【正文】 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施重復(fù)這三個(gè)階段從而不斷改進(jìn)過(guò)程 計(jì)量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計(jì) 數(shù) 型 數(shù) 據(jù) P chart 不良率管制圖 Xδ均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 nP chart 不良數(shù)管制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 XMR 單值移動(dòng)極差圖 U chart 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 （ 1） 計(jì)量值或 記數(shù)值 （ 2） 群的大小是 否大于 1 （ 3） 不良或是 缺陷 （ 3） 樣本大小是 否一致 （ 4） 中心值是平均值 還是中位值 記數(shù)值 記數(shù)值 N大于 1 N等于 1 X — R X — R ~ X — RM PN P C U 選擇控制圖方法 (流程 )圖 注：本圖假設(shè)測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)過(guò)評(píng)價(jià)并且是適用的。 X — S 2. 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 與過(guò)程有關(guān)的控制圖 計(jì)量單位：（ mm, kg等） 過(guò)程 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準(zhǔn)面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。C ） 工程更改處理時(shí)間（ h） X圖 R圖 準(zhǔn)確 精密 不準(zhǔn)確 不精密 準(zhǔn)確 不精密 不準(zhǔn)確 精密 ※ 測(cè)量方法必須保證始終產(chǎn)生準(zhǔn)確和精密的結(jié)果 使用控制圖的準(zhǔn)備 建立適合于實(shí)施的環(huán)境 a 排除阻礙人員公正的因素 b 提供相應(yīng)的資源 c 管理者支持 定義過(guò)程 根據(jù)加工過(guò)程和上下使用者之間的關(guān)系，分析每個(gè)階段的影響因素。 確定待控制的特性 應(yīng)考慮到：顧客的需求 當(dāng)前及潛在的問(wèn)題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系 確定測(cè)量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測(cè)的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。 b 確保檢測(cè)設(shè)備或量具本身的準(zhǔn)確性和精密性。 使不必要的變差最小 確保過(guò)程按預(yù)定的方式運(yùn)行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設(shè)定值 注： 應(yīng)在過(guò)程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批次等，有利于下一步的過(guò)程分析。 使用控制圖的準(zhǔn)備 （ XR） 收集數(shù)據(jù) 以樣本容量恒定的子組形式報(bào)告，子組通常包括 25件連續(xù)的產(chǎn)品，并周性期的抽取子組。 注： 應(yīng)制定一個(gè)收集數(shù)據(jù)的計(jì)劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 11 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大小 ：一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過(guò)程流等。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等生產(chǎn)出來(lái)的零件，即一個(gè)單一的生產(chǎn)流。） 112 子組頻率 ：在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能 反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人員更換 /材料批次不同等原因引起。對(duì)正在生產(chǎn)的產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)測(cè)的子組頻率可以是每班 2次，或一小時(shí)一次等。 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。一般為 25組，首次使用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見(jiàn)下圖） 烤紙“溫度” XR 圖記錄單位： 組立 濾紙材質(zhì)： 機(jī)油格 規(guī)范溫度： 170175癱 機(jī)器名稱(chēng)： 烤爐 = 均值 = UCL= +A2R= LCL= A2R=173 UCL= +A2 = 175 LCL= +A2 = 170 = 均值 R = UCL=D4 = LCL=D3 = 0編號(hào) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29日期 / 時(shí)間9/68:009:009/69:0010:009/610:11:009/611:0012:009/613:3014:309/614:3015:309/615:3016:309/78:009:009/79:0010:009/710:0011:009/711:0012:009/713:3014:309/715:3016:309/810:3011:309/813:3014:309/814:3015:309/815:3016:309/118:009:009/119:0010:009/1110:0011:009/1111:0012:009/1113:3014:309/128:009:009/1213:3014:309/1214:3015:309/1215:3016:309/1216:3017:30138:009:009/139:0010:00讀數(shù) 1 174 175 175 173 171 172 173 176 171 172 174 176 173 176 174 172 170 175 172 176 171 175 173 169 170 175 175 175 174讀數(shù) 2 175 176 177 174 170 174 170 175 172 173 173 174 172 174 175 172 169 174 173 175 173 174 172 171 169 173 176 173 175讀數(shù) 3 174 175 176 175 172 173 169 173 173 174 170 172 170 171 176 173 171 172 175 174 173 175 170 173 171 170 174 171 175讀數(shù) 4 173 174 174 176 174 172 171 170 174 176 171 169 171 170 174 174 172 170 176 173 174 173 171 174 172 169 172 169 174讀數(shù) 5 173 173 172 175 175 173 172 169 175 175 172 170 173 171 171 175 173 171 174 170 175 172 172 175 173 171 170 170 173 讀數(shù)之和 讀數(shù)數(shù)量R= 最大值 最小值 2 3 5 3 5 2 4 7 4 4 4 7 3 6 5 3 4 5 4 6 4 3 3 6 4 6 6 6 2應(yīng)記錄人員、材料、環(huán)境、方法、機(jī)器或測(cè)量系統(tǒng)的任何變化，當(dāng)控制圖上出現(xiàn)信號(hào)時(shí)，這些記錄將有助于采取糾正措施 .日期 / 時(shí)間172 173 172 174172 171174 173 174 172173 171 172 174172 172 172 174173A2=D3=D4=172175 172備注日期 / 時(shí)間備注174 175 175 173 171 173 174XXCRXXRRX 圖1711721731741751 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1 系列 2R 圖0481 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1RR1計(jì)算每個(gè)子組的均值（ X）和極差 R 對(duì)每個(gè)子組計(jì)算： X=（ X1+X2+…+Xn ） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個(gè)測(cè)量值。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 141 兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的測(cè)量值。 142 刻度選擇 ： （ XR） 對(duì)于 X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對(duì)于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 注： 一個(gè)有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。 （ 例如：平均值圖上 1個(gè)刻度代表 ，則在極差圖上 1個(gè)刻度代表 ） 1將均值和極差畫(huà)到控制圖上 151 X 圖和 R 圖上的點(diǎn)描好后及時(shí)用直線(xiàn)聯(lián)接，瀏覽各點(diǎn)是否 合理，有無(wú)很高或很低的點(diǎn)，并檢查計(jì)算及畫(huà)圖是否正確。 152 確保所畫(huà)的 X 和 R點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的。 注： 對(duì)于還沒(méi)有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 （ XR） 2 計(jì)算控制限 首先計(jì)算極差的控制限，再計(jì)算均值的控制限 。 21 計(jì)算平均極差（ R）及過(guò)程均值（ X） R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數(shù)量） X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 22 計(jì)算控制限 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均 值和極差的變化和范圍。控制限是由子組的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來(lái)決定的。 計(jì)算公式： X圖 R圖 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R CLx=X CLR=R LCLx=X A2R LCLR=D3R （ XR） 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值見(jiàn)下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2