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2025-03-27 02:26本頁(yè)面
【正文】 25筆資料之管制圖分佈 ？ 33 課程教育訓(xùn)練 SPC Radiant Opto – Electronics(Suzhou)Co.,Ltd N A2 D3 D4 d2 A3 B3 B4 C4 m3A2 E2 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 34 課程教育訓(xùn)練 SPC Radiant Opto – Electronics(Suzhou)Co.,Ltd σ和 R 管制圖均需配合 X 管制圖 ，用以管制生產(chǎn)過(guò)程的變異程度 。近年來(lái)由於電腦普及化，更因 標(biāo)準(zhǔn)差 對(duì)過(guò)程品質(zhì)變異的推定更為精確 且在樣本很大或其大小不相等時(shí)， σ管制圖更好且更具彈性 。 當(dāng) n 小於或等於 10 時(shí)，既可使用 R 管制圖，亦可使用σ管制圖， 若為方便計(jì)算，則以採(cǎi)用 R 管制圖為宜 。 5105205305401 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16UCLCLL C L49 課程教育訓(xùn)練 SPC Radiant Opto – Electronics(Suzhou)Co.,Ltd SPC統(tǒng)計(jì)製程管制入門(mén) 異常管制圖之判識(shí)乃是根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的原理，去判定樣本統(tǒng)計(jì)量點(diǎn)的分佈是否合乎常態(tài)分配的特性，當(dāng)發(fā)現(xiàn)樣本點(diǎn)的分佈不呈常態(tài)特性，或有點(diǎn)落在管制界限外時(shí)，即判定製程有非機(jī)遇之變異原因發(fā)生，宜尋找出原因之所在，並想辦法消除之 。 連續(xù) 6點(diǎn) …… 開(kāi)始調(diào)查其原因。因統(tǒng)計(jì)量點(diǎn)出現(xiàn)在中心線任一方 之機(jī)率為 ，連續(xù) 7點(diǎn)出現(xiàn)在同一方的機(jī)率只有 %，機(jī)會(huì)甚少，必有非機(jī)遇原因。 連續(xù) 6點(diǎn) …… 開(kāi)始檢查。 5105205305401 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16UCLCLL C L52 課程教育訓(xùn)練 SPC Radiant Opto – Electronics(Suzhou)Co.,Ltd SPC統(tǒng)計(jì)製程管制入門(mén) 14點(diǎn)一上一下猶如盪鞦韆般： 僅適用於 Xbar管制圖，其機(jī)率只有 % 5105205305401 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16UCLCLL C L53 課程教育訓(xùn)練 SPC Radiant Opto – Electronics(Suzhou)Co.,Ltd SPC統(tǒng)計(jì)製程管制入門(mén) 3點(diǎn)有 2點(diǎn)在 A區(qū)域或其外： 僅適用於 Xbar管制圖，其機(jī)率只有 % UCLCLL C L5155351 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 161 σ2 σ1 σ3 σ3 σ2 σA ( 2 . 1 4 % )B ( 1 3 . 5 9 % )B ( 1 3 . 5 9 % )C ( 3 4 . 1 4 % )C ( 3 4 . 1 4 % )A ( 2 . 1 4 % )UCLCLL C L5155351 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16ABBCCA54 課程教育訓(xùn)練 SPC Radiant Opto – Electronics(Suzhou)Co.,Ltd SPC統(tǒng)計(jì)製程管制入門(mén) 5點(diǎn)有 4點(diǎn)在 B區(qū)域或其外： 僅適用於 Xbar管制圖，其機(jī)率只有 % UCLCLL C L5155351 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16ABBCCA55 課程教育訓(xùn)練 SPC Radiant Opto – Electronics(Suzhou)Co.,Ltd SPC統(tǒng)計(jì)製程管制入門(mén) 15點(diǎn)
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