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2023-03-09 14:16:16 本頁(yè)面
【正文】 差的普通原因存在且不改變時(shí)，過(guò)程的輸出才可以預(yù)測(cè) 。在生產(chǎn)正常的情況下 ,純粹出于偶然而點(diǎn)子出界的概率雖然很小 ,但不是絕對(duì)不可能發(fā)生?？刂茍D的組成UCL(Upper Control Limit) 上控制限LCL(Lower Control Limit) 下控制限CL (Central Line)中心線按時(shí)間順序抽取的樣品統(tǒng)計(jì)量數(shù)值的描點(diǎn)序列 The specification limit and control spec注意 :管制界限和規(guī)格界限216。 落在 [181。The application at quality controlExample:數(shù)據(jù)離散程度? 由簡(jiǎn)到繁：極差，偏差和，偏差平方和，方差和標(biāo)準(zhǔn)偏差（ 1， 3， 5， 7， 9）和（ 1， 1， 8， 9， 9）極差 ：一組數(shù)據(jù)最大值和最小值之差極差 R1=91=8， R2=91=8 偏差 ：測(cè)定值和平均值之間的差異質(zhì)量管理中的應(yīng)用? 不論 181。 Two parameters基礎(chǔ)知識(shí)? 兩個(gè)重要的參數(shù)：– 181?？茖W(xué)的要求 ： 要保證產(chǎn)品質(zhì)量、要滿足 21世紀(jì)超嚴(yán)質(zhì)量要求就必須應(yīng)用質(zhì)量科學(xué)。更低的單件成本216。216。統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制Statistical Process ControlQE 楊安臣 2023728幾個(gè)觀念問(wèn)題?不可能出問(wèn)題的地方，也可能出問(wèn)題?能做出符合規(guī)格的產(chǎn)品不一定品質(zhì)就好?好的品質(zhì)是 “習(xí)慣 ”出來(lái)的?成本觀念（ Prevention, Appraisal, Failure)?PDCAS觀念（ Plan, Do, Check, Action, Standard)?系統(tǒng)觀念 (work out)?SPC可以用在任何產(chǎn)生數(shù)據(jù)的地方什么是什么是 SPCSPC Statistical Process Control (統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制）含義 利用 統(tǒng)計(jì)技術(shù) 對(duì)過(guò)程中的各個(gè)階段進(jìn)行 監(jiān)控監(jiān)控 ，從而達(dá)到保證產(chǎn)品質(zhì)量的目的。有利于過(guò)程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地，可預(yù)測(cè)地保持下去；216。更高的 效率216。生產(chǎn)控制方式由過(guò)去的 3?控制方式改為 6?控制方式。 (mu) 位置參數(shù)和 平均值（ mean value) ，表示 分布的中心位置和期望值– ? (sigma) 尺度參數(shù)， 表示 分布的分散程度和標(biāo)準(zhǔn)偏差 ,根方差 （standard deviation),? 兩個(gè)參數(shù)的意義– 181。 與 ?取值如何 ,產(chǎn)品質(zhì)量特性落在 [181。 ? 3?， 181。規(guī)格界限：是用以說(shuō)明品質(zhì)特性之最大許可值，來(lái)保證各個(gè)單位產(chǎn)品之合格性能216。故當(dāng)生產(chǎn)正常而根據(jù)點(diǎn)子出界判斷生產(chǎn)異常就犯了虛發(fā)警報(bào)錯(cuò)誤 ,發(fā)生這種錯(cuò)誤的概率通常記以 α.? 漏發(fā)警報(bào)錯(cuò)誤 ,也稱第 Ⅱ 類(lèi)錯(cuò)誤 。特殊原因 ： 指的是造成 不是始終作用于過(guò)程變差的原因 ，即當(dāng)它們出現(xiàn)時(shí)將造成過(guò)程的分布改變。合格原料的微小變化216。氣候、環(huán)境的微小變化等216。刀具過(guò)量磨損216。通常由與過(guò)程直接相關(guān)的人員實(shí)施216。大約可糾正 85%的過(guò)程問(wèn)題局部措施、系統(tǒng)措施示意圖解決普通原因的系統(tǒng)措施解決異常原因的局部措施解決異常原因的局部措施UCLLCL計(jì)量型與計(jì)數(shù)型控制圖比較p計(jì)量型216。樣本量較多216。平均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 Xs216。不良數(shù)控制圖 n216。對(duì)于計(jì)量型數(shù)據(jù)而言 ,這是最常用最基本的控制圖。用于控制對(duì)象為 不合格品率 或合格品率等計(jì)數(shù)值質(zhì)量指標(biāo)的場(chǎng)合。用于控制對(duì)象為不合格品數(shù)的場(chǎng)合。 C圖用于樣本大小相等的場(chǎng)合?！皀”=10~25控制圖的選定資料性質(zhì)不良數(shù)或缺陷數(shù)單位大小是否一定“n”是否一定樣本大小n≧ 2Cl的性質(zhì)“n”是否較大“u”圖“c”圖“np”圖“p”圖XRm圖XR圖XR圖Xs圖計(jì)數(shù)值計(jì)量值“n”=1n≧ 1中位數(shù)平均值“n”=2~5缺陷數(shù)不良數(shù)不一定 一定一定不一定控制圖的選擇What is the next to?SolarisOracle HPUXOracle 8iTRU64Oracle 9i開(kāi)始具體制作控制圖繪制流程搜集數(shù)據(jù)繪 分析 用控制圖是否穩(wěn)定繪直方圖是否滿足規(guī)格控制用控制圖尋找異常原因檢討機(jī)械、設(shè)備提升制程能力NYYN分 析用控制圖216。追查不正常原因迅速消除此項(xiàng)原因216。組間變異大的解決方法?此時(shí)的異常將在 Xbar圖中顯示出來(lái)，此時(shí)一般的責(zé)任是在現(xiàn)場(chǎng)人員，可能是用錯(cuò)材料，沒(méi)有依照標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)方法等。?R圖 ，刻度值應(yīng)從最低值為 0開(kāi)始到最大值之間為初始階段所遇到的最大極差的 2倍 。點(diǎn)出現(xiàn)在 3標(biāo)準(zhǔn)差以外（管制界限）的幾率 216。UCLCLLCL控制圖的判讀n 明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分布來(lái)判定圖形，正常應(yīng)是有 2/3的點(diǎn)落于中間 1/3的區(qū)域。制程 性能指標(biāo)? 制程 性能指標(biāo) 的計(jì)算，其估計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)差為總的標(biāo)準(zhǔn)差，包含了 組內(nèi)變異以及組間變異。時(shí)間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾? 子組數(shù)量：要大于等于 25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。? 當(dāng)點(diǎn)描完后，粗覽一遍看看它們是否合理， 如果任意一點(diǎn)比別的高出或低出許多，檢
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