【正文】 布的分散程度之標準，用以衡量數(shù)據(jù)值偏離算術 平均值的程度。總體Sample019 PCS使用者 占有率 ?Data大韓民國區(qū)分 人員350120530011 PCS017 PCS019 PCSPCS使用者1000名18/171CECpanda LCD technology對總體的判斷◆ 總體和 Sample標本 (Sample,10)總體(N=1,000)Sample 10個測定 (規(guī)格 : 100177。? 能 劃分區(qū)組者劃分區(qū)組，不能劃分區(qū)組者則隨即化。? 若過程中存在異常原因造成的誤差，則過程不穩(wěn)定。? 質量管理的核心目的之一就是要分析、鑒別產(chǎn)品和過程波動的原因，將其控制在穩(wěn)定水平上從而保證過程輸出的穩(wěn)定。? SPC是從統(tǒng)計的觀點來認識和處理過程變異的。? 引起過程變異的原因紛繁復雜。26/171CECpanda LCD technology過程的波動測量 24個工件 測量 100個工件的分布曲線27/171CECpanda LCD technology? 質量 特性波動是隨機的，時隱時現(xiàn)，時大時小，時正時負的? 隱藏在 隨機性后面的統(tǒng)計規(guī)律是分布? 連續(xù) 測量一批產(chǎn)品中每個質量特性，畫出直方圖，就可發(fā)現(xiàn)一個接一個的測量質量特性（用 X表示）－差異表現(xiàn)出來。?分布 可以有不同的形式 : 位置不同、寬度（散布）不同、形狀不同X X X XX X X28/171CECpanda LCD technology過程數(shù)據(jù)分布特征? 1）位置：均值，中位數(shù)，分布中心? 2）寬度：最大值與最小值之間的距離? 3）形狀：對稱， “鐘形 ”位置差異σ2σ1S1 S2u2u129/171CECpanda LCD technology過程的兩類變異原因? 過程數(shù)據(jù)波動的原因：? 1）普通原因? 隨時間推移過程數(shù)據(jù)分布狀態(tài)不變（統(tǒng)計意義上的顯著變化）? 特點：? 存在于任何過程? 其對過程的影響輕微且不確定? 不能利用現(xiàn)有技術控制t30/171CECpanda LCD technology過程的兩類變異原因? 過程數(shù)據(jù)波動的原因：? 2）特殊原因? 隨時間推移過程數(shù)據(jù)分布狀態(tài)變化? 特點：? 有時出現(xiàn)，有時消失? 對過程的影響大? 可利用現(xiàn)有技術控制? 質量管理的主要任務之一就是區(qū)別普通原因和特殊原因，并對特殊原因進行改善和控制。3σ區(qū)域內的概率為 %，落在區(qū)域之外的概率僅為 %.? 因此常把 X177。? ：隨著時間推移，任一工序的分布中心會在 “規(guī)格中心 177。33/171CECpanda LCD technology控制圖控制原理6σ 6σ 5σ 4σ 3σ 2σ 1σ 5σ 4σ 3σ 2σ1σ %%%%%%? 數(shù)據(jù)服從正態(tài)分布時落在各區(qū)間內的概率正態(tài)分布的特點：? 平均值對應于峰值? 圖形關于平均值對稱? 在 X+/3S范圍內 有 ％的數(shù)據(jù)34/171CECpanda LCD technology? 事實上， ：隨著時間推移，任一工序的分布中心會在 “規(guī)格中心 +/”范圍內動態(tài)變化。而不是根據(jù)我們希望它怎樣?控制上下限與規(guī)格上下限沒有聯(lián)系 !? 在前面例子中的上下限是通過使用平均極差數(shù)據(jù)估計標準差計算得來 .? 控制上下限的用途 .? 確定何時必要當場采取措施及何時采用 當特殊原因偏差存在時 ).? 展示過程的自然偏差 ,不自然的模式 .37/171CECpanda LCD technology原理 :? 正常原因造成的誤差滿足正態(tài)分布；? 正態(tài)分布的數(shù)據(jù)有 ％的概率在 Xbar177。第一個分量是過程內部引起的穩(wěn)定分量（即偶然波動），第二個分量是可查明原因的間斷波動（異常波動）；那些可查明原因可用有效方法加以發(fā)現(xiàn)，并可被剔去，但偶然波動不會消失，除非改變基本過程；休哈特建議用界限 u177。休哈特認為基于 3Sigma限的控制圖可以把偶然波動和異常波動區(qū)分開。? 根據(jù)中心極限定理，無論控制圖所控制的質量特性如從何種分布，只要抽樣數(shù)足夠多，其平均值的分布服從正態(tài)分布。? 設置過寬：控制圖對異常的誤差不敏感，失去控制效果? 設置過緊：過度調節(jié)，降低工藝能力，增加成本控制圖的界限設置40/171CECpanda LCD technology? 控制界限和規(guī)格界限控制界限與規(guī)格界限的關系41/171CECpanda LCD technology控制界限與規(guī)格界限的關系：? 規(guī)格界限：代表顧客的要求，用于控制產(chǎn)品? 控制界限：對過程的要求，用于控制過程? 控制界限顯示現(xiàn)行過程的自然變化，與顧客的需求并沒有必然的聯(lián)系！? 規(guī)格界限不能用于控制界限！控制界限與規(guī)格界限的關系42/171CECpanda LCD technology預防與檢測43/171CECpanda LCD technology預防 與檢測傳統(tǒng)的質量控制方法：檢驗模式（ 用 檢驗來控制產(chǎn)品的誤差）? 檢驗時間、檢驗成本? 檢驗時損失已經(jīng)造成? 不知道過程的狀態(tài)? 不易發(fā)現(xiàn)過程中的問題? 可能會過度調節(jié)44/171CECpanda LCD technology? 工藝規(guī)范規(guī)范 下限LSL目標值T規(guī)范 上限USL誤差允許范圍預防 與檢測45/171CECpanda LCD technology? 傳統(tǒng) 的生產(chǎn)與質量控制流程生產(chǎn) 檢驗合格包裝 裝運出廠不合格報廢返工預防 與檢測46/171CECpanda LCD technology? 理想的生產(chǎn)流程（變事后控制為事前、事中控制）生產(chǎn) 包裝 裝運出廠SPC預防 與檢測47/171CECpanda LCD technology+++￥￥￥￥￥￥￥￥ 事前準備投事前準備投入入過程預防中過程預防中的投入的投入極低的廢品極低的廢品損失損失極低的抱怨極低的抱怨損失損失預防預防預防會不會預防會不會成本提高？成本提高？預防觀念預防觀念+++￥￥+￥￥￥￥￥￥￥￥較少的事前較少的事前投入投入極少的過程極少的過程預防投入預防投入廢品損失廢品損失抱怨的成倍抱怨的成倍損失損失改進的費用改進的費用檢測檢測48/171CECpanda LCD technology預 防 與 檢測? 過程永遠處于變異之中，過程數(shù)據(jù)會呈現(xiàn)一種特定的分布，根據(jù)過程數(shù)據(jù)隨時間變化的分布狀態(tài)（位置、形狀、寬度等）可以對過程做出判斷，通過判斷過程變異原因的類別，可以確定是否對其進行改善和控制。? 變事后糾正為事前預防。 1975 1980 1985故障率JapanFordChryslerGen.由于兩家采用的是同樣的檢驗規(guī)范，福特公司覺得不可思議，最后福特公司把兩家生產(chǎn)的變速器的零件拆下作檢測，結果發(fā)現(xiàn)他們均滿足規(guī)范要求，但是分布狀態(tài)不同。一個過程開始實施控制圖時，幾乎總不會恰巧處于受控狀態(tài)，即總會存在異常波動。因此，一開始，總需要把失控狀態(tài)調整到理想的受控狀態(tài)。? 分析用控制圖主要做到：調整過程，使過程達到受控；使過程能力指數(shù) Cp或 Cpk能達到顧客要求。一旦進入了控制階段，就表明過程實現(xiàn)了上述兩點。一般為每小時至每班 1次，分析階段頻率要高，控制階段頻率可低子組大小的確定：一般而言 25組以上的子組可以滿足檢驗過程穩(wěn)定性的要求不同的計量值數(shù)據(jù)控制圖，有不同的控制界限計算公式，但均是按 3σ原理計算而來71/171CECpanda LCD technology搜集數(shù)據(jù)的合理子組原則? 在抽取樣本時要使組內波動僅僅由正常原因引起，而組間波動主要由異常原因引起。時間Y 因變量普通原因誤差每個方格都代表一個子群的數(shù)據(jù)特殊原因誤差72/171CECpanda LCD technology計量值數(shù)據(jù)控制圖? 極差 /標準差圖的分析及決策圖確定控制對象性質所有點都落在控制界限內嗎從控制圖中去除該點否是 是否只有 1或 2個點超出控制界限 三個或以上 R/S點超出控制界限重新計算控制界限所有點都落在控制界限內嗎極差標準差受控極差 /標準差不在控制范圍消除變異原因收集新數(shù)據(jù)重新計算極差 /標準差控制界限否是否73/171CECpanda LCD technology計量值數(shù)據(jù)控制圖? 平均值 /中位數(shù)圖的分析及決策圖計算平均值 /中位數(shù)圖的控制界限所有點都落在控制界限內嗎從控制圖中去除該點否是 是否只有 1或 2個點超出控制界限 3個或以上點超出控制界限重新計算控制界限所有點都落在控制界限內嗎平均值 /中位數(shù)受控平均值 /中位數(shù)不在控制范圍消除變異原因收集新數(shù)據(jù)計算新控制界限否是否使用該控制圖進行過程控制 重返標準差 /極差決策圖74/171CECpanda LCD technology過程能力過程滿足顧客要求的能力75/171CECpanda LCD technology?? 情形 1情形 2情形 4情形 3過程控制和工藝能力76/171CECpanda LCD technology過程控制和過程能力過程的四類狀態(tài)：1 23 4過程不受控過程受控不滿足要求滿足要求? 1類過程為理想型 過程沒有特殊原因引起的變異 ,處于受控狀態(tài)且滿足客戶要求? 2類過程受控但普通原因導致的過程變異過大 ,須采取系統(tǒng)改善措施來降低普通原因引起的變異? 3類過程滿足客戶要求 ,但過程存在特殊原因變異 ,此原因不消除 ,過程可能隨時不滿足要求 ,需要識別引起過程變異的特殊原因并消除之? 4類過程其既存在明顯的特殊原因 ,又可能存在較多的普通原因 ,先確定消除特殊原因 ,如過程轉變?yōu)?2類 ,則按 2類方法處理 .77/171CECpanda LCD technology過程控制和過程能力過程能力指數(shù)：CP/ZST: 短期能力指數(shù)即不考慮過程偏移時的工序能力 ,目的是判斷過程在某個時間段的 固有能力CPk/ZLT:長期能力指數(shù)即考慮過程偏移時的工序能力 ,目的是判斷過程持續(xù)滿足要求的 實際能力過程能力計算分析的前提：1） 過程穩(wěn)定受控2） 過程測量數(shù)據(jù)服從正態(tài)分布3) 測量系統(tǒng)誤差處于可接受范圍4) 過程規(guī)范準確反映了客戶要求過程能力：即一個過程滿足要求的能力，也可以理解為過程生產(chǎn)合格品的能力。σR/d2^σR/d2^σR/d2^它等于過程均值與最近的規(guī)范之差除以過程固有偏差的3σ范圍 . CPK=Min[CPU， CPL] CR： CR是 CP的倒數(shù)， CR=： 隨著時間推移，任一工序的分布中心會在 “規(guī)格中心 177。84/171CECpanda LCD technology計量值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析? 過程能力的度量指數(shù)? ZUSL為上限過程能力 ,定義為規(guī)格上限與平均值之差除以過程固有偏差的 σ范圍 .? USL=規(guī)格上界限? Xbar=所有樣本的本均值 R=子組內數(shù)據(jù)極差的平均值 d2=常數(shù) ,如下表 ,n為子組樣本容量=過程固有偏差即 ZUSL=3CPUZUSL= USLXbarσR/d2^85/171CECpanda LCD technology計量值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析? 過程能力的度量指數(shù)? ZLSL為下限過程能力 ,定義為規(guī)格上限與平均值之差除以過程固有偏差的 σ范圍 .? LSL=規(guī)格下界限? Xbar=所有樣本的本均值 R=子組內數(shù)據(jù)極差的平均值 d2=常數(shù) ,如下表 ,n為子組樣本容量=過程固有偏差即 ZLSL=3CPLσR/d2^86/171CECpanda LCD technology計量值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析? 過程能力的度量指數(shù)? ZMin過程能力 ,是 ZUSL和 ZLSL中的最小值。=nXixni計量值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析? 過程能力的度量指數(shù)? PP為性能指數(shù) ,定義為不考慮過程偏移時 ,公差寬度除以過程總偏差的 6σ范圍 .? USL=規(guī)格上界限?