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【正文】 103, 6?控制方式下的穩(wěn)態(tài)不合格品率為 X 109后者比前者降低了： X 103 / X 109= X106 即一百三十五萬倍 !The contrast of two diagrams3?控制方式與 6?控制方式的比較：Base knowledge基礎(chǔ)知識正態(tài)分布 (Normal Distribution) 當(dāng)抽取的數(shù)據(jù)個數(shù)趨于無窮大而區(qū)間寬度趨向于 0時，外形輪廓的折線就趨向于光滑的曲線，即：概率密度曲線 。 (mu)反映整體的綜合能力– ? (sigma) 反映實際值偏離期望值的程度，其值越大，表示數(shù)據(jù)越分散 。 ? 3?， 181。 +3?]范圍外的概率為 1 ? %=%， 落在大于 181。管制界限：應(yīng)用于一群單位產(chǎn)品量度，這種量度是從一群中各個單位產(chǎn)品所得之觀測值所計算出來的。在生產(chǎn)異常的情況下 ,產(chǎn)品質(zhì)量的分布偏離了典型分布 ,但總有一部分產(chǎn)品的質(zhì)量特性值在上下控制界之內(nèi)。除非所有的特殊原因都被查找出來并且采取了措施，否則它們將繼續(xù)用不可預(yù)測的方式來影響過程的輸出。機械的微小震動216。使用不合格原料216。加工方法的改變局部措施和對系統(tǒng)采取措施40%以上說明不是管理體系出問題，就是未做 FMEA， 60%以下說明企業(yè)管理體系出了嚴重問題，或者制程已經(jīng)達到非常好了。大約可糾正 15%的過程問題n對系統(tǒng)采取措施對系統(tǒng)采取措施216。能及時并正確地找出不良原因；216。只靠這種控制圖，有時無法尋求不良的真正原因，而不能及時采取措施，延誤時機。中位值與全距控制圖 XR216。缺點數(shù)控制圖 c216。它用于控制對象為長度、重量、強度、純度、時間和生產(chǎn)量等計量值的場合。注意：在根據(jù)多種檢查項目總合起來確定不合格品率的情況,當(dāng)控制圖顯示異常后難以找出異常的原因。設(shè) n為樣本大小， P為不合格品率 ,則 pn為不合格品個數(shù) ,取 Pn為不合格品數(shù)控制圖的簡記記號。 ? U控制圖 。制程解析用216。并且研究采取防止此項原因重復(fù)發(fā)生之措施。?此種問題比較容易解決， 85%應(yīng)由現(xiàn)場人員就可以處理。Ｂ計算控制限 B1計算平均極差及過程平均值B2計算控制限B3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線建立 XR圖的步驟 BＣ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點C2識別並標(biāo)注特殊原因 (極差圖 )C3重新計算控制界限 (極差圖 )C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形C5識別並標(biāo)注特殊原因 (均值圖 )C6重新計算控制界限 (均值圖 )C7為了繼續(xù)進行控制延長控制限建立 XR圖的步驟 C控制圖的點子全部在控制界限內(nèi) 由于在穩(wěn)定狀態(tài)下，控制圖也會發(fā)生誤發(fā)信號的錯誤 (第一類錯誤 )，因此規(guī)定在下述情況下 ，判定第一個條件，即點子全部在控制界限內(nèi)是滿足的。(%)216。UCLCLLCLＤ過程能力解釋D1計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計算過程能力D3評價過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖並分析建立 XR圖的步驟 D制程 準(zhǔn)確度反映制程中心與規(guī)格中心偏離的狀況。? 總變異 =組內(nèi)變異 +組間變異。A2計算每個子組內(nèi)的不合格品率? 記錄每個子組內(nèi)的下列值– 被檢的數(shù)量 ─ n– 發(fā)現(xiàn)的不合格的數(shù)量 ─ np– 通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率A3選擇控制圖的 坐標(biāo)刻度? 描繪數(shù)據(jù)點用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識別作為橫坐標(biāo)。? 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在控制圖的 “ 備注 ” 部份。然糾正該原因并盡可能防止其再發(fā)生。ABC?出現(xiàn)特殊原因，跑出上限，線上立即解決；跑出下限，以后也向下偏，找出原因做標(biāo)準(zhǔn)化。 3倍標(biāo)準(zhǔn)差外?剛剛采取過措施；制程中某個參數(shù)突變；發(fā)生特殊問題而未采取措施；混料。過程能力解釋偶因和異因並存 找出異因只剩偶因運用控制圖過程穩(wěn)定(連 25點不超限 )計算過程能力計算過程能力?對于 p圖，過程能是通過過程平均不合率來表示，當(dāng)所有點都受控后才計算該值。這些連續(xù)的受控的時期子組的 p值是該過程當(dāng)前的最好的估計值。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因。– 各階段子組的樣本容量相同 。?記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格品數(shù) (np)。除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與 c圖相似的。B計算控制限AQ補 充補 充additional何時應(yīng)用 Cmk指數(shù)?新機器驗收時?機器大修后?新產(chǎn)品試制時?產(chǎn)品不合格追查原因時?在機械廠應(yīng)和模具結(jié)合在一起考慮機器能力指數(shù)、短期、長期能力指數(shù)禨器能力指數(shù) 短期能力指數(shù) 長期能力指數(shù)取樣時間：機器生產(chǎn)穩(wěn)定之后約一個小時取樣時間：機器生產(chǎn)穩(wěn)定之后一個班次左右。目的：在于了解長期的制程能力是否能滿足規(guī)格要求，如果長期的制程能力不能保證時，那么就有生產(chǎn)不良品的可能性謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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