pcb設(shè)計(jì)培訓(xùn)之印制電路板制造簡(jiǎn)易實(shí)用手冊(cè)-閱讀頁(yè)
2025-07-14 10:25本頁(yè)面
【正文】 層是很重要的鍍種之一。從實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)獲知，該槽液內(nèi)含有的雜質(zhì)主要是銅、有機(jī)雜質(zhì)。具體方法是：除去銅雜質(zhì)所需條件，、時(shí)間23小時(shí)，陰極是瓦楞形。 鍍液性能分析儀器簡(jiǎn)介（見(jiàn)下表7） 表6：幾種常用儀器分析方法應(yīng)用表儀器名稱(chēng)發(fā)射光譜儀 X光熒光光譜儀質(zhì)譜計(jì)原子吸收分光光度計(jì) 定性基礎(chǔ)不同元素在不同波度位置有特征譜線(xiàn)不同元素有不同X射線(xiàn)熒光譜線(xiàn)形成特征的分子離子和控片分子不同元素有不同波長(zhǎng)位置的特性吸收 檢查極限幾十毫微克 % PPM 毫微克 定量基礎(chǔ)譜線(xiàn)強(qiáng)度與原子濃度成正比 X射線(xiàn)強(qiáng)度與原子濃度成正比峰的強(qiáng)度與原子濃度成正比 Log(透過(guò)率)與原子濃度成正比 定量范圍 10PPM高濃度 10PPM高濃度 PPbPPM 相對(duì)誤差% 110 15 15 靈敏度 104103 106107 106109 107 形態(tài)固體 液體固體 液體氣體 固體 液體溶液(固體) 需要量 Mg g μg 幾毫克 用途特點(diǎn)金屬元素的極微量到半微量分析金屬元素常量分析各種有機(jī)化合物金屬元素的極微量到半微量分析 不適合對(duì)象有機(jī)物原子序數(shù)11以下的高聚物 鹽類(lèi)有機(jī)物 不適合對(duì)象有機(jī)物原子序數(shù)11以下的元素,有機(jī)物高聚物 鹽類(lèi)有機(jī)物 破壞與否破壞非破壞破壞破壞 全面質(zhì)量：全面質(zhì)量是指產(chǎn)品質(zhì)量、工程質(zhì)量及服務(wù)質(zhì)量的總和。 工作質(zhì)量：指有關(guān)部門(mén)的組織、管理、技術(shù)工作，對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量保證程度。 工程質(zhì)量：指在產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程中，對(duì)人、原材料、設(shè)備、方法和環(huán)境等五大因素；同時(shí)起作用，對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量影響程度。 產(chǎn)品質(zhì)量：指產(chǎn)品在滿(mǎn)足使用要求所具備的特性，即性能、壽命、可靠性、控制、安全性(價(jià)格、交貨期、服務(wù))和經(jīng)濟(jì)性。 質(zhì)量管理：為保證和提高產(chǎn)品或工程質(zhì)量所進(jìn)行的調(diào)查、計(jì)劃、組織、協(xié)調(diào)、控制、檢查、處理及信息反饋等各項(xiàng)活動(dòng)的總和。 全面質(zhì)量管理：指三全管理，即全員參加管理、全部過(guò)程管理及全部工作管理。 企業(yè)內(nèi)控標(biāo)準(zhǔn)：為了不斷提高產(chǎn)品的適用性，企業(yè)可制定高于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)、專(zhuān)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)稱(chēng)之。 生產(chǎn)受控主要標(biāo)志：研制、生產(chǎn)活動(dòng)按規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)范、程序進(jìn)行；運(yùn)用科學(xué)方法，隨時(shí)掌握質(zhì)量動(dòng)態(tài)，及早發(fā)現(xiàn)異常，把質(zhì)量隱患消除在發(fā)生之前；一旦發(fā)質(zhì)量問(wèn)題，能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)和糾正，并杜絕重復(fù)發(fā)生；產(chǎn)品質(zhì)量具有可蹤性，能夠隨時(shí)查到設(shè)計(jì)、制造時(shí)間、地點(diǎn)、涉及范圍、責(zé)任者的客觀證據(jù)。 設(shè)計(jì)質(zhì)量評(píng)審：通過(guò)對(duì)設(shè)計(jì)工作及其成果進(jìn)行詳細(xì)審查、評(píng)論，發(fā)現(xiàn)和糾正設(shè)計(jì)缺陷，加速設(shè)計(jì)成熟為批準(zhǔn)設(shè)計(jì)提供決策咨詢(xún)。 工藝質(zhì)量評(píng)審：是對(duì)工藝總方案、生產(chǎn)說(shuō)明書(shū)等指令工藝文件，關(guān)鍵件、重要件、關(guān)鍵工序的工藝規(guī)程，特種工藝文件進(jìn)行評(píng)審，以及時(shí)發(fā)現(xiàn)和消除工藝文件的缺陷，保證工藝文件的正確性、合理性、可生產(chǎn)性和可檢驗(yàn)。 產(chǎn)品質(zhì)量評(píng)審：主要是對(duì)產(chǎn)品合格后的產(chǎn)品質(zhì)量和制造過(guò)程質(zhì)量保證工作的評(píng)審。 重要特性：是指此類(lèi)特性如達(dá)不到設(shè)計(jì)要求或發(fā)生故障，可難導(dǎo)致產(chǎn)品不能完成預(yù)定指令，而引起系統(tǒng)失靈。 關(guān)鍵工序：是對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量起決定性作用的工序。 關(guān)鍵工序包括內(nèi)容：關(guān)鍵特性、重要特性所構(gòu)成的工序；加工質(zhì)量不穩(wěn)定的工序；加工周期長(zhǎng)、材料昂貴、出廢品后經(jīng)濟(jì)損失較大的工序。1．3．TQC四個(gè)支柱：PDCA循環(huán)(按計(jì)劃、執(zhí)行、檢查、處理總稱(chēng)。2．控制方法簡(jiǎn)介(1)老七種工具A．排列圖(又稱(chēng)因素排列圖、巴累特圖、巴氏圖、帕累托圖)：主要用來(lái)找出影響質(zhì)量的主要問(wèn)題。見(jiàn)圖示：：主要可以直觀地看出產(chǎn)品的質(zhì)量分布情況。見(jiàn)圖示：：用數(shù)據(jù)點(diǎn)群表示兩因素之間的相互關(guān)系。根據(jù)調(diào)查內(nèi)容不同可分：不良項(xiàng)目調(diào)查表；工序分布調(diào)查表；缺陷位置調(diào)查表；產(chǎn)品總檢情況調(diào)查表。B．KL法：用于對(duì)新產(chǎn)品的認(rèn)識(shí)和未知領(lǐng)域的認(rèn)識(shí)，對(duì)原有的雜亂無(wú)章文字資料的整理。D. 矩陣圖法：就是從各種問(wèn)題中找出成對(duì)的要素，通過(guò)交點(diǎn)處表示相互關(guān)系，有效的解決問(wèn)題。F．矢線(xiàn)圖法：工作和生產(chǎn)進(jìn)行日程計(jì)劃所用的網(wǎng)絡(luò)組織圖，也就是在推行計(jì)劃時(shí)將與作業(yè)有關(guān)的幾個(gè)重要因素，用矢線(xiàn)聯(lián)系起來(lái)而構(gòu)成的網(wǎng)絡(luò)圖。3．常用數(shù)據(jù)選擇(1)數(shù)據(jù)種類(lèi)A. 計(jì)量值數(shù)據(jù)：即可連續(xù)取值的數(shù)據(jù)。B. 計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)：即只能用個(gè)數(shù)計(jì)數(shù)的數(shù)據(jù)。(2)取樣方法A．隨機(jī)取樣：使一批中所有單位產(chǎn)品都有相同的概率被抽取的方法。(3)平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差與極差A(yù). 平均值X表示全體數(shù)據(jù)的集中位置。用下式表示；R=X最大值X最小值第十章 退除劣質(zhì)金屬鍍層的方法1. 鉛錫合金鍍層從銅基板上退除法：(1)氟化氫銨（NH4HF2） 5克／升 溫度 視鍍層厚度定。 50克／升 溫度 2530℃ 時(shí)間（分） 4102．金鍍層從銅基板上退除法(1)配方：濃硫酸添加少量鉻酸或鎳鹽。時(shí)間視金層厚度而定。 15克／升(2)工作條件： 溶液溫度 陽(yáng)極處理 視鍍層厚度而定。 120毫升／升 31毫升／升(2)工作條件：溫度 2. CAM：(Computer Aided Manufacturing)計(jì)算機(jī)輔助制造。 4. FPC：(Flexible Printed Circuit)柔性印制電路。 6. PWB：(Printed Wiring Board)印制線(xiàn)路板。 8. SMT：(Surface Mount Technology)表面安裝技術(shù)。 10. SMD：(Surface Mount Devices)表面安裝器件。 12. IEC：(International Electrotechnical Commision)國(guó)際電工技術(shù)委員會(huì)組織。 14. MIL：(Military Standard)美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)。 16. LSI：(Large Scale Integrated Circuit)大規(guī)模集成電路。 18. UL：(Under writers Laboratories INC)美國(guó)保險(xiǎn)商試驗(yàn)室。 20. AOI：(Automated Optical Inspection)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)。 22. SQC：(Statistical Quality Control)統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控
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