與比較，總體設(shè)計方案的選擇既要考慮它的先進性，又要考慮它的實現(xiàn)的可能性。此方法產(chǎn)生的波形的頻率范圍、步進值取決于所采用的每個周期的輸出點數(shù)及單片機執(zhí)行指令的時間。方案4：采用DDS技術(shù)直接合成采用DDS技術(shù)，將所需生成的波形寫入RAM中，按照相位累加原理合成任意波形。對選定的方案中的各功能塊的工作原理也應(yīng)介紹。在理論計算時，要注意公式的完整性，參數(shù)和單位的匹配，計算的正確性；注意計算值與實際選擇的元器件參數(shù)值的差別。應(yīng)注意的是：要根據(jù)設(shè)計題目的技術(shù)要求和所制作的作品，正確的選擇測試儀器儀表和測試方法。參考文獻部分應(yīng)列出在設(shè)計過程中參考的主要書籍、刊物、雜志等。應(yīng)注意的是：元器件明細表的欄目應(yīng)包含有：①序號、②名稱、型號及規(guī)格（例如：177。程序清單要有注釋，總的和分段的功能說明等。標(biāo)題與題目之間空一個漢字的空。四級標(biāo)題下的分級標(biāo)題的標(biāo)題字號為五宋。圖序、圖題（必須有）為小五號宋體，居中排于圖的正下方；表序、表題為小五號黑體，居中排于表的正上方；圖和表中的文字為六號宋體；表格四周封閉，表跨頁時另起表頭。物理量及技術(shù)術(shù)語全文統(tǒng)一，要采用國際標(biāo)準(zhǔn)；第二篇：電子技術(shù)課程設(shè)計 設(shè)計與總結(jié)報告寫作基本要求課程設(shè)計報告寫作的內(nèi)容、要求與應(yīng)注意的一些問題課程設(shè)計報告是每個設(shè)計小組和個人都必須提供的文件，課程設(shè)計報告中應(yīng)包含以下內(nèi)容：題目名稱是選擇的課程設(shè)計作品的名稱，如“基于XE1203A 433 MHz / 868 MHz / 915 MHz收發(fā)器電路設(shè)計”。摘要中不應(yīng)出現(xiàn)“本文、我們、作者”之類的詞語。一般選 3～8個關(guān)鍵詞。目錄包括課程設(shè)計總結(jié)報告的章節(jié)標(biāo)題、附錄的內(nèi)容，以及章節(jié)標(biāo)題、附錄的內(nèi)容所對應(yīng)的頁碼。課程設(shè)計報告正文的主要內(nèi)容包含有：系統(tǒng)方案設(shè)計、集成電路、元器件選擇和電路設(shè)計、計算機仿真、系統(tǒng)測試、結(jié)論、附錄。此方案實現(xiàn)電路復(fù)雜，難于調(diào)試，實現(xiàn)合成波形難度大，且要保證技術(shù)要求的指標(biāo)困難，故采用此方案不理想。方案3：采用帶存儲電路的單片機控制方案采用帶存儲電路的單片機控制方案將波形和頻率數(shù)據(jù)存儲在存儲器中，按要求將存儲器中的數(shù)據(jù)讀至DAC，實現(xiàn)任意波形的合成，也可以得到較高的頻率分辨率。但實際中合成的波形與理論有差距。所選擇的集成電路芯片需要寫出內(nèi)部結(jié)構(gòu)、工作原理、引腳端功能、主要技術(shù)指標(biāo)、外部元器件選擇、應(yīng)用電路。如果采用仿真工具進行分析，可以將仿真分析結(jié)果表示出來。測試的數(shù)據(jù)要以表、圖或者曲線的形式表現(xiàn)出來。參考文獻在正文中應(yīng)標(biāo)注相應(yīng)的引用位置，在引文后的右上角用方括號標(biāo)出。儀器設(shè)備清單的欄目應(yīng)包含有：①序號、②名稱、型號及規(guī)格、③主要技術(shù)指標(biāo)、④數(shù)量、⑤備注（儀器儀表生產(chǎn)廠家）。二級標(biāo)題：三號標(biāo)宋，居中占三行，標(biāo)題與題目之間空一個漢字的空。標(biāo)題與題目之間空一個漢字的空。所有文中圖和表要先有說明再有圖表。公式另行居中，公式末不加標(biāo)點，有編號時可靠右側(cè)頂邊線；若公式前有文字，如例、解等，文字頂格寫，公式仍居中；公式中的外文字母之間、運算符號與各量符號之間應(yīng)空半個數(shù)字的間距；若對公式有說明，可接排，如：式中，Ａ－ＸＸ（雙字線）；Ｂ－ＸＸ，當(dāng)說明較多時則另起行頂格寫“式中 Ａ－ＸＸ ”；回行與Ａ對齊寫“Ｂ－ＸＸ ”；公式中矩陣要居中且行列上下左右對齊。摘要是對課程設(shè)計總結(jié)報告的總結(jié)，摘要一般在300字左右。中文摘要前加“摘要：”；英文