【正文】 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施重復(fù)這三個階段從而不斷改進過程 計量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計 數(shù) 型 數(shù) 據(jù) P chart 不良率管制圖 Xδ均值和標準差圖 nP chart 不良數(shù)管制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺點數(shù)管制圖 XMR 單值移動極差圖 U chart 單位缺點數(shù)管制圖 （ 1） 計量值或 記數(shù)值 （ 2） 群的大小是 否大于 1 （ 3） 不良或是 缺陷 （ 3） 樣本大小是 否一致 （ 4） 中心值是平均值 還是中位值 記數(shù)值 記數(shù)值 N大于 1 N等于 1 X — R X — R ~ X — RM PN P C U 選擇控制圖方法 (流程 )圖 注：本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。 X — S 2. 計量型數(shù)據(jù)控制圖 與過程有關(guān)的控制圖 計量單位：（ mm, kg等） 過程 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。C ） 工程更改處理時間（ h） X圖 R圖 準確 精密 不準確 不精密 準確 不精密 不準確 精密 ※ 測量方法必須保證始終產(chǎn)生準確和精密的結(jié)果 使用控制圖的準備 建立適合于實施的環(huán)境 a 排除阻礙人員公正的因素 b 提供相應(yīng)的資源 c 管理者支持 定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關(guān)系，分析每個階段的影響因素。 確定待控制的特性 應(yīng)考慮到：顧客的需求 當前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系 確定測量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。 b 確保檢測設(shè)備或量具本身的準確性和精密性。 使不必要的變差最小 確保過程按預(yù)定的方式運行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設(shè)定值 注： 應(yīng)在過程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批次等，有利于下一步的過程分析。 使用控制圖的準備 （ XR） 收集數(shù)據(jù) 以樣本容量恒定的子組形式報告，子組通常包括 25件連續(xù)的產(chǎn)品，并周性期的抽取子組。 注： 應(yīng)制定一個收集數(shù)據(jù)的計劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 11 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大小 ：一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過程流等。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等生產(chǎn)出來的零件，即一個單一的生產(chǎn)流。） 112 子組頻率 ：在適當?shù)臅r間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能 反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人員更換 /材料批次不同等原因引起。對正在生產(chǎn)的產(chǎn)品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時一次等。 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機會出現(xiàn)。一般為 25組，首次使用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見下圖） 烤紙“溫度” XR 圖記錄單位： 組立 濾紙材質(zhì)： 機油格 規(guī)范溫度： 170175癱 機器名稱： 烤爐 = 均值 = UCL= +A2R= LCL= A2R=173 UCL= +A2 = 175 LCL= +A2 = 170 = 均值 R = UCL=D4 = LCL=D3 = 0編號 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29日期 / 時間9/68:009:009/69:0010:009/610:11:009/611:0012:009/613:3014:309/614:3015:309/615:3016:309/78:009:009/79:0010:009/710:0011:009/711:0012:009/713:3014:309/715:3016:309/810:3011:309/813:3014:309/814:3015:309/815:3016:309/118:009:009/119:0010:009/1110:0011:009/1111:0012:009/1113:3014:309/128:009:009/1213:3014:309/1214:3015:309/1215:3016:309/1216:3017:30138:009:009/139:0010:00讀數(shù) 1 174 175 175 173 171 172 173 176 171 172 174 176 173 176 174 172 170 175 172 176 171 175 173 169 170 175 175 175 174讀數(shù) 2 175 176 177 174 170 174 170 175 172 173 173 174 172 174 175 172 169 174 173 175 173 174 172 171 169 173 176 173 175讀數(shù) 3 174 175 176 175 172 173 169 173 173 174 170 172 170 171 176 173 171 172 175 174 173 175 170 173 171 170 174 171 175讀數(shù) 4 173 174 174 176 174 172 171 170 174 176 171 169 171 170 174 174 172 170 176 173 174 173 171 174 172 169 172 169 174讀數(shù) 5 173 173 172 175 175 173 172 169 175 175 172 170 173 171 171 175 173 171 174 170 175 172 172 175 173 171 170 170 173 讀數(shù)之和 讀數(shù)數(shù)量R= 最大值 最小值 2 3 5 3 5 2 4 7 4 4 4 7 3 6 5 3 4 5 4 6 4 3 3 6 4 6 6 6 2應(yīng)記錄人員、材料、環(huán)境、方法、機器或測量系統(tǒng)的任何變化，當控制圖上出現(xiàn)信號時，這些記錄將有助于采取糾正措施 .日期 / 時間172 173 172 174172 171174 173 174 172173 171 172 174172 172 172 174173A2=D3=D4=172175 172備注日期 / 時間備注174 175 175 173 171 173 174XXCRXXRRX 圖1711721731741751 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1 系列 2R 圖0481 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1RR1計算每個子組的均值（ X）和極差 R 對每個子組計算： X=（ X1+X2+…+Xn ） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個測量值。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 141 兩個控制圖的縱坐標分別用于 X 和 R 的測量值。 142 刻度選擇 ： （ XR） 對于 X 圖，坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。 （ 例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上 1個刻度代表 ） 1將均值和極差畫到控制圖上 151 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否 合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。 152 確保所畫的 X 和 R點在縱向是對應(yīng)的。 注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 （ XR） 2 計算控制限 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 。 21 計算平均極差（ R）及過程均值（ X） R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數(shù)量） X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 22 計算控制限 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 值和極差的變化和范圍?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 計算公式： X圖 R圖 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R CLx=X CLR=R LCLx=X A2R LCLR=D3R （ XR） 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2