【正文】 UCL=D4 = LCL=D3 = 0編號 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29日期 / 時間9/68:009:009/69:0010:009/610:11:009/611:0012:009/613:3014:309/614:3015:309/615:3016:309/78:009:009/79:0010:009/710:0011:009/711:0012:009/713:3014:309/715:3016:309/810:3011:309/813:3014:309/814:3015:309/815:3016:309/118:009:009/119:0010:009/1110:0011:009/1111:0012:009/1113:3014:309/128:009:009/1213:3014:309/1214:3015:309/1215:3016:309/1216:3017:30138:009:009/139:0010:00讀數(shù) 1 174 175 175 173 171 172 173 176 171 172 174 176 173 176 174 172 170 175 172 176 171 175 173 169 170 175 175 175 174讀數(shù) 2 175 176 177 174 170 174 170 175 172 173 173 174 172 174 175 172 169 174 173 175 173 174 172 171 169 173 176 173 175讀數(shù) 3 174 175 176 175 172 173 169 173 173 174 170 172 170 171 176 173 171 172 175 174 173 175 170 173 171 170 174 171 175讀數(shù) 4 173 174 174 176 174 172 171 170 174 176 171 169 171 170 174 174 172 170 176 173 174 173 171 174 172 169 172 169 174讀數(shù) 5 173 173 172 175 175 173 172 169 175 175 172 170 173 171 171 175 173 171 174 170 175 172 172 175 173 171 170 170 173 讀數(shù)之和 讀數(shù)數(shù)量R= 最大值 最小值 2 3 5 3 5 2 4 7 4 4 4 7 3 6 5 3 4 5 4 6 4 3 3 6 4 6 6 6 2應(yīng)記錄人員、材料、環(huán)境、方法、機器或測量系統(tǒng)的任何變化，當(dāng)控制圖上出現(xiàn)信號時，這些記錄將有助于采取糾正措施 .日期 / 時間172 173 172 174172 171174 173 174 172173 171 172 174172 172 172 174173A2=D3=D4=172175 172備注日期 / 時間備注174 175 175 173 171 173 174XXCRXXRRX 圖1711721731741751 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1 系列 2R 圖0481 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1RR1計算每個子組的均值（ X）和極差 R 對每個子組計算： X=（ X1+X2+…+Xn ） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個測量值。 （ 例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上 1個刻度代表 ） 1將均值和極差畫到控制圖上 151 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否 合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。 21 計算平均極差（ R）及過程均值（ X） R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數(shù)量） X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 22 計算控制限 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 值和極差的變化和范圍。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。 3 過程控制分析 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。 （ XR） 31 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 311 超出控制限的點 a 出現(xiàn)一個或多個點超出任何控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要證據(jù) ， 應(yīng)分析 。 b2 測量系統(tǒng)的改好。 b 一般情況，各點與 R 的距離：大約 2/3的描點應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混 淆） 注： 如果存在幾個過程流，應(yīng)分別識別和追蹤。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從 X圖中去掉。而是排除受已知的特殊原因影響的點。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸到 鏈的開始點，分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個子組更改刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組， 如 果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一 種或更多進行調(diào)查： d1 控制限或描點計算錯或描錯 。 b 應(yīng)及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。方法如下： b 1 估計過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ? 表示），用 現(xiàn)有的 子組容 量計算： σ? = R/d2 式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2 為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 b –2按照 新的 子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2，計算新 的極差和控制限： R新 = σ? d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 將這些控制限畫在控制圖上。 421 對于單邊容差，計算： Z=(USLX) / σ? 或 Z=(XLSL) / σ? （選擇合適的確一個） 注：式中的 SL=規(guī)范界限， X=測量的過程均值， σ? =估計的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 。 UCL–X 3 σ X – LCL 3 σ ? ? ? ? 423 估計超出規(guī)范的百分比 ： (PZ) a 對于單邊容差，直接使用 Z值查標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表，換算成百分比。 ≤Cpk≤,說明制程能力正常 。 n – 1 式中： Xi， X； N 分別代表單值、均值和樣本容量。 13 過程控制的分析（同 XR） 14 過程能力的分析（同 XR） 估計過程標(biāo)準(zhǔn)差： σ = S / C4= σ S / C4 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 B4 B3 * * * * A3 ? ? 式中： S 是樣本標(biāo)準(zhǔn)差的均值（標(biāo)準(zhǔn)差受控時的）， C4為隨樣本容量變化的常數(shù)。 c 刻度應(yīng)與量具一致。 32 畫一個窄的垂直框標(biāo)注超過極差控制限的子組。 53 描點 操作者將每個單值的點標(biāo)在中位數(shù)圖上。 （ X—MR） 用途 測量費用很大時，（例如破壞性實驗）或是當(dāng)任何時刻點的輸出 性質(zhì)比較一致時（例如：化學(xué)溶液的 PH值）。 b 單值的最大值與最小值之差的 2倍 。 式中： R 為移動極差的均值， d2是隨樣本容量變化的常數(shù)。 子組數(shù)量： 收集的時間足夠長 ， 使得可以找到所有可能影響 過程的變差源 。 114 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點 ， 連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢 。方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 3 P ( 1 – P ) / n UCL,LCL = P 177。 1311 超出控制限的點 a 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進。 b 一般情況，各點與均值的距離：大約 2/3的描點應(yīng)落在控制 限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 133 重新計算控制限 初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計算控制限。 222 記錄表上記錄樣本的容量。 32 數(shù)據(jù)的收據(jù) 321 檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 C和 n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。 3 u / n 44 過程控制解釋（同 P管制圖） 45 過程能力解釋 過程能力為 u