【正文】 C和 n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。 222 記錄表上記錄樣本的容量。 b 一般情況，各點與均值的距離：大約 2/3的描點應(yīng)落在控制 限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 1311 超出控制限的點 a 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種 控制限計算錯誤或描點時描錯 。方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 子組數(shù)量： 收集的時間足夠長 ， 使得可以找到所有可能影響 過程的變差源 。 b 單值的最大值與最小值之差的 2倍 。 53 描點 操作者將每個單值的點標(biāo)在中位數(shù)圖上。 c 刻度應(yīng)與量具一致。 n – 1 式中： Xi， X； N 分別代表單值、均值和樣本容量。 UCL–X 3 σ X – LCL 3 σ ? ? ? ? 423 估計超出規(guī)范的百分比 ： (PZ) a 對于單邊容差，直接使用 Z值查標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表，換算成百分比。方法如下： b 1 估計過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ? 表示），用 現(xiàn)有的 子組容 量計算： σ? = R/d2 式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2 為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 b –2按照 新的 子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2，計算新 的極差和控制限： R新 = σ? d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 將這些控制限畫在控制圖上。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個子組更改刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組， 如 果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一 種或更多進行調(diào)查： d1 控制限或描點計算錯或描錯 。而是排除受已知的特殊原因影響的點。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混 淆） 注： 如果存在幾個過程流，應(yīng)分別識別和追蹤。 b2 測量系統(tǒng)的改好。 3 過程控制分析 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。 21 計算平均極差（ R）及過程均值（ X） R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數(shù)量） X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 22 計算控制限 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 值和極差的變化和范圍。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見下圖） 烤紙“溫度” XR 圖記錄單位： 組立 濾紙材質(zhì)： 機油格 規(guī)范溫度： 170175癱 機器名稱： 烤爐 = 均值 = UCL= +A2R= LCL= A2R=173 UCL= +A2 = 175 LCL= +A2 = 170 = 均值 R = UCL=D4 = LCL=D3 = 0編號 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29日期 / 時間9/68:009:009/69:0010:009/610:11:009/611:0012:009/613:3014:309/614:3015:309/615:3016:309/78:009:009/79:0010:009/710:0011:009/711:0012:009/713:3014:309/715:3016:309/810:3011:309/813:3014:309/814:3015:309/815:3016:309/118:009:009/119:0010:009/1110:0011:009/1111:0012:009/1113:3014:309/128:009:009/1213:3014:309/1214:3015:309/1215:3016:309/1216:3017:30138:009:009/139:0010:00讀數(shù) 1 174 175 175 173 171 172 173 176 171 172 174 176 173 176 174 172 170 175 172 176 171 175 173 169 170 175 175 175 174讀數(shù) 2 175 176 177 174 170 174 170 175 172 173 173 174 172 174 175 172 169 174 173 175 173 174 172 171 169 173 176 173 175讀數(shù) 3 174 175 176 175 172 173 169 173 173 174 170 172 170 171 176 173 171 172 175 174 173 175 170 173 171 170 174 171 175讀數(shù) 4 173 174 174 176 174 172 171 170 174 176 171 169 171 170 174 174 172 170 176 173 174 173 171 174 172 169 172 169 174讀數(shù) 5 173 173 172 175 175 173 172 169 175 175 172 170 173 171 171 175 173 171 174 170 175 172 172 175 173 171 170 170 173 讀數(shù)之和 讀數(shù)數(shù)量R= 最大值 最小值 2 3 5 3 5 2 4 7 4 4 4 7 3 6 5 3 4 5 4 6 4 3 3 6 4 6 6 6 2應(yīng)記錄人員、材料、環(huán)境、方法、機器或測量系統(tǒng)的任何變化，當(dāng)控制圖上出現(xiàn)信號時，這些記錄將有助于采取糾正措施 .日期 / 時間172 173 172 174172 171174 173 174 172173 171 172 174172 172 172 174173A2=D3=D4=172175 172備注日期 / 時間備注174 175 175 173 171 173 174XXCRXXRRX 圖1711721731741751 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1 系列 2R 圖0481 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1RR1計算每個子組的均值（ X）和極差 R 對每個子組計算： X=（ X1+X2+…+Xn ） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個測量值。 使用控制圖的準(zhǔn)備 （ XR） 收集數(shù)據(jù) 以樣本容量恒定的子組形式報告，子組通常包括 25件連續(xù)的產(chǎn)品，并周性期的抽取子組。 預(yù)測 時間 范圍 目標(biāo)值線 如果 存在變差的特殊 原因 ，隨著時間的推 預(yù)測 移，過程的輸出不 穩(wěn)定。 過程能力 (Process Capability) 是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用 Z來表示。 名稱 解釋 中心線 （ Central Line） 控制圖上的一條線，代表所給 數(shù)據(jù)平均值 。 第二講 SPC的作用 ? 確保制程持續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測。 ? 提高產(chǎn)品質(zhì)量、生產(chǎn)能力、降低成本。 過程均值（ Process Average） 一個特定過程特性的測量值分布的位置即為過程均值，通常用 X 來表示。 移動極差 （ Moving Range) 兩個或多個連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。 時間 范圍 變差對過程的影響 ? 局部措施 ? 通常用來消除變差的特殊原因 ? 通常由與過程直接相關(guān)的人員實施 ? 通?？杉m正大約 15%的過程問題 ? 對系統(tǒng)采取措施 ? 通常用來消除變差的普通原因 ? 幾乎總是要求管理措施，以便糾正 ? 大約可糾正 85%的過程問題 過程控制 受控 （消除了特殊原因） 時間 范圍