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2025-03-06 03:16 上一頁面

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【正文】 質(zhì)量分層 , 也應(yīng)按不同條件對質(zhì)量特性值進(jìn)行分層控制 , 作分層控制圖 . 另外 , 當(dāng)控制圖發(fā)生異常時(shí) , 分層又是為了確切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法 . 使用控制圖的注意事項(xiàng) ? 控制界限的重新計(jì)算 ? 為使控制線適應(yīng)今后的生產(chǎn)過程 , 在確定控制圖最初的控制線 CL、 UCL、 LCL時(shí) , 常常需要反復(fù)計(jì)算 , 以求得切實(shí)可行的控制圖 . 但是 , 控制圖經(jīng)過使用一定時(shí)期后 , 生產(chǎn)過程有了變化 , 例如加工工藝改變、刀具改變、設(shè)備改變以及進(jìn)行了某種技術(shù)改革和管理改革措施后 , 應(yīng)重新收集最近期間的數(shù)據(jù) , 以重新計(jì)算控制界限并作出新的控制圖 . 建立控制圖的四步驟 A收集數(shù)據(jù) B計(jì)算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 建立 XR圖的步驟 A A階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) 子組大小 子組頻率 子組數(shù)大小 A2建立控制圖及記錄原始記錄 A3計(jì)算每個(gè)子組的均值 X和極差 R A4選擇控制圖的刻度 A5將均值和極差畫到控制圖上 取樣的方式 ? 取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小,組間變異大 ? 樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明 平均值和極差 ? 平均值的計(jì)算 554321 xxxxxx ?????? R值的計(jì)算 m inm a xxxR ??B計(jì)算控制限 B1計(jì)算平均極差及過程平均值 B2計(jì)算控制限 B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線 建立 XR圖的步驟 B RDLCLRDUCLRCLRAXLCLRAXUCLXCLRRRXXX3422????????全距管制圖平均值管制圖kRRRRkxxxxxkk?????????..........21321全距管制圖平均值管制圖管制圖RX ?C過程控制解釋 C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) C2識(shí)別并標(biāo)注特殊原因 (極差圖 ) C3重新計(jì)算控制界限 (極差圖 ) C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 超出控制限的點(diǎn) 鏈明顯的非隨機(jī)圖形 C5識(shí)別并標(biāo)注特殊原因 (均值圖 ) C6重新計(jì)算控制界限 (均值圖 ) C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 建立 XR圖的步驟 C 控制圖的判讀 ? 超出控制界限的點(diǎn):出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制界限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù) UCL CL LCL 異常 異常 控制圖的判讀 ? 鏈: 有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變 ? 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè) ? 連續(xù) 7點(diǎn)上升 (后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn) )或下降。 5。如果子組樣本容量為偶數(shù),中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值。 ? 由于每一子組僅有一個(gè)單值,所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會(huì)有較大的變性,直到子組數(shù)達(dá)到 100個(gè)以上。 管制圖mRX ?mRmRmRmXmXxRDLCLRDUCLRCLREXLCLREXUCLXCLX3422~????????全距管制圖值管制圖管制圖mRX ??B計(jì)算控制限 管制圖mRX ?? C過程控制解釋 ? 審查移動(dòng)極差圖中超出控制限的點(diǎn),這是存在特殊原因的信號。但是這需要注意,如果過程分布不是對稱,用前面所述的用于 X圖的規(guī)則來解釋時(shí),可能會(huì)給出實(shí)際上不存在的特殊原因的信號 ? 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差: ?式中, R為移動(dòng)極差的均值, d2是用于對移動(dòng)極差分組的隨樣本容量 n而變化的常數(shù)。 Ppn 5~1?A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 ? 記錄每個(gè)子組內(nèi)的下列值 ? 被檢項(xiàng)目的數(shù)量 ─ n ? 發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量 ─ np ? 通過這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率 nnpndp ??A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 ? 描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱 坐標(biāo),子組識(shí)別作為橫坐標(biāo)。 ? 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況,當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時(shí),將它們記錄在控制圖的 “ 備注 ” 部份。然糾正該原因并盡可能防止其再發(fā)生。如需要,還可以用符合規(guī)范的比例 (1p)來表示。 評價(jià)過程能力 過程穩(wěn)定,不良率維 持在一定的水平當(dāng)中 降低不良率 采取管理上的措施 降低偶因,如此才能 縮小控制界限,降低不良率 縮小控制限 改善過程能力 ? 過程 一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài),該過程所保持的不合格平均水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差原因 ─ 過程能力。 ? 可以使用諸如排列圖分析法及因果分析圖等解決問題技術(shù)。 ? 在過程改變期間出現(xiàn)的特殊原因變差被識(shí)別并糾正后,過程將按一個(gè)新的過程均值處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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