第八講集成電路可測(cè)性原理與設(shè)計(jì)-在線瀏覽
2024-08-30 23:08本頁(yè)面
【正文】 正確值 2022/8/17 浙大微電子 15/26 測(cè)試向量集及其提取 進(jìn)一步分析還可發(fā)現(xiàn) , 要診斷上述電路中所有的Sa1故障和 Sa0故障 , 并不需要對(duì)全部的 8個(gè)輸入向量進(jìn)行測(cè)試 , 而只需其中的 6個(gè)就夠了： ? (0 0 0), 可測(cè) P0， D1。 ? (0 1 0 ), 可測(cè) A1， P0， D1。 ? (1 1 1 ), 可測(cè) C0， D1。 在上述實(shí)例中 , 共有 10個(gè)可能故障 , 因此 ? T(000, 001, 010, 100, 110, 111)能夠檢測(cè)出這所有的 10個(gè)故障 , 因此其故障覆蓋率為 100%。 ? T2(110 )的故障覆蓋率為 50%, 雖然它不能給等價(jià)故障 A0， B0， C1， P1， D0精確定位。 共 6個(gè) (3個(gè)組合電路、三個(gè)時(shí)序電路 )： ? CC0(X) 表示組合電路中 X 結(jié)點(diǎn) Sa0故障的 可控制性 。 ? CO(X) 表示組合電路中 X 結(jié)點(diǎn)故障的 可觀察性 。 ? SC1(X) 表示時(shí)序電路中 X 結(jié)點(diǎn) Sa1故障的可控制性。 2022/8/17 浙大微電子 18/26 某結(jié)點(diǎn)某故障的可控制性 ? 可控制性： –人為地將某結(jié)點(diǎn)設(shè)置為某故障的難易程度 ? 對(duì)于原始輸入端 I和原始輸出端 O, 一般有如下約定： – CC0( I ) = CC1( I ) = 1（組合電路的可控制性） – SC0( I ) = SC1( I ) = 0（時(shí)序電路的可控制性） – CO(O) = SO(O) = 0（組合與時(shí)序電路的可觀察性） 值越小表示越易觀察或控制 2022/8/17 浙大微電子 19/26 “與非”門(mén)測(cè)試因子的計(jì)算 Y = CC1(Y) = min[ CC0(X1), CC0(X2) ] + 1 CC0(Y) = CC1(X1) + CC1(X2) + 1 CO(X1) = CC1(X2) + CO(Y) + 1 CO(X2) = CC1(X1) + CO(Y) + 1 SC1(Y) = min[ SC0(X1), SC0(X2) ] SC0(Y) = SC1(X1) + SC1(X2) SO(X1) = SC1(X2) + SO(Y) SO(X2) = SC1(X1) + SO(Y) 2X1X2022/8/17 浙大微電子 20/26 Y = CC1(Y) = CC0(X1) + CC0(X2) + 1 CC0(Y) = min[ CC1(X1),
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