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【正文】 常非生產(chǎn)單位所能對策范圍時(shí) ,生產(chǎn)單位可視實(shí)際狀況 ,請 QE協(xié)助處理 . 圖象判讀 :* Page:51/70Cp Cpk 制程能力與制程能力指數(shù)概念* Page:52/70評定制程狀況的幾個(gè)定義LSL(下限 ):Lower Spec LimitUSL(上限 ):Upper Spec LimitTarget Value(目標(biāo)值 ) T(公差 ) Mean(平均值 )Std Dev(標(biāo)準(zhǔn)差 ):Standard Deviation ═ σ (Sigma)雙向 Cp的計(jì)算 :Cpl=(MeanLSL)/3 σCpu=(USLMean)/3 σCp =(USLLSL)/6S: Potential Process Capability RatioCpk =Min(Cpl,Cpu) =Cp*(1Ca) : Process Capability Index2∣ Mean － Target Value∣T制程準(zhǔn)確度 Ca=* Page:53/70評定制程狀況的幾個(gè)定義單向公差要求 Cp的計(jì)算方法 :只有下限要求的 Cp值 :Cpl=(MeanLSL)/3 σ只有下限要求的 Cp值 :Cpu=(USLMean)/3 σ* Page:54/70準(zhǔn)確度 Ca 精密度 Cp 精確度 CPkCa/Cp/CPk之間的概念關(guān)係Cpk=Cp(1Ca)* Page:55/70評定制程狀況的幾個(gè)定義Cpk定義 (Definition)Remark:當(dāng)我們考量 Cp時(shí) ,是假設(shè) Spec之中心點(diǎn) (Target Value)與實(shí)際制程能力曲線之中心點(diǎn) (Mean)是一致的 . 這是一個(gè)理想情形 ,但實(shí)際上制程能力曲線是因某些制程條條件而產(chǎn)生飄移 (Target≠ Mean).所以會(huì)產(chǎn)生一個(gè) Correlation factor(Ca).Cpk Cp*(1Ca)= Target Process Mean 1/2 TCa =* Page:56/70評定制程狀況的幾個(gè)定義Cp定義 (Definition)Cp T USL – LSL 6 σ 6 σ=LSL Spec Width USLProcess Width=* Page:57/70評定制程狀況的幾個(gè)定義Cpk檢討由左圖定義 :Process Mean = x。3σ作為管制上下限 ?? 管制上限 UCL 中心線 CL 管制下限 LCL2σσσ2σ3σ3σμA區(qū)A區(qū)B區(qū)B區(qū)C區(qū)C區(qū)旋轉(zhuǎn) 90176。3σ作為管制上下限 ? “3 σ” 原則 概率正態(tài)分布之性質(zhì)在 μ177。 ∞ μ ∞常態(tài)分布函數(shù)特性 := μ 時(shí) ,圖形之高度最高 x= μ ,即 f(x)=1f(x) 1.∫ f(x)d x =1∞∞* Page:9/70為何用 μ177。3σ 來表示 . * Page:10/70為何用 μ177。7點(diǎn)連續(xù)上升或下降的傾向時(shí) (d)出現(xiàn)的點(diǎn) ,連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn) ,7點(diǎn)中有 3點(diǎn) ,10點(diǎn)中有 4點(diǎn) 出現(xiàn)在管制界限近旁 (2δ線外 )時(shí)* Page:32/70管制圖的判讀原則(e)出現(xiàn)的點(diǎn) ,有周期性變動(dòng)時(shí)* Page:33/70管制圖的判讀原則(f) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)在 A區(qū)或 A區(qū)以外者(g) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn)在 B區(qū)或 B區(qū)以外者* Page:34/70管制圖的判讀原則(h) 有 8點(diǎn)在中心線之兩側(cè) ,但 C區(qū)並無點(diǎn)子者(i) 連續(xù) 14點(diǎn)交互著一升一降者* Page:35/70管制圖的判讀原則(j) 連續(xù) 15點(diǎn)在中心線上下兩側(cè)之 C區(qū)者(k) 有 1點(diǎn)在 A區(qū)以外者* Page:36/70P Chart （（ 綠綠 ,紅紅 ））* Page:37/70目的 :通過管控生產(chǎn)線及機(jī)臺的制程不良率 ,籍以對當(dāng)日制程的品質(zhì)狀況進(jìn)行全局掌控，以確保制程的穩(wěn)定 ,減少制程變異 .范圍 :適用于本公司所有零件及成品制程掌控 . 定義 :籍以制程不良率表示其趨勢之一種計(jì)數(shù)值管制圖 .目的 ,范圍及定義* Page:38/70生產(chǎn)線 /機(jī)臺以每日收集一次數(shù)據(jù) ,可收集 25~30個(gè)數(shù)據(jù)作為制定管控圖中心線及上下管控線之?dāng)?shù)據(jù) .PChart圖制作步驟 數(shù)據(jù)收集 : 計(jì)算制程平均不良率 P:P=ΣD/Σn P=D/ n P : 平均不良率Σn: 檢驗(yàn)個(gè)數(shù)的總和 n: 當(dāng)日檢驗(yàn)數(shù) n:平均日檢驗(yàn)數(shù)P :當(dāng)日不良率 ΣD : 不良個(gè)數(shù)總和 D : 不良個(gè)數(shù)* Page:39/70下管制線 : LCL= P 3 *√P*(1P)/ n (紅線 ）上管制線 : UCL= P+3 *√P*(1P)/ n (紅線）中心線 : CL= P (綠線 ） 計(jì)算管制界限 :PChart圖制作步驟* Page:40/70PChart 圖界限檢討A. 把全部點(diǎn)記入 PChart圖 ,如果點(diǎn)都在管制界限 UCL以下 ,即認(rèn)為制程是在管控狀態(tài) .B. 如果有超出管制界限 UCL的點(diǎn) ,就必須進(jìn)一步作制程解析 ,追查原因 ,制定標(biāo)準(zhǔn) ,使同樣原因不再發(fā)生 . LCL之下時(shí) ,繼續(xù)保持生產(chǎn) ,但生產(chǎn)單位需對品質(zhì)的提升進(jìn)行原因分析 ,以求改善對策的推廣和經(jīng)驗(yàn)
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