【正文】 s = ∑ (Xi–X )178。見下表： 注： 在樣本容量低于 6時，沒有標準差的下控制限。 12 只要描一張圖，刻度設置為下列的較大者： a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù) b 測量值的最大值與最小值之差的 2倍。 3 過程控制分析（同 XR） 31 凡是超出控制限的點，連成鏈或形成某種趨勢的都必須進行特 殊原因的分析，采取適當?shù)拇胧?。 52 制作極差的控制圖片 在一張透明的膠片標上極差的控制限。 56 改善 操作者對超出控制限的極差或中位數(shù)采取適當?shù)拇胧┻M行改善，或通知管理人員。 23 單值圖 （ X） 圖的刻度按下列最大者選?。? a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù) 。見下表： 4 過程控制解釋（同其他計量型管制圖） 5 過程能力解釋 δ= R / d2 = δ R / d2 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 * * * * * E2 樣本容量小于 7時，沒有極差的控制下限。 11 收集數(shù)據(jù) 111 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 子組容量 ：子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個不 合格品 分組頻率： 根據(jù)實際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。 選擇控制圖的坐標刻度 113 選擇控制圖的坐標刻度 一般不良品率為縱坐標 ， 子組別 （ 小時 /天 ） 作為橫坐標 ,縱坐標的刻度應從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 到 2倍 。 在實際運用中 ， 當各組容量不超過其平均容量 25%時 ， 可用平均樣本容量 n 代替 n 來計算控制限 USL； LSL。 C、 按上式分別計算樣本容量為 n 和 n 時的點的控制限 . UCL,LCL = P 177。 ） 13 過程控制用控制圖解釋： 131 分析數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定的證據(jù)（一個受控的 P管制圖 中，落在均值兩側(cè)的點的數(shù)量將幾乎相等） 。 b 低于控制限之下的點，說明存在下列情況的一種或多種： 控制限或描點時描錯。 1313 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有 規(guī)律的關系等 。并在備 注欄中詳細記錄。 22 數(shù)據(jù)的收集（基本和 p 圖相同） 221 受檢驗的樣本的容量必須相同， 樣本容量足夠大使每個子組 內(nèi)都有幾個不良品并在。 24 過程控制解釋和過程能力解釋 同 p管制圖 (3) 不合格（缺陷）數(shù)的 c 圖 31 采用時機 C圖用來測量一個檢驗批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量， C圖 要求 樣本的容量恒定或受檢驗材料的數(shù)量恒定 ，主要用于以下兩 類檢驗： 311 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（如：每條尼龍上的瑕疵，玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點），以及可以用不合格的 平均比率表示的地方（如 100平方米上的缺陷） 312 在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)不同原因造成的不合格。 3 C / K 34 過程控制解釋（同 P管制圖） 35 過程能力解釋 固定樣本容量為 n 的過程能力為其不合格數(shù)的平均值 c. (4) 單位不合格（缺陷）數(shù)的 u圖 41 使用的時機 u圖用來測量具有 不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組 內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量 （可以用 不良率 表示） . 42 數(shù)據(jù)的收集 421 各子組樣本容量彼此不必都相同，盡量使它的容量在 其平均值的正負各占 25%以內(nèi)，可以簡化控制限的計算 . 422 記錄并描繪每個子組內(nèi)的單位產(chǎn)品不合格數(shù)（ u） u=c / n 式中 : C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量， n為子組中樣本的容量。 注：如果某些子組的樣本容量與平均樣本容量的差超過正負 25%，按下式重新計算其準確的控制限： U/LSLu = u 177。 43 計算控制限 431 計算每單位產(chǎn)品過程不合格數(shù)的平均值 u=(C1+C2+…+C k) / (n1+n2+…+n k) 式中 : C1， C2及 n1,n2等為 K個子組內(nèi)每個子組的不合格數(shù)及樣 本容量 . 432 計算控制限 U/LSLu = u 177。 322 記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格數(shù)（ C）。 23 計算控制限 231 計算過程不合格數(shù)的均值（ np） np = (np1+np2+… +npk) / k 式中的 np1,np2, … 為 K個子組中每個子組的不合格數(shù) 。 14 過程能力解釋 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖上的每一點 直接表明不符合顧客要求的不合格品的百分數(shù)和比值，這就是對能力的定義 (2) 不合格品數(shù)的 np 圖 21 采用時機 211 不合格品的實際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報告 。 c 如果顯著多余 2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于 25 子組，如果超過 90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應對下 列情況的一種或更多進行調(diào)查： 控制限或描點計算錯描錯 過程或取樣方法被分層，每個子組包含了從兩個或多個 不同平均性能的過程流的測量值（如：兩條平行的生產(chǎn) 線的混合的輸出）。 1312 鏈 a 出現(xiàn)高于均值的長鏈或上升鏈（ 7點），通常表明存在下列 情況之一或兩者。 測量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗員或量具）。 3 p ( 1– p) / n 123 畫線并標注 過程平均 （ P） 為水平實線 ， 控制限 （ USL； LSL） 為虛線 。 25%的樣本容量范圍。 b 在控制圖的 “ 備注 ” 部分記錄過程的變化和可能影響過程 的異常情況 。 一般為 25組 。見下表： 注 ： 只有過程受控，才可直接用 δ的估計值來評價過程能力 。 24 移動極差圖 （ MR） 的刻度間隔與 X 圖一致 。 11 移動圖的三種用法： a 單值 b 移動組 c 固定子組 數(shù)據(jù)收集 （ 基本同 XR ） 21 在數(shù)據(jù)圖上 ， 從左到右記錄單值的讀數(shù) 。 54 找出超過極差控制限的點 操作者與每個子組的最大標記點和最小標記點進行比較，用窄垂直框圈上超出膠片控制限的子組。 4 過程能力的分析 （同 XR） 估計過程標準偏差： δ= R / d2 注：只有中位數(shù)和極差處于受控狀態(tài)，才可用 δ的估計值來評價過程 能力。 13 將每個子組的單值描在圖中一條垂直線上，圈上子組的中位數(shù)， 并連接起來。見下表： 當需要計算過程能力時；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。 注： s 圖的刻度尺寸應與相應的 X圖的相同。 （ Xs圖） 一般來講 ， 當出現(xiàn)下列一種或多種情況時用 S圖代替 R圖： a 數(shù)據(jù)由計算機按設定時序記錄和 /或描圖的 ， 因 s的計算程序 容易集成化 。 b 對于雙邊容差，根據(jù) Zusl 和 Zlsl 的值查標準正態(tài)分布表 , 分別算出 Pzusl 和 Pzlsl 的百分比，再將其相加。 422 對于雙向容差，計算： Zusl=(USLX) / σ Zlsl=(XLSL) / σ Z=Min{ Zusl。 4 過程能力分析 如果已經(jīng)確定一個過程已處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，還存在過程是否有能力滿足顧客需求的問題時； 一般講，控制狀態(tài)穩(wěn)定 , 說明不存在特殊原因引起的變差，而能力反映普通原因引起的變差，并且?guī)缀蹩傄獙ο到y(tǒng)采取措施來提高能力，過程能力通過標準偏差來評價。 36 重新計算控制限（均值圖） 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點，然后重新計算并描畫過程 均值 X 和控制限，使所有點均處于受控狀態(tài)。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不 同的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進行 過度 控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機波 動的響應）。 不受控制的過程的均值（ 長的上升鏈 ） 不受控制的過程的均值（ 出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈 ） UCL X LCL UCL X LCL 343 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個 控制限內(nèi) ， 或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關系等 。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。 修改后的 R 和 X 可用于重新計算均值的試驗控制限， X 177。 32 識別并標注所有特殊原因（極差圖） a 對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個特殊原因進行標注，作一個過程操作 分析，從而確定該原因并改進，防止再發(fā)生。 C 如果顯著多余 2/3以上的描點落在離 R 很近之處（對于 25子組，如果超過 90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應對下列情況的一種或更多進行調(diào)查： c1 控制限或描點已計算錯描錯 。 注 1： 當子組數(shù)（ n）變得更?。?5或更小）時，出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加，則 8點或更多點組成的鏈才能表明過程變差減小。