【企業(yè)-標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范】汽車系統(tǒng)用電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范(word檔)-文庫(kù)吧
2025-04-04 11:35 本頁(yè)面
【正文】 器件廠家或其分銷商申請(qǐng)樣件時(shí)，應(yīng)同時(shí)索取器件的檢驗(yàn)報(bào)告，傳感器等特殊器件還要求提供詳細(xì)的試驗(yàn)報(bào)告，以便于我司質(zhì)保部門按同樣的試驗(yàn)要求和條件進(jìn)行抽檢和復(fù)驗(yàn)。 在收到器件時(shí)，首先應(yīng)根據(jù)器件的特性、應(yīng)用的產(chǎn)品類別，選擇相應(yīng)的試驗(yàn)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。在沒(méi)有器件的試驗(yàn)及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，應(yīng)該向供應(yīng)商及器件廠家索取。如果仍找不到器件的專用試 驗(yàn)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，可參考其應(yīng)用的最終產(chǎn)品的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。如參考文件中，適合于汽車電子器件的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。具體的試驗(yàn)條件可參考器件的數(shù)據(jù)手冊(cè)所提供的存貯溫度，操作溫度，和其它相關(guān)試驗(yàn)檢測(cè)條件參數(shù)。 目檢： 接收元器件必須在 10倍的放大鏡下通過(guò)所有的外觀檢查項(xiàng)目，玻璃密封器件應(yīng)該在 7~10倍的放大鏡下檢驗(yàn)。 無(wú)源器件的目檢可參考 MILSTD883E 方法 ； 密封封裝器件的外部目檢依據(jù) MILSTD883E 方法 ； 對(duì)于組件（如遙控器的接收頭、傳感器等）的內(nèi)部目檢的實(shí) 施細(xì)則和判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)： MILSTD883E 方法 內(nèi)部目檢 (混合電路 )，此項(xiàng)試驗(yàn)帶有破壞性。 帶有旋鈕 /按鈕等其它手柄的調(diào)諧元器件 (如電位器、滑動(dòng)電阻、開(kāi)關(guān)、按鈕 )的內(nèi)部目檢，依據(jù) MILSTD883E 方法 2021。此項(xiàng)試驗(yàn)帶有破壞性。 例 如變壓器，看其所有引線有否折斷，外表有無(wú)銹蝕，線包、骨架有無(wú)破損等。如三極管，看其外表有無(wú)破損，引腳有無(wú)折斷或銹蝕，還要檢查一下器件上的型號(hào)是否清晰可辨。對(duì)于電位器、可變電容器之類的可調(diào)元器件，還要檢查在調(diào)節(jié)范圍內(nèi)，其活動(dòng)是否平滑、靈活，松緊是否合適 ， 調(diào)節(jié)器件時(shí)， 應(yīng)無(wú)機(jī)械噪聲，手感好，并 且 保證各觸點(diǎn)接觸良好。 尺寸檢查 依據(jù) MILSTD883E 方法 2021（物理尺寸）。對(duì)于新購(gòu)置的電子元器件，在PCB布線前或器件安裝使用前，必須對(duì)其封裝尺寸進(jìn)行檢查確認(rèn)，是否與圖紙相符。 試驗(yàn)前的性能參數(shù)檢查 電子元器件的數(shù)據(jù)手冊(cè)均提供了各種電氣性能及熱性能參數(shù)。器件的關(guān)鍵參數(shù)必須在試驗(yàn)前即進(jìn)行檢測(cè)，以便與試驗(yàn)后的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行比較。判斷其性能優(yōu)劣。 測(cè)試條件應(yīng)該符合電子元器件數(shù)據(jù)手冊(cè)或電子元器件技術(shù)規(guī)范的要求。因電子元器件試驗(yàn)后的檢測(cè)方法和要求與試驗(yàn) 前的一致，參見(jiàn) 。檢測(cè)時(shí)，只須做好檢測(cè)數(shù)據(jù)的記錄以備查。 老化篩選 /加速壽命試驗(yàn) ` 為了保證在 產(chǎn)品 試制的過(guò)程中不浪費(fèi)時(shí)間，減少差錯(cuò)，同時(shí)也保證 產(chǎn)品 能長(zhǎng)期 穩(wěn)定地工作，必須 進(jìn)行老化 /加速壽命試驗(yàn) 。 要保證試制的電子裝置能夠長(zhǎng)期穩(wěn)定地通電工作，并且經(jīng)得起應(yīng)用環(huán)境和其它可能因素的考驗(yàn)，對(duì)電子元器件的篩選是必不可少的一道工序。所謂篩選，就是對(duì)電子元器件施加一種應(yīng)力或多種應(yīng)力試驗(yàn)，暴露元器件的固有缺陷而不破壞它的完整性。 篩選的理論是：如果試驗(yàn)及應(yīng)力等級(jí)選擇適當(dāng)，劣質(zhì)品會(huì)失效，而優(yōu)良品則會(huì)通過(guò)。人們?cè)陂L(zhǎng)期的生產(chǎn) 實(shí)踐中發(fā)現(xiàn)新制造出來(lái)的電子元器件，在剛投入使用的時(shí)候，一般失效率較高，叫做早期失效，經(jīng)過(guò)早期失效后，電子元器件便進(jìn)入了正常的使用期階段，一般來(lái)說(shuō)，在這一階段中，電子元器件的失效率會(huì)大大降低。過(guò)了正常使用階段，電子元器件便進(jìn)入了耗損老化期階段，那將意味著壽終正寢。這個(gè)規(guī)律，恰似一條浴盆曲線，人們稱它為電子元器件的效能曲線，如圖 1所示。 電子元器件失效的原因，是由于在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)時(shí)所選用的原材料或工藝措施不當(dāng)而引起的。元器件的早期失效十分有害，但又不可避免。因此，人們只能人為地創(chuàng)造早期工作條件，從而在制成產(chǎn)品前就將劣質(zhì)品剔除，讓 準(zhǔn)備
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